是德科技率先發(fā)布適合當代半導體功率器件開(kāi)發(fā)的關(guān)鍵參數表征解決方案

　　是德科技公司日前宣布旗下 B1505A 功率器件分析儀/曲線(xiàn)追蹤儀發(fā)布重要增強，成為業(yè)界首個(gè)支持晶圓上和封裝器件所有關(guān)鍵參數表征的解決方案，能夠提升當代半導體功率器件開(kāi)發(fā)效率。

　　高效可靠的半導體功率器件是迅速發(fā)展的功率電子行業(yè)的基礎，而高效開(kāi)發(fā)器件需要深入表征柵極電荷(Qg)、器件電容(Ciss、Coss 和 Crss)與柵極電阻(Rg)等全新和傳統器件特征，以及晶圓上和封裝器件特征。低溫或高溫等實(shí)際工作條件下的器件表征同樣重要。工程師需要一款滿(mǎn)足上述所有功能需求的解決方案。

　　增強版 B1505A 可以提供工程師需要的全部晶圓上和封裝器件表征功能：自動(dòng)熱測試功能結合熱管理設備能夠覆蓋 -50 ℃ 至 +250 ℃ 的工作溫度范圍，新的測量功能支持自動(dòng)高壓偏置器件電容和柵極電阻測量。并且，工程師可以借助應用低壓和高壓設置的新方法測量柵極電荷曲線(xiàn)，從而精確表征 IGBT 模塊等超高功率器件。

　　全新增強 B1505A 配有靈活的可升級硬件體系結構，能夠滿(mǎn)足器件或工藝工程師幾乎所有的需求。例如， B1505A 體系結構支持多達 5 個(gè)高壓電源監測單元的配置，可以滿(mǎn)足強化 (加強的)可靠性測試要求。

　　B1505A 全新增強非常適合器件和工藝工程師、功率器件制造質(zhì)控(品質(zhì)控制)工程師和半導體功率器件研究人員，能夠幫助他們開(kāi)發(fā)可靠的功率器件，例如 IGBT 和功率 MOSFET，或者新的寬帶隙(去掉)功率器件材料，例如金剛石或氮化鎵。工程師也可以使用 B1505A 檢測進(jìn)廠(chǎng)器件和分析故障。

　　是德科技 Hachioji 半導體測試事業(yè)部總經(jīng)理 Masaki Yamamoto 表示：“可靠性和能效是現代功率器件的核心要求，開(kāi)發(fā)功率器件需要工程師在寬泛的工作條件下深入表征器件，并全面評測器件的柵極電荷、柵極電阻和電容。增強后 B1505A 可以提供豐富的功能，幫助工程師輕松且精確地完成測量任務(wù)，為功率器件測試樹(shù)立新標桿。”

　　Keysight B1505A 采用 Microsoft Windows 7 操作系統，是一款綜合功率器件測量解決方案，低于 pA 至 10 kV/1500 A 的測量范圍支持µΩ 級精確導通電阻測量，10 µs 快速脈沖功能可以實(shí)現全面的功率器件表征。此外，B1505A 配有可擴展的體系結構、易于使用的軟件環(huán)境、下一代曲線(xiàn)追蹤儀和自動(dòng)測試與分析功能，能夠提供無(wú)與倫比的功率器件表征性能和易用性。

　　全新增強同樣適用于是德科技現有 B1505A 產(chǎn)品，并已于 4 月 1 日起接受訂購。B1505A 最終價(jià)格取決于所選配置。

　　如需了解更多關(guān)于全新 B1505A 的信息，請訪(fǎng)問(wèn) www.keysight.com/find/b1505a。查看增強功能的圖片，請訪(fǎng)問(wèn) www.keysight.com/find/B1505A_images。