數字微波傳輸設備IDU測量解決方案

對于該測試，RS 推薦的測試方案為采用SMU200A+FSQ 實(shí)現的射頻衰落模擬器：

●SMU200A ：矢量信號源 (SMU-B14 ：衰落模擬器；SMU-B17 ：基帶輸入)。

●FSQ ：信號分析儀 (FSQ-B17 ：數字基帶接口)。

在此方案中，RS測試平臺不僅可以完成衰落模擬的試驗，同時(shí)也可以進(jìn)行高斯白噪聲AWGN的模擬，簡(jiǎn)化數字微波傳輸設備IDU的C/N和BER測試，具體參見(jiàn)圖7。

圖7 SMU200A進(jìn)行BER~C/N測試方框圖

5 數字基帶測試

在研發(fā)階段，為了保證各級電路的功能和性能符合設計要求，分級測試是必要的。數字電路是數字微波室內單元信號處理的核心部分之一，數字微波傳輸設備的配置、編程、組網(wǎng)以及通信能力很大程度上取決于數字部分。因此，對數字電路部分進(jìn)行測試是必不可少的。

作為歐洲最大的無(wú)線(xiàn)電測試、測量?jì)x器制造商，羅德與施瓦茨公司對各種不同通信標準基站的射頻測試都擁有豐富的實(shí)際經(jīng)驗，羅德與施瓦茨公司全系列的高性能儀表在基站、終端研發(fā)和生產(chǎn)中得到了廣泛應用。目前，RS推出的EX-IQ-Box設備可以提供靈活的數字接口輸入和輸出功能，能方便連接到RS的信號源和信號分析儀上，可進(jìn)行接收機測量、發(fā)射機測量、信號源仿真及射頻前端模擬等功能。

通常，對發(fā)射部分數字電路測試時(shí)，會(huì )直接對電路輸出數字IQ 信號進(jìn)行測試，分析其調制質(zhì)量，如EVM；對接收部分數字電路測試時(shí)，會(huì )直接對其輸入數字IQ信號進(jìn)行接收性能測試，也可以在源部分加入噪聲與衰落效應，進(jìn)一步進(jìn)行測試（見(jiàn)圖8）。

圖8 數字基帶測試平臺

根據以上要求，RS 推薦的測試方案為：

●SMU200A：矢量信號源。

●FSQ：矢量信號分析儀。

●EX-IQ-Box：數字IQ 信號格式轉換器。

矢量信號源SMU200A 和矢量信號分析儀FSQ 具備強大的信號產(chǎn)生和分析能力，是恰當的發(fā)射和分析性能測試工具。此外，對于數字電路部分的測試，SMU200A 和FSQ 均提供了數字IQ 的輸入／輸出接口，該接口為T(mén)RV290（RS 內部數字接口格式），為了與外部被測設備的數字接口匹配，RS 提供了EX-IQ-Box，該轉換器可TVR290 接口格式轉換為通用的數字信號接口格式，反之亦然。