MCU引腳輸出模式中推挽輸出與開(kāi)漏輸出電路原理區別
開(kāi)漏輸出:輸出端相當于三極管的集電極. 要得到高電平狀態(tài)需要上拉電阻才行. 適合于做電流型的驅動(dòng),其吸收電流的能力相對強(一般20ma以?xún)?.
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/282173.htm推挽結構一般是指兩個(gè)三極管分別受兩互補信號的控制,總是在一個(gè)三極管導通的時(shí)候另一個(gè)截止.
我們先來(lái)說(shuō)說(shuō)集電極開(kāi)路輸出的結構。集電極開(kāi)路輸出的結構如圖1所示,右邊的那個(gè)三極管集電極什么都不接,所以叫做集電極開(kāi)路(左邊的三極管為反相之用,使輸入為“0”時(shí),輸出也為“0”)。對于圖1,當左端的輸入為“0”時(shí),前面的三極管截止(即集電極C跟發(fā)射極E之間相當于斷開(kāi)),所以5V電源通過(guò)1K電阻加到右邊的三極管上,右邊的三極管導通(即相當于一個(gè)開(kāi)關(guān)閉合);當左端的輸入為“1”時(shí),前面的三極管導通,而后面的三極管截止(相當于開(kāi)關(guān)斷開(kāi))。

我們將圖1簡(jiǎn)化成圖2的樣子。圖2中的開(kāi)關(guān)受軟件控制,“1”時(shí)斷開(kāi),“0”時(shí)閉合。很明顯可以看出,當開(kāi)關(guān)閉合時(shí),輸出直接接地,所以輸出電平為0。而當開(kāi)關(guān)斷開(kāi)時(shí),則輸出端懸空了,即高阻態(tài)。這時(shí)電平狀態(tài)未知,如果后面一個(gè)電阻負載(即使很輕的負載)到地,那么輸出端的電平就被這個(gè)負載拉到低電平了,所以這個(gè)電路是不能輸出高電平的。
再看圖三。圖三中那個(gè)1K的電阻即是上拉電阻。如果開(kāi)關(guān)閉合,則有電流從1K電阻及開(kāi)關(guān)上流過(guò),但由于開(kāi)關(guān)閉其它三個(gè)口帶內部上拉),當我們要使用輸入功能時(shí),只要將輸出口設置為1即可,這樣就相當于那個(gè)開(kāi)關(guān)斷開(kāi),而對于P0口來(lái)說(shuō),就是高阻態(tài)了。
對于漏極開(kāi)路(OD)輸出,跟集電極開(kāi)路輸出是十分類(lèi)似的。將上面的三極管換成場(chǎng)效應管即可。這樣集電極就變成了漏極,OC就變成了OD,原理分析是一樣的。
另一種輸出結構是推挽輸出。推挽輸出的結構就是把上面的上拉電阻也換成一個(gè)開(kāi)關(guān),當要輸出高電平時(shí),上面的開(kāi)關(guān)通,下面的開(kāi)關(guān)斷;而要輸出低電平時(shí),則剛好相反。比起OC或者OD來(lái)說(shuō),這樣的推挽結構高、低電平驅動(dòng)能力都很強。如果兩個(gè)輸出不同電平的輸出口接在一起的話(huà),就會(huì )產(chǎn)生很大的電流,有可能將輸出口燒壞。而上面說(shuō)的OC或OD輸出則不會(huì )有這樣的情況,因為上拉電阻提供的電流比較小。如果是推挽輸出的要設置為高阻態(tài)時(shí),則兩個(gè)開(kāi)關(guān)必須同時(shí)斷開(kāi)(或者在輸出口上使用一個(gè)傳輸門(mén)),這樣可作為輸入狀態(tài),AVR單片機的一些IO口就是這種結構。
開(kāi)漏電路特點(diǎn)及應用
在電路設計時(shí)我們常常遇到開(kāi)漏(open drain)和開(kāi)集(open collector)的概念。
所謂開(kāi)漏電路概念中提到的“漏”就是指MOSFET的漏極。同理,開(kāi)集電路中的“集”就是指三極管的集電極。開(kāi)漏電路就是指以MOSFET的漏極為輸出的電路。一般的用法是會(huì )在漏極外部的電路添加上拉電阻。完整的開(kāi)漏電路應該由開(kāi)漏器件和開(kāi)漏上拉電阻組成。如圖1所示:

