嵌入式存儲器基于不同存儲單元的設計方案匯總
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在嵌入式系統中，存儲資源是非常寶貴的。一些芯片，尤其是超大規模集成電路和低端微處理器可能僅有很少的板載內存。RAM直接建于芯片內部，因此無(wú)法擴展。嵌入式快閃存儲器是從EPROM和EEPROM發(fā)展而來(lái)的非揮發(fā)性存儲集成電路，其主要特點(diǎn)是工作速度快、單元面積小、集成度高、可靠性好、可重復擦寫(xiě)10萬(wàn)次以上，數據可靠保持超過(guò)10年。本文為大家介紹嵌入式存儲器基于不同存儲單元的設計方案。
本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/265392.htm本文提出了一個(gè)可配置的通用存儲器SystemC模型。該模型采用統一的事務(wù)級接口，和可配置的時(shí)鐘精準的內部控制邏輯以及存儲器構成。通過(guò)一系列的參數配置，該模型能夠幫助設計人員快速實(shí)現系統建模并在存儲器設計和選擇上做出合理判斷。借助其通用性，它還可以幫助保持一致性和減少重復勞動(dòng)。
為新的ASIC/SOC選擇最優(yōu)嵌入式存儲器IP是設計決策的關(guān)鍵。設計師應了解適用于其特定應用程序的最佳存儲器特性的所有關(guān)鍵參數，其尋求的存儲器IP應具有足夠的適應性，可滿(mǎn)足目標SoC的各種需求。
本文研究了如何增加嵌入式存儲交換技術(shù)的可靠性，嵌入式存儲交換技術(shù)使存儲系統可以在存儲陣列內部集成2Gbps交換網(wǎng)絡(luò )連接。嵌入式存儲交換技術(shù)的好處包括更高的可靠性、更好的性能以及在不降低性能的條件下添加硬盤(pán)的能力。
本文對嵌入式存儲器的測試及可測性設計進(jìn)行研究總結，介紹了存儲器直接存取測試、片上微處理器測試、存儲器內建自測試等方法，以及存儲器的幾種測試方法。
基于FLASH介質(zhì)嵌入式存儲方案的設計與實(shí)現
本文設計了一種基于FLASH介質(zhì)嵌入式存儲方案，使用通用模式設計，增強了系統對FLASH設備的兼容性; 使用雙模式文件結構設計，使不同類(lèi)型的數據處理效率同時(shí)達到最優(yōu); 對重要數據采用備份保護，保證不會(huì )因為斷電等異常導致系統的崩潰，增強了系統穩定性; 采用塊交換技術(shù)，節約系統成本; 因此，本文所設計系統非常適合于嵌入式系統的應用。
本文借鑒傳統計算機系統設計中的虛擬存儲技術(shù)，以8051單片機為例提出一種采用頁(yè)面分組和虛擬接口技術(shù)擴展存儲空間的方法。本方法與Keil C編譯器具有良好的兼容性。
本文具體闡述VIM體系結構中影響存儲系統性能的關(guān)鍵部件嵌入式存儲控制器的設計與實(shí)現。 本文實(shí)現的VIM-1嵌入式存儲控制器支持多種讀寫(xiě)模式，具有嚴格的時(shí)序控制，每個(gè)存儲控制器對應單獨的存儲模塊，和VIM的存儲交叉開(kāi)關(guān)接口，使得多個(gè)方存部件可以同時(shí)訪(fǎng)問(wèn)多個(gè)存儲體。
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