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干擾電路
干擾電路 文章 進(jìn)入干擾電路技術(shù)社區
基于CPLD的數字濾波抗干擾電路設計
- 引言 紅外密集度光電立靶測試系統是一種用于測量低伸彈道武器射擊密集度的新型的測試系統，它既可用于金屬彈丸的測試，又可測試非金屬彈丸，具有反映靈敏、精度高而穩定、操作簡(jiǎn)單、容易維護等優(yōu)點(diǎn)，已被許多靶場(chǎng)投入使用。 光電靶的基本原理是：當光幕內的光通量發(fā)生足夠大的變化時(shí)，光電傳感器會(huì )響應這種變化而產(chǎn)生電信號。這就是說(shuō)，一些非彈丸物體在穿過(guò)光幕時(shí)也會(huì )使光幕內的光通量發(fā)生變化以使光電傳感器產(chǎn)生電信號。從原理上講。這種現象并非異常，而從測試來(lái)講，則屬于干擾。在具體靶場(chǎng)測試中，當干擾嚴重時(shí)，可能會(huì )導致測試無(wú)法進(jìn)行
- 關(guān)鍵字： CPLD 單片機 干擾電路 嵌入式系統 數字濾波 邏輯電路
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干擾電路介紹
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