圖1
組成開(kāi)漏形式的電路有以下幾個(gè)特點(diǎn):
1. 利用外部電路的驅動(dòng)能力,減少I(mǎi)C內部的驅動(dòng)(或驅動(dòng)比芯片電源電壓高的負載)。當IC內部MOSFET導通時(shí),驅動(dòng)電流是從外部的VCC流經(jīng)R pull-up ,MOSFET到GND。IC內部?jì)H需很下的柵極驅動(dòng)電流。如圖1。
2. 可以將多個(gè)開(kāi)漏輸出的Pin,連接到一條線(xiàn)上。形成 “與邏輯” 關(guān)系。如圖1,當PIN_A、PIN_B、PIN_C任意一個(gè)變低后,開(kāi)漏線(xiàn)上的邏輯就為0了。這也是I2C,SMBus等總線(xiàn)判斷總線(xiàn)占用狀態(tài)的原理。如果作為輸出必須接上拉電阻。接容性負載時(shí),下降延是芯片內的晶體管,是有源驅動(dòng),速度較快;上升延是無(wú)源的外接電阻,速度慢。如果要求速度高電阻選擇要小,功耗會(huì )大。所以負載電阻的選擇要兼顧功耗和速度。
3. 可以利用改變上拉電源的電壓,改變傳輸電平。如圖2, IC的邏輯電平由電源Vcc1決定,而輸出高電平則由Vcc2(上拉電阻的電源電壓)決定。這樣我們就可以用低電平邏輯控制輸出高電平邏輯了(這樣你就可以進(jìn)行任意電平的轉換)。(例如加上上拉電阻就可以提供TTL/CMOS電平輸出等。)

圖2
4. 開(kāi)漏Pin不連接外部的上拉電阻,則只能輸出低電平(因此對于經(jīng)典的51單片機的P0口而言,要想做輸入輸出功能必須加外部上拉電阻,否則無(wú)法輸出高電平邏輯)。一般來(lái)說(shuō),開(kāi)漏是用來(lái)連接不同電平的器件,匹配電平用的。
5. 標準的開(kāi)漏腳一般只有輸出的能力。添加其它的判斷電路,才能具備雙向輸入、輸出的能力。
6.正常的CMOS輸出級是上、下兩個(gè)管子,把上面的管子去掉就是OPEN-DRAIN了。這種輸出的主要目的有兩個(gè):電平轉換、線(xiàn)與。
7.線(xiàn)與功能主要用于有多個(gè)電路對同一信號進(jìn)行拉低操作的場(chǎng)合,如果本電路不想拉低,就輸出高電平,因為OPEN-DRAIN上面的管子被拿掉,高電平是靠外接的上拉電阻實(shí)現的。(而正常的CMOS輸出級,如果出現一個(gè)輸出為高另外一個(gè)為低時(shí),等于電源短路。)
8.OPEN-DRAIN提供了靈活的輸出方式,但是也有其弱點(diǎn),就是帶來(lái)上升沿的延時(shí)。因為上升沿是通過(guò)外接上拉無(wú)源電阻對負載充電,所以當電阻選擇小時(shí)延時(shí)就小,但功耗大;反之延時(shí)大功耗小。所以如果對延時(shí)有要求,則建議用下降沿輸出。
應用中需注意:
1. 開(kāi)漏和開(kāi)集的原理類(lèi)似,在許多應用中我們利用開(kāi)集電路代替開(kāi)漏電路。例如,某輸入Pin要求由開(kāi)漏電路驅動(dòng)。則我們常見(jiàn)的驅動(dòng)方式是利用一個(gè)三極管組成開(kāi)集電路來(lái)驅動(dòng)它,即方便又節省成本。如圖3。

2. 上拉電阻R pull-up的阻值決定了邏輯電平轉換的沿的速度。阻值越大,速度越低功耗越小。反之亦然。
Push-Pull輸出就是一般所說(shuō)的推挽輸出,在CMOS電路里面應該較CMOS輸出更合適,因為在CMOS里面的push-pull輸出能力不可能做得雙極那么大。輸出能力看IC內部輸出極N管P管的面積。和開(kāi)漏輸出相比,push-pull的高低電平由IC的電源低定,不能簡(jiǎn)單的做邏輯操作等。push-pull是現在CMOS電路里面用得最多的輸出級設計方式。
當然open drain也不是沒(méi)有代價(jià),這就是輸出的驅動(dòng)能力很差。輸出的驅動(dòng)能力很差的說(shuō)法不準確,驅動(dòng)能力取決于IC中的末級晶體管功率。OD只是帶來(lái)上升沿的延時(shí),因為上升沿是通過(guò)外接上拉無(wú)源電阻對負載充電的,當電阻選擇小時(shí)延時(shí)就小、但功耗大,反之延時(shí)大功耗小。OPEN DRAIN提供了靈活的輸出方式,但也是有代價(jià)的,如果對延時(shí)有要求,建議用下降沿輸出。
電阻小延時(shí)小的前提條件是電阻選擇的原則應在末級晶體管功耗允許范圍內,有經(jīng)驗的設計者在使用邏輯芯片時(shí),不會(huì )選擇1歐姆的電阻作為上拉電阻。在脈沖的上升沿電源通過(guò)上拉無(wú)源電阻對負載充電,顯然電阻越小上升時(shí)間越短,在脈沖的下降沿,除了負載通過(guò)有源晶體管放電外,電源也通過(guò)上拉電阻和導通的晶體管對地 形成通路,帶來(lái)的問(wèn)題是芯片的功耗和耗電問(wèn)題。電阻影響上升沿,不影響下降沿。如果使用中不關(guān)心上升沿,上拉電阻就可選擇盡可能的大點(diǎn),以減少對地通路的 電流。如果對上升沿時(shí)間要求較高,電阻大小的選擇應以芯片功耗為參考。
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