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榨汁機啟動(dòng)電流測試方案

  • 榨汁機電機在啟動(dòng)和換擋時(shí)的啟動(dòng)電流和啟動(dòng)時(shí)間是要測試的一項重要的參數，一是檢測設備的設計、制造、安裝的相符性；二是為以后的生產(chǎn)、運行、維修記錄下參考數據。傳統的方法是測出電機啟動(dòng)時(shí)的最大值作為啟動(dòng)電流
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基于B2912A的有機太陽(yáng)能電池測試方案

  • 隨著(zhù)能源和環(huán)境問(wèn)題的日趨嚴重，各種清潔能源的開(kāi)發(fā)應用日益得到重視，在這其中太陽(yáng)能的利用是解決能源短缺和環(huán)境污染的最重要的途徑之一，而太陽(yáng)能電池則是太陽(yáng)能利用的一個(gè)非常重要的方面。當前應用和開(kāi)發(fā)的太陽(yáng)能
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100G部署提速需完備測試支持

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò )家園
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基于安捷倫CXA信號分析儀的EMI預兼容測試方案

  • 概述　　越來(lái)越多的電子制造公司認識到頻繁地進(jìn)行電磁兼容（EMC）/ 電磁干擾（EMI ）檢測，整改，已經(jīng)成為了降低產(chǎn)品研 ...
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衛星導航產(chǎn)品(GPS)測試方案詳解

  • 一、序論計算機互聯(lián)網(wǎng)、無(wú)線(xiàn)通訊、衛星導航被稱(chēng)為信息社會(huì )的三大支柱產(chǎn)業(yè)。據分析，到2030年前，一直都是衛星導航產(chǎn)品的高速發(fā)展期。隨著(zhù)科技的不斷進(jìn)步，衛星導航產(chǎn)品被用到了人們生活的方方面面：測繪、物流、監控
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可加快LTE/WiMAX設備開(kāi)發(fā)的數字無(wú)線(xiàn)測試方案

  • DigRF V4是移動(dòng)基帶和射頻芯片之間的一種高速數字串行總線(xiàn)，也是LTE和WiMAX的關(guān)鍵技術(shù)。隨著(zhù)基帶芯片和射頻芯片之間的通信鏈路從模擬向高速串行數字技術(shù)演變，DigRF標準對移動(dòng)無(wú)線(xiàn)系統的開(kāi)發(fā)、集成和驗證提出了哪些新
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片上芯片SoC挑戰傳統測試方案

  • SoC廠(chǎng)商如何在提高復雜器件傳輸速度的同時(shí)降低測試成本?隨著(zhù)先進(jìn)的集成電路(IC)設計方法和高密度生產(chǎn)技術(shù)的使用，半導體廠(chǎng)商能夠把不同的數字和模擬電路集成在極小芯片上，其尺寸之小、功能之全尚無(wú)先例，我們稱(chēng)之為
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OTDR PON測試方案介紹

  • 利用高質(zhì)量 OTDR 以及軟件工具向用戶(hù)提供的可靠信息，可以高度簡(jiǎn)化 OTDR 測試和對結果的解釋。為了幫助闡明用于 PON 網(wǎng)絡(luò )驗證和故障診斷的 OTDR 測試方法，本文將介紹相對于普通 OTDR 而言，PON 優(yōu)化型 OTDR 在使用
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FPGA測試方案隨需而變

  • 大容量、高速率和低功耗已成為FPGA的發(fā)展重點(diǎn)。嵌入式邏輯分析工具無(wú)法滿(mǎn)足通用性要求，外部測試工具可以把FPGA內部信號與實(shí)際電路聯(lián)合起來(lái)觀(guān)察系統真實(shí)運行情況。隨著(zhù)FPGA技術(shù)的發(fā)展，大容量、高速率和低功耗已經(jīng)成
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Agilent LVDS傳輸系統測試方案

  • LVDS是低壓差分信號的簡(jiǎn)稱(chēng)，由于其優(yōu)異的高速信號傳輸性能，目前在高速數據傳輸領(lǐng)域得到了越來(lái)越多的應用。其典型架構如下：一般LVDS的傳輸系統由FPGA加上LVDS的Serdes芯片組成， LVDS的Serializer芯片把FPGA的多路并
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數據中心的整體測試方案

  • 1 引言數據中心(Data Center)集中為各種企業(yè)業(yè)務(wù)提供數據，實(shí)現了IT系統整合和集中管理。這也導致數據中心規模越來(lái)越大，復雜度越來(lái)越高。為了建設集中扁平化，統一多種應用的融合數據中心，未來(lái)數據中心建設將圍繞融
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基于LabVIEW的航天執行器的軟硬件測試方案

  • The Challenge:　　開(kāi)發(fā)基于PC機的壽命測試系統來(lái)替換傳統的基于人工的系統，用于航天執行器的壽命測試?！　he Solution:　　借助于NI LabVIEW軟件，使用PCI數據采集硬件進(jìn)行壽命仿真，使用NI CompactRIO硬件用于傳
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基于BIST的IP核測試方案

  • 1 引言　　隨著(zhù)半導體工藝的發(fā)展，片上系統SOC已成為當今一種主流技術(shù)?；贗P復用的SOC設計是通過(guò)用戶(hù)自定義邏輯(UDL)和連線(xiàn)將IP核整合為一個(gè)系統，提高了設計效率，加快了設計過(guò)程，縮短了產(chǎn)品上市時(shí)間。但是隨著(zhù)設
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3G接入WLAN測試方案 WLAN測試基本概念

  • 【摘要】介紹了WLAN的基本概念及其測試，并且在此基礎上介紹了羅德與施瓦茨公司的全面測試解決方案。1 引言隨 ...
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思博倫通信針對移動(dòng)終端設計推出新的測試方案

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò )家園
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