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溝槽結構測量
溝槽結構測量 文章 進(jìn)入溝槽結構測量技術(shù)社區
SiC 功率器件中的溝槽結構測量
- 汽車(chē)和清潔能源領(lǐng)域的制造商需要更高效的功率器件,能夠適應更高的電壓,擁有更快的開(kāi)關(guān)速度,并且比傳統硅基功率器件提供更低的損耗,而溝槽結構的 SiC 功率器件可以實(shí)現這一點(diǎn)。但是,雖然基于溝槽的架構可以降低導通電阻并提高載流子遷移率,但它們也帶來(lái)了更高的復雜性。對于 SiC 功率器件制造商來(lái)說(shuō),準確測量外延層生長(cháng)和這些溝槽中注入層深度的能力是相當重要的,特別是在面臨不斷增加的制造復雜性時(shí)。今天我們分享一下來(lái)自Onto Innovation 應用開(kāi)發(fā)總監Nick Keller的文章,來(lái)重點(diǎn)介紹下SiC 功率器
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溝槽結構測量介紹
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