LitePoint發(fā)布IQxstream移動(dòng)測試系統

　　據外媒報道，LitePoint公司近日發(fā)布 IQxstream 稀動(dòng)測試系統，除了具備兼容于 2G / 3G / 4G 的性能外，還可同時(shí)支持 FDD 與 TDD ，并提供4個(gè) DUT 同時(shí)測試的能力，以因應未來(lái)的測試需求。

看好 LTE 技術(shù)在 4G 標準中的主流地位，除了北歐TeliaSonera、北美Verizon Wireless、MetroPCS及日本NTT DoCoMo等電信業(yè)者開(kāi)始推出 LTE 服務(wù)外，在產(chǎn)業(yè)鏈上游的通訊晶片與通訊模組廠(chǎng)商亦針對 LTE 產(chǎn)品做出完整規劃。不過(guò)，面對與現有2G/3G在規格上的差異，于產(chǎn)品研發(fā)階段時(shí)的測試成本、測試時(shí)間及品質(zhì)要求等要素儼然變成關(guān)鍵所在。

LitePoint公司開(kāi)發(fā)的 IQxstream 稀動(dòng)測試系統可望協(xié)助解決這些挑戰。 IQxstream 具備Simple、Proven、Fastest及Safe Investment等4大特色。 IQxstream 內建多種主流的量測方式，并支持 LTE FDD / TDD、 GSM / EDGE、 W-CDMA 、 CDMA 2000 、 TD-SCDMA 等多種標準，并由于指令的精簡(jiǎn)化，使得測試軟體撰寫(xiě)容易，以及確保測試解決方案的支持性。

　　Iqxstream把關(guān)測試品質(zhì)

IQxstream 一次可支持4個(gè) DUT (Multi-DUT)測試，因而大幅縮短測試時(shí)間，并采用 UMT (Utilization Maximizing Technology)設計做為高速傳遞架構。 IQxstream 并以足夠的預備頻寬，保有下一代 LTE 技術(shù)標準的升級彈性，且在臺北、上海、東京、深圳、芝加哥及歐洲等地，均設有區域性的技術(shù)部門(mén)，更有效率地提供完善的測試技術(shù)支持。

此外， IQxstream 具備多項符合 LTE 測試的優(yōu)勢。首先是IQxstream 的 RF 頻率范圍為400~3000MHz，符合 698MHz~2.62GHz 的格要求。再者，測試設備至少具備20MHz的 VSA / VSG 頻寬，并支持6通道設計。若要保有未來(lái)擴充性以進(jìn)一步支持 LTE-Advanced ，頻寬則須提高到100MHz。對于研發(fā)與制造單位的測試需求而言，內建精準的 MIMO 功能也不可或缺，且提供額外的 VSA / VSG連接埠，以供上、下行 MIMO 訊號傳遞的特殊應用。此外，并針對上、下行支持不同的傳送組合，以及 FDD 與 TDD 兩種傳送模式。 FDD 與 TDD加起來(lái)的頻帶數需達到40個(gè)，FDD從1到17，頻率小于2.7GHz;TDD頻帶則是33到40，頻率需低于2.62GHz。

　　Non Signaling測試設計

事實(shí)上， IQxstream 所擁有的諸多特色，都是基于非信令(Non Signaling)模式而來(lái)。與Signaling模式相較，Non Signaling少了協(xié)議堆疊，不用再經(jīng)過(guò)RF Channel，直接通過(guò)USB介面與控制端連結。因此，除了可有效地掌握測試錯誤外，還一并享有更高速的裝置控制(USB 2.0,480Mbps vs RF,64Kbps) ，并能快速地配置裝置與測試，降低變更裝置組態(tài)所需的時(shí)間。

在Non Signaling的幫助下，不僅 DUT 測試時(shí)間比傳統的Signaling模式減少一半，達到測試成本最佳化的目的。接著(zhù)再搭配 Sequence Based Test 與 Multi- DUT ，則可分別縮短約25%與8.3%的測試時(shí)間。而對于Non Signaling模式在測量方式的匹配性上， LitePoint 開(kāi)發(fā)出的測試平臺能夠完全等同于Signaling模式的量測。不僅如此，Non Signaling模式也具備足夠的測試速度提升效果，當 IQxstream 加上 Sequence 與 Multi-DUT 后可提升速度達到3倍，連帶測試軟體也不會(huì )因為Non Signaling而變得復雜，比Signaling更為簡(jiǎn)單且迅速。

LitePoint期望藉由無(wú)線(xiàn)通訊測試設備的創(chuàng )新，提供最佳的測試方案，增進(jìn)測試良率與效率，進(jìn)而降低測試成本，以獲得更高的產(chǎn)品利潤。同時(shí)，協(xié)助工程師縮短通訊晶片產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)時(shí)程，更快地為消費者帶來(lái)高品質(zhì)的稀動(dòng)裝置。