基于LabWindows /CVI介質(zhì)復介電常數的測量系統設計

　　1．3 計算模塊

　　該測試系統采用的是利用微擾法對介質(zhì)介電常數進(jìn)行測量，該方法具有測量簡(jiǎn)便，所需樣品少，精度高等優(yōu)點(diǎn)。根據微擾理論，有：

　　式中：εr'和εr"分別為介電常數ε的實(shí)部和虛部；f0為諧振腔諧振頻率；△f為微擾后的頻偏；Q0和Qs分別為微擾前后的品質(zhì)因數；σ為電導率；介質(zhì)桿的體積Vs遠遠小于腔體的體積V0。

　　根據以上理論，該測量系統的計算過(guò)程分為Q值計算、相對介電常數計算、損耗角正切計算三部分。對于給定的測量系統，計算精度主要取決于測量腔體的尺寸誤差。由于加工精度的限制，實(shí)際加工的腔體與設計的腔體在尺寸上存在差別。在軟件上，由于腔體Q值及其讀數分辨率的影響，使f0和微擾后頻率fs的測量出現誤差，也即給△f帶來(lái)了誤差。

　　2 測量結果

　　在常溫條件下，對實(shí)驗室的一些樣品測量結果如表1所示(參考值指文獻[10]中的值)。

　從表中可以看出，測出的結果基本與標稱(chēng)值吻合。

　　3 誤差分析

　　該測量系統的誤差主要分為兩部分：校準系統的誤差和測試系統的誤差。

　　校準系統的誤差主要來(lái)自于以下幾個(gè)方面：校準波導的反射沒(méi)有被考慮；雖然校準波導的反射很小，但是反射的部分會(huì )在校準過(guò)程中加入到附加網(wǎng)絡(luò )中去，而這部分誤差在測量反射參數時(shí)會(huì )產(chǎn)生影響，尤其當被測件的反射比較小時(shí)；波導校準和測量過(guò)程中，為了操作方便，同時(shí)也為了保護儀器，在每次連接波導時(shí)，總是將同軸波導轉換從同軸電纜上取下，這就會(huì )造成每次重新連接時(shí)，存在一定的復位誤差。

　　測試系統的誤差主要體現在測量腔體的尺寸誤差和讀數分辨率的影響。另外，不能完全滿(mǎn)足微擾條件而帶來(lái)的非線(xiàn)性問(wèn)題也是誤差的一個(gè)主要來(lái)源。

　　4 結語(yǔ)

　　該測試系統完成了利用微擾法對介質(zhì)介電常數的自動(dòng)測試，校準測試速度快，具有可擴展性，二次開(kāi)發(fā)性強。同時(shí)，該自動(dòng)測試的設計原理及技術(shù)能方便地運用于其他測試項目，解決手動(dòng)測試中存在的問(wèn)題，極大地提高了測試的質(zhì)量和效率。