X波段間接式頻率綜合器的設計
3.3 電路布局和電磁兼容設計
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/267446.htm(1)合理的電路布局
通過(guò)詳細地分析、計算各部分電路中的頻率分量分布情況及其電平大小,為設計或采購適當的元器件提供了合理的依據。電路布局設計和結構設計同時(shí)進(jìn)行,并充分考慮了電磁兼容性、可靠性、抗振性、散熱、工藝等方面的問(wèn)題,以使電路設計布局合理,電路和結構達到良好地配合。
(2)優(yōu)質(zhì)電源和良好的電磁兼容設計
在本頻綜器中,各有源電路需要低紋波的直流電源以及相關(guān)的控制信號。對電源/控制接口進(jìn)來(lái)的電源采取良好的濾波措施(π型)、正電源轉換成負電源,以及對各種控制信號進(jìn)行適當的轉換,都是本單元電路的任務(wù)。特別值得一提的是,由于系統只提供正電源,而本頻綜器中的微波開(kāi)關(guān)等電路需要-5V電源才能正常工作,所以必須利用+15V轉換出-5V電源。由于采用的正負電壓轉換器中有一個(gè)頻率為5kHz左右的振蕩電路,其振蕩信號很容易從其輸入、輸出端(尤其是輸入端)串擾到其它電路,造成各路輸出信號近載頻雜散較大,所以必須在正負電源轉換器的輸入、輸出端增加穩壓塊,起到穩壓及隔離5kHz串擾信號的作用。
另外必須在適當的地方增加EMI濾波器以防止各部分之間的信號相互串擾,保證雜波抑制性能。
4 研究結果
該頻綜器一次性通過(guò)了規定的各種環(huán)境試驗,技術(shù)協(xié)議規定的主要技術(shù)指標及測試結果見(jiàn)表1。
表1 主要技術(shù)指標測試結果
其中,LO1在靜態(tài)條件下的相噪測試曲線(xiàn)見(jiàn)圖3,主振信號在靜態(tài)條件下的相噪測試曲線(xiàn)見(jiàn)圖4??梢?jiàn),由于受體積限制,我們沒(méi)有采用較復雜的混頻分頻式鎖相環(huán),產(chǎn)生的捷變頻二本振信號相噪已經(jīng)很低,經(jīng)上變頻后,由于PDRO的相噪比較好,混頻器等環(huán)節對相噪的惡化比較小。根據測試結果來(lái)看,各項指標均滿(mǎn)足要求,特別是采取晶振隔振等措施后,在振動(dòng)條件下三個(gè)軸向的相位噪聲僅惡化10dB(@1kHz)左右,比不采取隔振措施要好許多,體現了我們較高的隔振設計水平[2]。頻綜器實(shí)物圖見(jiàn)圖5。


圖3 靜態(tài)時(shí)一本振信號的相噪測試曲線(xiàn)
圖4 靜態(tài)時(shí)主振信號的相噪測試曲線(xiàn)

5 結束語(yǔ)
基于PLL的頻綜器,由于其潛在的出色性能、相對的簡(jiǎn)單性和低成本而被普遍使用。本文主要介紹了針對惡劣的環(huán)境條件進(jìn)行的技術(shù)攻關(guān),充分發(fā)揮DAS和PLL的優(yōu)點(diǎn),獲得了具有高穩定、低相噪、低雜散和捷變頻等特性的全相參間接式頻綜器,并且全面達到環(huán)境適應性等方面的要求。
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