針對無(wú)線(xiàn)測試的幾種并行測試架構探討

　　II.多DUT測試可提高測試吞吐量

　　盡管近幾年來(lái)設備制造商普遍采用非信令測試來(lái)大幅縮短測試時(shí)間，但 是更復雜的新無(wú)線(xiàn)技術(shù)的出現以及產(chǎn)品周期的不斷縮短進(jìn)一步增加了減少測試時(shí)間和成本的壓力。例如，802.11ac通過(guò)增加新的數據速率、帶寬以及空間流 擴展了802.11n。隨著(zhù)設備制造商將802.11ac應用到產(chǎn)品中，他們不僅需要測試這個(gè)新標準，而且為了保持向后兼容性，還需要繼續測試以前的標 準。

　　此類(lèi)因素顯著(zhù)增加了測試時(shí)間，繼而增加了測試成本。新的解決方案是芯片組供應商、測試廠(chǎng)商以及最終用戶(hù)通過(guò)并行測試多臺 設備來(lái)最大限度提高效率，這一方法也稱(chēng)為“多DUT”測試。通過(guò)利用最新的多DUT測試軟硬件架構，設備制造商可以顯著(zhù)增加他們的生產(chǎn)測試吞吐量而不會(huì )增 加測試成本。這里來(lái)研究和比較各種多DUT測試方案，其中圖2所示的方案是使用一個(gè)VSA+VSG或VST通過(guò)一個(gè)開(kāi)關(guān)矩陣來(lái)測試4個(gè)DUT。

　　圖2：多DUT硬件配置范例

　　這里基于這一測試配置來(lái)討論不同的方法。為了比較這些方法，此處將一個(gè)典型的WLAN測試分成以下幾個(gè)常見(jiàn)的步驟，并規定了它們的相對時(shí)間單位，如表1所示。

　　表1，WLAN測試的常見(jiàn)組成元素

　　這 些步驟中耗時(shí)最長(cháng)的是與待測設備進(jìn)行通信來(lái)實(shí)現正確運行模式所需的時(shí)間。取決于DUT和測試計劃，DUT控制時(shí)間可占總測試時(shí)間的45%~90%。因此， 如果要開(kāi)發(fā)一個(gè)具有最低總測試成本的測試系統，則該系統必須具有低的測試設備成本，同時(shí)使測試設備的待機時(shí)間降到最低。

　　C.串行測試

　　在傳統的測試計劃中，設備通過(guò)一個(gè)由夾具和射頻儀器支持的測試站進(jìn)行串行測試。測試順序與圖3中所示的時(shí)間框圖相似。此類(lèi)測試應用的主要優(yōu)勢是非常易于實(shí)現。然而，這種方法并沒(méi)有利用任何類(lèi)型的軟件或硬件并行機制，從而導致所有DUT啟動(dòng)期間RF儀器均處于待機狀態(tài)。

　　圖3：串行測試時(shí)間框圖

　　D.流水線(xiàn)

　　利用多線(xiàn)程并行軟件架構和外部開(kāi)關(guān)電路，已經(jīng)完成啟動(dòng)的DUT在執行TX和RX測試時(shí)，并行軟件線(xiàn)程可控驅動(dòng)下一個(gè)DUT的啟動(dòng)過(guò)程，從而實(shí)現測試的流水線(xiàn)執行。這種方法減少了儀器的停機時(shí)間，縮短了高達35%的測試時(shí)間，如圖4所示。

　　圖4：流水線(xiàn)測試的時(shí)間框圖

　　E.并行RX測試

　　另一種減少測試時(shí)間的方法是通過(guò)向多個(gè)DUT發(fā)送相同的波形來(lái)同時(shí)執行多個(gè)RX測試。通過(guò)將每個(gè)DUT分配到相應的軟件線(xiàn)程，所有DUT均可同時(shí)啟動(dòng)。使用如圖5所示的技術(shù)，多DUT的測試時(shí)間相比流水線(xiàn)測試可減少25%，相比串行測試設備可減少超過(guò)50%。

　　圖5：并行RX測試時(shí)間框圖