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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測試測量

1987年，NI在日本東京成立首家海外分公司

  • 　　1987年，NI在日本東京成立海外分公司，這是NI在美國以外成立的第一家分公司。
  • 關(guān)鍵字： NI  測試測量  

1987年，比爾.休利特退休并辭去惠普董事會(huì )副主席職務(wù)

  • 　　1987年，比爾.休利特退休并辭去董事會(huì )副主席職務(wù)。
  • 關(guān)鍵字： HP  測試測量  

1985年，惠普在中國成立合資高科技公司

  • 　　1985年，惠普在中國成立合資高科技公司。
  • 關(guān)鍵字： Agilent  測試測量  

1981年，惠普在中國建立代表處

  • 　　1981年，惠普在中國建立代表處。
  • 關(guān)鍵字： Agilent  測試測量  

1979年，惠普開(kāi)發(fā)的石英毛細柱簡(jiǎn)化了化學(xué)分析過(guò)程

  • 　　1979年，惠普開(kāi)發(fā)的石英毛細柱簡(jiǎn)化了化學(xué)分析過(guò)程，使之可以分析更多種化合物。
  • 關(guān)鍵字： HP  測試測量  化學(xué)分析  

1979年，安捷倫推出用于化學(xué)分析的二極管陣列檢測器

  • 　　1979年，新推出的用于化學(xué)分析的二極管陣列檢測器能迅速地同時(shí)測量多波長(cháng)光線(xiàn)。
  • 關(guān)鍵字： 安捷倫  測試測量  二極管陣列檢測器  

1977年，約翰.楊出任惠普公司總裁

  • 　　1977年，約翰.楊出任惠普公司總裁(1978年出任首席執行官)。
  • 關(guān)鍵字： HP  測試測量  

1977年，惠普創(chuàng )始人Bill Hewlett和Dave Packard訪(fǎng)華與中國高層領(lǐng)導人建立了聯(lián)系

  • 　　1977年，惠普創(chuàng )始人Bill Hewlett和Dave Packard訪(fǎng)華與中國高層領(lǐng)導人建立了聯(lián)系
  • 關(guān)鍵字： Agilent  測試測量  

1946年，美國吉時(shí)利儀器公司誕生

  • 　　吉時(shí)利儀器公司由JosephF.Keithley創(chuàng )立于1946年在美國俄亥俄州克里夫蘭市的一家小工廠(chǎng)中。吉時(shí)利公司一直引領(lǐng)工業(yè)界并為工程師和科學(xué)家們提供電子測試、測量和數據采集方案上進(jìn)行革新和發(fā)展。Keithley先生領(lǐng)導的吉時(shí)利公司和經(jīng)驗豐富的工程師為測試和測量工業(yè)做出了巨大的貢獻，獲得過(guò)眾多的獎項，產(chǎn)品被公認為具備高質(zhì)量、高可靠性和出色的技術(shù)革新能力。
  • 關(guān)鍵字： Keithley  測試測量  
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測試測量介紹

電子測試測量?jì)x器：示波器（數字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調頻調幅、音頻、射頻）、頻率計、電源、臺式萬(wàn)用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐 　　表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀…… 　　通信測試測量?jì)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機、光萬(wàn)用表、光源、光電話(huà)、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無(wú)線(xiàn)電綜合測試儀、數字電纜分析測試 　　儀、電纜故障測 [ 查看詳細 ]

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