<![CDATA[<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"><strike id="yhprb"></strike></s></dfn>]]><![CDATA[<small id="yhprb"></small>]]><![CDATA[<small id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></small>]]><![CDATA[<small id="yhprb"></small>]]><![CDATA[<small id="yhprb"></small>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn>]]>
粒度測試的基本知識和基本方法
作者：
時(shí)間：2012-11-16
來(lái)源：網(wǎng)絡(luò )
收藏
10、粒度測試的重復性：同一個(gè)樣品多次測量結果之間的偏差。重復性指標是衡量一個(gè)粒度測試儀器和方法好壞的最重要的指標。它的計算方法是： 
其中，n為測量次數（一般n>=10）；
x i為每次測試結果的典型值（一般為D50值）；
x為多次測試結果典型值的平均值；
σ為標準差； 
δ為重復性相對誤差。
影響粒度測試重復性有儀器和方法本身的因素；樣品制備方面的因素；環(huán)境與操作方面的因素等。粒度測試應具有良好的重復性是對儀器和操作人員的基本要求。
11、粒度測試的真實(shí)性：
通常的測量?jì)x器都有準確性方面的指標。由于粒度測試的特殊性，通常用真實(shí)性來(lái)表示準確性方面的含義。由于粒度測試所測得的粒徑為等效粒徑，對同一個(gè)顆粒，不同的等效方法可能會(huì )得到不同的等效粒徑。如圖所示： 
可見(jiàn)，由于測量方法不同，同一個(gè)顆粒得到了兩個(gè)不同的結果。也就是說(shuō)，一個(gè)不規則形狀的顆粒，如果用一個(gè)數值來(lái)表示它的大小時(shí)，這個(gè)數值不是唯一的，而是有一系列的數值。而每一種測試方法的都是針對顆粒的某一個(gè)特定方面進(jìn)行的，所得到的數值是所有能表示顆粒大小的一系列數值中的一個(gè)，所以相同樣品用不同的粒度測試方法得到的結果有所不同的是客觀(guān)原因造成的。顆粒的形狀越復雜，不同測試方法的結果相差越大。但這并不意味著(zhù)粒度測試結果可以漫無(wú)邊際，而恰恰應具有一定的真實(shí)性，就是應比較真實(shí)地反映樣品的實(shí)際粒度分布。真實(shí)性目前還沒(méi)有嚴格的標準，是一個(gè)定性的概念。但有些現象可以做為測試結果真實(shí)性好壞的依據。比如儀器對標準樣的測量結果應在標稱(chēng)值允許的誤差范圍內；經(jīng)粉碎后的樣品應比粉粉碎前更細；經(jīng)分級后的樣品的大顆粒含量應減少；結果與行業(yè)標準或公認的方法一致等。
12、重復性和準確性哪個(gè)更重要
重復性和準確性是粒度儀的兩個(gè)重要指標，是用戶(hù)和儀器生產(chǎn)廠(chǎng)家都非常關(guān)心的兩個(gè)問(wèn)題。在正常情況下，重復性的重要性要大于準確性。第一，重復性是反映儀器本身穩定與否的一個(gè)綜合指標，是一個(gè)可以精確量化的指標，可以用它來(lái)直接評價(jià)儀器的好壞；準確性則是一個(gè)根本不存在的模糊的概念，它不僅與儀器有關(guān)，還與樣品、環(huán)境及操作方法有關(guān)，是評價(jià)儀器好壞的次要指標。第二，在生產(chǎn)實(shí)踐中粒度測試的相對意義大于絕對意義。也就是說(shuō)，只要測試結果是穩定的，這種儀器就對生產(chǎn)和控制有指導意義，否則粒度測試將沒(méi)有任何意義。第三，準確性的依據通常是用所謂先進(jìn)儀器或傳統方法得到的結果。從一定意義上講，這些方法得到的結果可以作為參考，如果用來(lái)檢驗儀器則要有充分的依據。要知道，即使再先進(jìn)的儀器，如果在設置和使用不當，所得到的結果也同樣存在較大偏差，用未經(jīng)過(guò)仔細驗證的結果作為唯一的檢驗儀器的依據是不科學(xué)的。所以，在儀器滿(mǎn)足真實(shí)性要求的前提下，重復性比準確性更重要。
二、粒度測試的基本方法
粒度測試的方法很多，具統計有上百種。目前常用的有沉降法、激光法、篩分法、圖像法和電阻法五種，另外還有幾種在特定行業(yè)和領(lǐng)域中常用的測試方法。
1、沉降法：
