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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 存儲測試

基于FPGA軟核的參數可變的壓力測試系統設計

  • 在爆炸場(chǎng)壓力測試中，沖擊波超壓峰值隨著(zhù)彈藥的當量和到爆心距離的變化十分顯著(zhù)。傳統測試系統的測試參數難以更改，靈活性差，往往需要重新設計電路以滿(mǎn)足不同測試要求。為了提高測試系統的靈活性及電路復用性，設計了基于可配置FPGA軟核的測試系統。通過(guò)調用并修改可移植軟核，以實(shí)現系統的快速設計，通過(guò)靈活設置測試參數完成不同測試任務(wù)。對系統準確性進(jìn)行了驗證，應用到靜爆試驗中，有效獲得了壓力數據。
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存儲測試系統的USB接口設計

  • 摘要：針對存儲測試系統的高速數據傳輸需求，設計了以單片機和FT245R為核心器件的USB接口電路，替代了傳統的并行／串行接口。設計的USB接口支持USB 2．0協(xié)議，具有體積小、通用性好、操作簡(jiǎn)單、使用方便等特點(diǎn)，數據
  • 關(guān)鍵字： USB  存儲測試  系統  接口設計    

基于FPGA的存儲測試系統

  • 針對某些特殊的測試試驗要求測試系統高性能、微體積、低功耗，在存儲測試理論基礎上，進(jìn)行了動(dòng)態(tài)存儲測試系...
  • 關(guān)鍵字： FPGA  存儲測試  采樣頻率  

基于FPGA的存儲測試系統的設計

  • 摘要：針對某些特殊的測試試驗要求測試系統高性能、微體積、低功耗，在存儲測試理論基礎上，進(jìn)行了動(dòng)態(tài)存儲測試系統的FPGA設計。介紹了該系統的組成，對控制模塊進(jìn)行了詳細設計。針對測試環(huán)境的多樣性設計了采樣策略
  • 關(guān)鍵字： FPGA  存儲測試  系統    

基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲測試系統設計

  • 摘要：提出一種基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲測試系統設計方案，詳細介紹系統硬件設計以及CPLD內部控制原理，并對CPLD控制電路仿真。該系統體積小、功耗低，能夠實(shí)時(shí)記錄多次重觸發(fā)信號，每次信號記錄均有負延遲，讀取出
  • 關(guān)鍵字： CPLD  觸發(fā)  存儲測試  系統設計    
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存儲測試介紹

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