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一款USBkey用MCU電路早期失效問(wèn)題初探
- 1 問(wèn)題的提出 我公司生產(chǎn)的USBkey產(chǎn)品所使用的MCU電路，自2007年9月初USBkey產(chǎn)品開(kāi)始量產(chǎn)化后，我們對其部分產(chǎn)品做了電老化試驗，發(fā)現該款電路早期失效問(wèn)題達不到我們要求，上電以后一段時(shí)間內失效率為千分之一點(diǎn)五左右。為此，我們從去年10月到今年2月對所生產(chǎn)的產(chǎn)品(已發(fā)出的除外)全部進(jìn)行了電老化篩選，通過(guò)這項工作發(fā)現了一些規律性的東西，對提高電子產(chǎn)品的安全可靠性有一定指導意義。 2 試驗條件的設定 造成電路早期失效的原因很多，從IC設計到半導體生產(chǎn)工藝、電路封裝、焊接裝配等
- 關(guān)鍵字： MCU IC設計 失效 集成電路
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