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吉時(shí)利(keithley)
吉時(shí)利(keithley) 文章 進(jìn)入吉時(shí)利(keithley)技術(shù)社區
吉時(shí)利發(fā)布用于65nm及更小尺寸技術(shù)的半導體可靠性測試系統
- 吉時(shí)利 (Keithley) 儀器公司是為不斷增長(cháng)的測量需求提供解決方案的領(lǐng)導者，發(fā)布了新的S510半導體可靠性測試系統，是高通道測量的完整方案，用于全世界最先進(jìn)65nm節點(diǎn)及更小尺寸的ULSI CMOS過(guò)程工藝的可靠性測試和壽命。它提供了晶圓級可靠性(WLR)測試的高吞吐速率和高度的靈活性。減少評估可靠性和完成壽命建模的時(shí)間，從而減少項目的技術(shù)研發(fā)和工藝過(guò)程開(kāi)發(fā)的耗時(shí)，縮短產(chǎn)品進(jìn)入市場(chǎng)的時(shí)間。S510系統也可用于產(chǎn)品生產(chǎn)的WLR監測或作為實(shí)驗室的參數測試系統。 Keithl
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高性能納伏表消除偏移、漂移和噪聲
- 高性能納伏表消除偏移、漂移和噪聲可靠測量數十億分之幾伏電壓，這對于生產(chǎn)高質(zhì)量的尖端半導體器件是至關(guān)重要的。不過(guò)，獲得可重復的可信結果一直是個(gè)大難題。您想測量的數量通常是偏移電壓的一小部分，而簡(jiǎn)單地倒換測試引腳和取測量結果的平均值通常都不管用。偏移保持恒定的時(shí)間太短，而且偏移不斷變化和漂移?！ eithley 公司用2182A 納伏表nanovoltmeter解決了這個(gè)問(wèn)題（見(jiàn)圖片）。事實(shí)上，該儀器不僅能自動(dòng)進(jìn)行引線(xiàn)倒換，而且還能跟蹤偏移電壓的變化，并減掉恰當的數量。根據 Keithley 公司的說(shuō)法，所
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吉時(shí)利發(fā)布《交互式測試與測量故障診斷指南》CD
- 美國俄亥俄州克里夫蘭市近日報導——吉時(shí)利 (Keithley) 儀器公司,為不斷增長(cháng)的測量需求提供解決方案，發(fā)布了《交互式測試與測量故障診斷指南：如何避免常見(jiàn)的測量誤差》CD。本CD讓用戶(hù)了解低電平測量中常見(jiàn)誤差的特征和來(lái)源，低電平測量主要有低電壓測量、低電流測量、低電阻測量、高電阻測量和高源內阻電壓測量等。索取免費CD請訪(fǎng)問(wèn)http://www.keithley.cn/pr/018 . 這張CD，匯集了許多微弱信號測量的技術(shù)內容，用戶(hù)點(diǎn)擊上述五種常見(jiàn)測量中的任意一種，就可進(jìn)入到更詳細的介紹頁(yè)面，包括這種
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吉時(shí)利發(fā)布USB-GPIB接口適配器
- 吉時(shí)利發(fā)布USB-GPIB接口適配器 吉時(shí)利 (Keithley) 儀器正式發(fā)布了KUSB-488型USB-GPIB接口適配器。KUSB-488型接口適配器可將任何帶有USB端口的計算機轉變成全功能的IEEE 488.2控制器，該控制器可控制多達14臺可編程GPIB儀器?！ ∵@種小型輕便的KUSB-488型接口適配器適用于膝上型計算機的便攜式應用或臺式機的應用，因為某些計算機中，其I/O插槽很少或根本沒(méi)有，而USB端口卻會(huì )有幾個(gè)。KUSB-488型接口適配器適用于帶有USB端口、安裝Windows 20
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吉時(shí)利發(fā)布用于納米研究的免費測量軟件
- 吉時(shí)利儀器公司開(kāi)發(fā)的一套納米技術(shù)工具包，包括了多個(gè)圖標。是一套專(zhuān)門(mén)設計用于納米技術(shù)研究常見(jiàn)測試的測量軟件工具，可以幫助納米技術(shù)研究人員進(jìn)行與納米技術(shù)相關(guān)的精確而且通常十分復雜的電氣測量。該納米技術(shù)工具包及其軟件程序為免費供應，且可以兼容吉時(shí)利的4200-SCS型半導體特性系統。www.keithley.com
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Keithley多通道源測量測試卡適用于4500-MTS多通道I-V測試系統
- Keithley(吉時(shí)利)儀器公司推出適用于4500-MTS多通道I-V測試系統的兩款全新的多通道源－測量測試卡4510或4511 Quad I-V。新產(chǎn)品每通道都可以提供一個(gè)高功率電流源子通道、一個(gè)低功率電壓源子通道、以及一個(gè)用于讀取DUT對源激勵反應的5-1/2位ADC。其中4510型卡具有
