是德科技開(kāi)發(fā)應用ENA網(wǎng)絡(luò )分析儀MIPI D-PHY v1.1接口S參數和阻抗測試實(shí)施方法

　　是德科技公司日前宣布，支持發(fā)射機/接收機接口S 參數和阻抗測試的實(shí)施法(MOI)文件現已發(fā)布。實(shí)施法符合MIPI 聯(lián)盟D-PHY 規范版本1.1 要求，配有包含狀態(tài)文件的測試套件(狀態(tài)文件可以簡(jiǎn)化設置和測量)，需使用ENA 系列網(wǎng)絡(luò )分析儀的增強時(shí)域分析選件(E5071C-TDR)。

　　現代移動(dòng)設備需要能夠處理高速數據信號并且接口功耗較低的物理層(PHY)。MIPI D-PHY 是針對CSI 和DSI 等協(xié)議的高頻、極低功率物理層標準。這些協(xié)議可用于連接移動(dòng)設備的攝像頭和顯示屏等器件。要確保符合MIPI D-PHY標準，接口必須在實(shí)際工作條件根據D-PHY 一致性測試套件V1.1 接受測試。

　　是德科技的實(shí)施方法可以為工程師提供測量流程指導，確保測試符合最新MIPI D-PHY 規范的接口S 參數和阻抗測試要求。結合MIPI D-PHY v1.1 實(shí)施方法和狀態(tài)文件，半導體制造商和產(chǎn)品集成商可以借助E5071C-TDR 提升一致性測試效率。

　　是德科技副總裁兼元器件測試事業(yè)部總經(jīng)理Akira Nukiyama表示：“是德科技提供豐富的高速數字應用實(shí)施方法，例如HDMI、USB 和PCI Express 等。最新的MIPI D-PHY v1.1 實(shí)施方法再次論證了是德科技的決心，即努力滿(mǎn)足客戶(hù)的需求，保證為客戶(hù)提供強大的功能，幫助他們應對高速測量挑戰。”

　　應用E5071C-TDR 的MIPI D-PHY v1.1 一致性測試的實(shí)施方法文件現已發(fā)布。