沉降法是根據不同粒徑的顆粒在液體中的沉降速度不同測量粒度分布的一種方法。它的基本過(guò)程是把樣品放到某種液體中制成一定濃度的懸浮液，懸浮液中的顆粒在重力或離心力作用下將發(fā)生沉降。不同粒徑顆粒的沉降速度是不同的，大顆粒的沉降速度較快，小顆粒的沉降速度較慢。那么顆粒的沉降速度與粒徑有怎樣的數量關(guān)系，通過(guò)什么方式反映顆粒的沉降速度呢？
① Stokes定律：在重力場(chǎng)中，懸浮在液體中的顆粒受重力、浮力和粘滯阻力的作用將發(fā)生運動(dòng)，其運動(dòng)方程為： 
這就是Stokes定律。
從Stokes定律中我們看到，沉降速度與顆粒直徑的平方成正比。比如兩個(gè)粒徑比為1:10的顆粒，其沉降速度之比為1:100，就是說(shuō)細顆粒的沉降速度要慢很多。為了加快細顆粒的沉降速度，縮短測量時(shí)間，現代沉降儀大都引入離心沉降方式。在離心沉降狀態(tài)下，顆粒的沉降事度與粒度的關(guān)系如下： 
這就是Stokes定律在離心狀態(tài)下的表達式。由于離心轉速都在數百轉以上，離心加速度ω2r遠遠大于重力加速度g，Vc>>V，所以在粒徑相同的條件下，離心沉降的測試時(shí)間將大大縮短。
② 比爾定律：
如前所述，沉降法是根據顆粒的沉降速度來(lái)測試粒度分布的。但直接測量顆粒的沉降速度是很困難的。所以在實(shí)際應用過(guò)程中是通過(guò)測量不同時(shí)刻透過(guò)懸浮液光強的變化率來(lái)間接地反映顆粒的沉降速度的。那么光強的變化率與粒徑之間的關(guān)系又是怎樣的呢？比爾是律告訴我們： 
設在T1、T2、T3、……Ti時(shí)刻測得一系列的光強值I1D2>D3>……>Di，將這些光強值和粒徑值代入式（5），再通過(guò)計算機處理就可以得到粒度分布了。 
2、激光法：
激光粒度儀作為一種新型的粒度測試儀器，已經(jīng)在粉體加工、應用與研究領(lǐng)域得到廣泛的應用。它的特點(diǎn)是測試速度快、測試范圍寬、重復性和真實(shí)性好、操作簡(jiǎn)便等等。
(1) 激光法的粒度測試原理
激光粒度儀是根據顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和極強的方向性，所以一束平行的激光在沒(méi)有阻礙的無(wú)限空間中將會(huì )照射到無(wú)限遠的地方，并且在傳播過(guò)程中很少有發(fā)散的現象。如圖7所示。 
當光束遇到顆粒阻擋時(shí)，一部分光將發(fā)生散射現象，如圖8。散射光的傳播方向將與主光束的傳播方向形成一個(gè)夾角θ。散射理論和實(shí)驗結果都告訴我們，散射角θ的大小與顆粒的大小有關(guān)，顆粒越大，產(chǎn)生的散射光的θ角就越??；顆粒越小，產(chǎn)生的散射光的θ角就越大。在圖8中，散射光I1是由較大顆粒引起的；散射光I2是由較小顆粒引起的。進(jìn)一步研究表明，散射光的強度代表該粒徑顆粒的數量。這樣，在不同的角度上測量散射光的強度，就可以得到樣品的粒度分布了。 
為了有效地測量不同角度上的散射光的光強，需要運用光學(xué)手段對散射光進(jìn)行處理。我們在圖8所示的光束中的適當的位置上放置一個(gè)富氏透鏡，在該富氏透鏡的后焦平面上放置一組多元光電探測器，這樣不同角度的散射光通過(guò)富氏透鏡就會(huì )照射到多元光電探測器上，將這些包含粒度分布信息的光信號轉換成電信號并傳輸到電腦中，通過(guò)專(zhuān)用軟件用Mie散射理論對這些信號進(jìn)行處理，就會(huì )準確地得到所測試樣品的粒度分布了，如圖9所示。
全息投影相關(guān)文章:全息投影原理
技術(shù)專(zhuān)區
国产精品自在自线亚洲|国产精品无圣光一区二区|国产日产欧洲无码视频|久久久一本精品99久久K精品66|欧美人与动牲交片免费播放
<![CDATA[<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"><strike id="yhprb"></strike></s></dfn>]]><![CDATA[<small id="yhprb"></small>]]><![CDATA[<small id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></small>]]><![CDATA[<small id="yhprb"></small>]]><![CDATA[<small id="yhprb"></small>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn>]]><![CDATA[<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn>]]>
加入技術(shù)交流群
評論