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Keithley推出KTEI 5.0軟件
- 吉時(shí)利儀器公司(Keithley)發(fā)布基于4200-SCS型半導體特性系統的KTEI 5.0軟件。該軟件簡(jiǎn)化了對設備的電流-電壓測量，如晶體管、電阻以及多達8條獨立通道上的電學(xué)測試。除了對核心性能的增強，KTEI5.0還增加了stress能力，可以進(jìn)行一系列可靠性測試。www.keithley.com.cn
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吉時(shí)利公司發(fā)布2790-A低成本測試方案
- 吉時(shí)利(Keithley)儀器公司宣布推出其2790-A型源表安全氣囊充氣機直流電氣測試系統--2790系列源表。該新品測量范圍涵蓋1MW~10GW，在一個(gè)緊湊的高性?xún)r(jià)比的儀器上提供了進(jìn)行絕緣電阻和導通電阻連續性測試所需要的全部電源、測量、以及信號通道性能。從而為安全氣囊、電纜、線(xiàn)束、連接器以及其它元器件提供了一個(gè)功能擴展、成本降低的測試方案。www.keithley.com.cn
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吉時(shí)利發(fā)布新的精密DC和AC/DC電流源
- 電子測量?jì)x器和系統廠(chǎng)商吉時(shí)利儀器公司，近期推出多種新產(chǎn)品，包括6221型交流和直流精密電流源、6220型直流電流源等。 交流電流源和電流任意波形發(fā)生器 6221型電流源成為業(yè)界第一套可提供AC電流源的正式產(chǎn)品。迄今為止，科研人員和工程技術(shù)人員不得已只能使用自制的AC電流源?，F在不同了，6221型電流源提供更好的準確度、穩定度、可靠性、堅固耐用而又經(jīng)濟合算的新選擇。對產(chǎn)生和輸出復雜電流波形的應用，6221更是成為市場(chǎng)上唯一的商用正式產(chǎn)品，其脈沖寬度可編程設置，最短可達5微秒，支持脈沖式I-V
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Keithley2800射頻功率分析儀擴展到測量GSM發(fā)射器調制特性
- 日前，吉時(shí)利儀器公司其2800射頻功率分析儀增加了對GSM發(fā)射器調制特性的測量功能。比較射頻功率及發(fā)射器調制特性測量的高端頻譜分析儀和通信綜測儀，具有此功能的2800射頻功率分析儀產(chǎn)能更高，成本更低，性能更加卓越。 吉時(shí)利2800系列為手機生產(chǎn)廠(chǎng)商提供靈活，價(jià)格經(jīng)濟，容易使用的解決方案，它幫助提高手機，RFIC功率放大器和相關(guān)的RF功率器件的射頻測試的產(chǎn)能。因為新的GSM發(fā)射器調制特性功能的增加，2800功率分析儀能測量手機發(fā)射或RFIC發(fā)射模塊是否符合GSM標準。在一臺設備中，2800既能用于
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全新測試卡擴展了4500-MTS多通道I-V測試系統的功能并降低測試成本
- Keithley儀器公司（NYSE: KEI）日前宣布，推出適用于4500-MTS多通道I-V測試系統的兩款全新的多通道源－測量測試卡，這兩款新品的操作量程都得到了擴展。對于4500-MTS PCI主機9個(gè)插槽中的任何一個(gè)，每一個(gè)4510-及4511-QIVC（Quad I-V卡）都可以提供4個(gè)源－測量通道，因此一共可以實(shí)現多達36個(gè)I-V測量通道。4500-MTS及其Quad I-V卡可以在很短的時(shí)間內完成這些測量，而且成本僅為同樣的分立儀器系統的很小一部分。4500-MTS用于多頭（多DUT）生產(chǎn)測試
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吉時(shí)利宣布新系統在200毫米晶片的測試時(shí)間內完成對300毫米的晶片測試
- 吉時(shí)利儀器公司（紐約證交所：KEI）宣布推出其S600系列的最新產(chǎn)品S680DC/R半導體參數測試系統。全新的SimulTest并行測試軟件（專(zhuān)利尚在申請中）可以在一次探針接觸中對多達9個(gè)器件進(jìn)行同步測量，使用這個(gè)軟件該系統可以在200毫米晶片的測試時(shí)間內完成對300毫米的晶片工藝進(jìn)行測試。為了使并行程序設計更加簡(jiǎn)便，改進(jìn)的SMU增加了更加快捷、更加靈活的數字通訊，處理能力也進(jìn)一步得到了增強。這些SMU不僅保持了早前器件的超低電流和高功率的性能，還具備了與S600系列測試系統一致的測量功能。增強的Adap
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