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探針
探針 文章 進(jìn)入探針技術(shù)社區
測試探針國產(chǎn)化，道阻且長(cháng)
- 芯片測試是確保產(chǎn)品良率和成本控制的重要環(huán)節，主要目的是保證芯片在惡劣環(huán)境下能完全實(shí)現設計規格書(shū)所規定的功能及性能指標，以此判斷芯片性能是否符合標準，是否可以進(jìn)入市場(chǎng)。隨著(zhù)產(chǎn)品進(jìn)入高性能 CPU、GPU、NPU、DSP 和 SoC 時(shí)代，芯片內部集成的模塊越來(lái)越多，生產(chǎn)制造過(guò)程中的失效模式也相應增多，芯片測試的重要性凸顯。測試探針就是芯片測試過(guò)程中的重要零部件之一。測試探針通常與測試機、分選機、探針臺配合使用，通過(guò)連接測試機來(lái)檢測芯片的導通、電流、功能和老化情況等性能指標，篩選出存在設計缺陷和制造缺陷的產(chǎn)品
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Pasternack推出擴展至40GHz工作頻率且采用彈簧頂針設計的同軸射頻探針產(chǎn)品線(xiàn)
- 業(yè)界領(lǐng)先的射頻、微波及毫米波產(chǎn)品供應商美國Pasternack公司最近將其射頻同軸探針產(chǎn)品線(xiàn)擴展至40GHz工作頻率范圍，以應用于微波器件、高速通信及網(wǎng)絡(luò )領(lǐng)域?！ U展后的Pasternack同軸射頻探針產(chǎn)品線(xiàn)共包括4種型號，其在直流~40GHz寬頻范圍內的最大回波損耗為10dB。這些探針產(chǎn)品分為GS和GSG兩種構型，間距為800或1500微米，并采用2.92mm接口。此外，此類(lèi)射頻同軸探針均為鍍金探針，采用可在大角度范圍內進(jìn)行探測的兼容彈簧頂針觸點(diǎn)，允許在帶或不帶探針定位器的情形下手動(dòng)使用，并可通過(guò)
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LED醫療應用更進(jìn)一步 科學(xué)家開(kāi)發(fā)超細LED探針
- 在找到治療阿爾茨海默癥的療法之前，科學(xué)家們需要開(kāi)發(fā)出一種能夠讓他們更好地理解大腦神經(jīng)間是如何溝通的方案。而密歇根大學(xué)的研究人員們，最近就朝著(zhù)這個(gè)目標大幅邁進(jìn)了一步，并且開(kāi)發(fā)出了當前最小的腦植入式LED探針。在光遺傳學(xué)領(lǐng)域，植入光纖被用于刺激大腦細胞(讓其暴露于光脈沖下)，而第二個(gè)設備則會(huì )記錄下一步的反應。 密歇根大學(xué)的科學(xué)家們表示，這樣的設置其實(shí)不能記錄神經(jīng)元見(jiàn)相互溝通的方式，但是他們的新型探針卻可以。 每根探針的寬度都小于0.1mm
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熱線(xiàn)測速計敏感元件的基本構造
- 1．熱線(xiàn)探針熱線(xiàn)探針的簡(jiǎn)單模型如圖所示．細長(cháng)的金屬絲垂直于氣流方向安置，兩端固定在相對粗大的支架上，金屬絲由...
- 關(guān)鍵字： 熱線(xiàn)測速計 敏感元件 探針
安捷倫科技與海力士半導體公司聯(lián)合推出用于驗證 DDR、GDDR 存儲器的長(cháng)線(xiàn) ZIF 探針
- 安捷倫科技公司宣布：安捷倫與全球領(lǐng)先的半導體存儲器產(chǎn)品供應商――海力士半導體公司（Hynix Semiconductor Inc.）攜手推出一款高帶寬、高性能的長(cháng)線(xiàn) ZIF（零插入力）探針，該探針經(jīng)過(guò)優(yōu)化，適用于 DDR（雙數據速率）和 GDDR（圖形雙數據速率）SDRAM 的驗證測試。當距離探測信號較遠時(shí)，長(cháng)線(xiàn) ZIF 探針使工程師能夠對高速信號進(jìn)行精確的測量。這些探針與安捷倫屢獲殊榮的 InfiniiMax 和 ZIF 探測系統結合使用，可提高每個(gè)焊接件的可用性并降低測試成本。
- 關(guān)鍵字： 安捷倫，海力士半導體，ZIF 探針
探針介紹
測試針，用于測試PCBA的一種探針。 表面鍍金，內部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧?！ √结樃鶕娮訙y試用途可分為： A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開(kāi)路、短路檢測探針，國內大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品； B、在線(xiàn)測試探針：PCB線(xiàn)路板安裝元器件后的檢測探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品； C、 [ 查看詳細 ]
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