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一種數字IC測試系統的設計
作者：西安交通大學(xué) 廉海濤 張克農 王紅雨 趙云鵬 常羽飛
時(shí)間：2004-07-21
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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摘 要： 給出一種數字集成電路(IC)測試系統的軟硬件設計方案。該系統基于自定義總線(xiàn)結構，可測試寬范圍電平。
關(guān)鍵詞： 數字集成電路測試；功能測試
隨著(zhù)數字集成電路IC的廣泛應用，測試系統就顯得越來(lái)越重要。在網(wǎng)絡(luò )化IC可靠性試驗及測試系統項目中，需要檢驗某些具有寬電平范圍的軍用數字IC芯片，而市場(chǎng)上常見(jiàn)的中小型測試系統可測電平范圍達不到要求，而大型測試系統價(jià)格昂貴。本文介紹了為此項目研制的一種數字IC測試系統，可測電平范圍達
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