關(guān)于分析儀在A(yíng)DC及相關(guān)領(lǐng)域的應用

首先：便于攜帶是其最大的優(yōu)點(diǎn)，這對于FAE的客戶(hù)應用支持是非常方便的。

其次：半導體廠(chǎng)家多用FPGA對其ADC進(jìn)行資料的處理與轉換，這時(shí)就需要用TWLA500來(lái)進(jìn)行監測。如果中間過(guò)程中發(fā)生故障，TWLA500就能進(jìn)行檢測并加以修正。

有些廠(chǎng)商可能會(huì )用軟件來(lái)實(shí)現監測，但是軟件一般只能表現出最后的結果，中間產(chǎn)生什么問(wèn)題的話(huà)還是需要邏輯分析儀來(lái)測試。展示電路板見(jiàn)下圖。

圖2 FPGA演示電路板

在時(shí)鐘發(fā)生器功能方面

TWLA500擁有2個(gè)獨立通道的時(shí)鐘發(fā)生器，輸出范圍6~200M可調，可作為寬范圍的可變時(shí)鐘發(fā)生器使用。而且還可以產(chǎn)生6~200M范圍的調頻信號。這兩個(gè)功能可以滿(mǎn)足低速AD到高速（200M以上模擬信號，需要達1GHz的轉換率）AD的需求。

下圖是一個(gè)ADC演示板電路圖，圖的上部可見(jiàn)時(shí)鐘發(fā)生器給電路板輸入可變時(shí)鐘信號或調頻信號配合演示板演示。

圖3 ADC演示板

圖4是演示的整個(gè)測試圖片，其中TWLA500提供可變時(shí)鐘和調頻信號，來(lái)驗證測試芯片以及相關(guān)系統的表現。

圖4 整體測試圖
綜上，TWLA500在半導體方面的應用邏輯分析儀用于對FPGA改動(dòng)前后的測試驗證芯片的規格時(shí)鐘發(fā)生器輸出可變時(shí)鐘及調頻信號測試芯片的性能對于邏輯分析儀方面，只要采樣率，帶寬，存儲深度足夠，邏輯分析儀都能滿(mǎn)足測試的需求。TWLA500每通道10Mbit的存儲比市面上其他的產(chǎn)品高出很多，比最低2k存儲的產(chǎn)品甚至達到了5000倍的差距。適合幾乎所有場(chǎng)合。對比見(jiàn)圖5