LTE發(fā)射機ACLR性能測量的方法與挑戰
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圖1. 此處顯示了E-TM1.2測試信號的資源分配塊（底部）。Y軸表示頻率或資源塊，X軸表示時(shí)隙或時(shí)間，白色區域表示信道1，粉紅色區域表示信道2，其它顏色表示同步信道、參考信號等
隨后，可以使用在A(yíng)gilent X系列信號分析儀上運行的Signal Studio軟件生成測試信號。生成信號之后，通過(guò)LAN或GPIB將波形下載到信號發(fā)生器。將信號發(fā)生器的射頻輸出端連接到信號分析儀的射頻輸入端，使用掃描頻譜分析測量ACLR性能。在此例中，信號分析儀處于LTE模式，中心頻率為2.11GHz，選擇了ACP測量。隨后，通過(guò)從LTE應用程序中的一系列可用選項中（例如成對或非成對頻譜、鄰近信道和相間信道中的載波類(lèi)型等選項），調用適當的參數和測試限制，根據LTE標準進(jìn)行快速一鍵式ACLR測量。
對于FDD測量，LTE定義了兩種ACLR測量方法：一種是在中心頻率和偏置頻率上使用E-UTRA（LTE）；另一種是在中心頻率上使用LTE，在鄰近和相間的偏置頻率上使用UTRA（WCDMA）。圖2顯示了E-UTRA鄰近和相間頻偏信道的ACLR測量結果。對于此次測量，選擇5MHz載波，由于下行鏈路有301個(gè)子載波，所以測量噪聲帶寬為4.515MHz。
圖2. 此處顯示的是使用Agilent X系列分析儀獲得的ACLR測量結果。第一個(gè)頻偏（A）位于5MHz處，集成帶寬為4.515MHz。另一個(gè)頻偏（B）位于10MHz處，具有相同的集成帶寬。
雖然上述的一鍵式測量提供了非?？焖?、易用、依據LTE標準的ACLR測量，但是工程師仍然可以對信號分析儀設置進(jìn)行優(yōu)化，獲得更出色的性能。有四種方法可以?xún)?yōu)化信號分析儀，進(jìn)一步改善測量結果：
●優(yōu)化混頻器上的信號電平——優(yōu)化輸入混頻器上的信號電平要求對衰減器進(jìn)行調整，實(shí)現最小的限幅。有些分析儀能夠根據當前測得的信號值自動(dòng)選擇衰減值。這為實(shí)現最佳的測量范圍奠定了良好的基礎。其它分析儀（例如X系列信號分析儀）擁有電子和機械衰減器，可以結合使用兩者來(lái)優(yōu)化性能。在這些情況下，機械衰減器只需進(jìn)行細微的調整便可以獲得更出色的結果，步進(jìn)大約為1或2dB。
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