頻譜分析儀的一些特別的用法總結

　　這段時(shí)間測試項目比較多, 接觸了各種頻譜分析儀, 各個(gè)廠(chǎng)家的頻譜分析儀雖然看似很不同, 其實(shí)功能操作有很多相同點(diǎn). 所以這里簡(jiǎn)單的談?wù)?a class="contentlabel" href="http://dyxdggzs.com/news/listbylabel/label/頻譜分析儀">頻譜分析儀的使用.

　　頻譜儀對射頻工程師來(lái)說(shuō)應該不會(huì )陌生, 它和網(wǎng)絡(luò )分析儀, 波形儀是三個(gè)最基本的測試儀器. 和網(wǎng)絡(luò )分析儀不同, 頻譜儀是用來(lái)分析對其未知的信號頻率分量(頻率和功率), 而網(wǎng)絡(luò )分析儀是分析已知信號通過(guò)測試IC后的性能.

　　詳細的使用方法這里就不細談了, 大家可以查查網(wǎng)上資料或者操作手冊就知. 假設大家已經(jīng)知道一些常用的參數, 比如RBW, VBW, SPAN, Refence, ATT等這些常用參數了.這里談?wù)勔恍┨貏e的測試方法.

　　1)測試PLL的相位噪聲.

　　測試相位噪聲我們可以用PLL分析儀, 但是其實(shí)頻譜儀也可以測試, 一般RBW調成300Hz(有些老式的SPA可能沒(méi)有這么高的帶寬分解度), 然后把span設成偏移頻率的2倍, 比如測試10kHz頻偏的相位噪聲的話(huà), SPAN設成20KHz, 由相位噪聲的定義可知, 就是10kHz處噪聲的功率密度和中心頻率的功率密度的比值. 比如10kHz的功率和中心功率差65dBc, 即可推出PN=-65-10log(300)=-99dBc/Hz, 注意是每Hz的噪聲功率密度的比值.

　　2)測試波形功率的時(shí)間變化

　　有時(shí)侯我們需要觀(guān)測功率隨時(shí)間的變化, 一般我們要用波形儀來(lái)測試, 其實(shí)某些頻譜儀也有這些功能, 把SPAN設成”0”, 相當于X軸就變成了時(shí)間軸, 然后在測試段的功率有變化的時(shí)候, 就能觀(guān)測到功率變化量和過(guò)渡時(shí)間的情況了.

　　3)測試信號的頻率響應特性

　　比如輸出段要接個(gè)低通濾波器, 我們要比較LPF接之前和之后的頻率響應有多少變化, 這時(shí)候可以把SG設成掃頻, SPA設成”Maxhold”, SPA上捕捉到的信號就是最大功率(Carrier信號)的頻響.

　　在使用頻譜儀的時(shí)候, 有時(shí)侯Probe是帶有固定增益的, 測出的信號功率需要注意減掉這部分功率. 另外測試相位噪聲時(shí), 根據頻譜儀的自身性能(SPA自身也是個(gè)接收系統, 也有LO產(chǎn)生相位噪聲), 所以一般在10M以外的測試結果誤差比較大, 10Khz以?xún)鹊慕Y果又可能精度比較差, 需要注意這一點(diǎn).