使用NI PXI矢量信號收發(fā)儀進(jìn)行802.11ac測試
圖2. Qualcomm Atheros采用LabVIEW來(lái)設計NI矢量信號收發(fā)儀的FPGA,藉由數字方式來(lái)控制待測設備
改用NI PXI矢量信號收發(fā)儀之后,測試速度變快了,所以我們可執行完整的增益表掃頻,而不是去反覆評估。 這樣一來(lái),Qualcomm Atheros的團隊即可在單一設備的每次測試掃頻中,全面測試無(wú)線(xiàn)電運作的特性,進(jìn)而采集全部共300,000個(gè)數據點(diǎn),以便確切判斷出最理想的運作設置。 鑒于這樣的數據操作流程,我們能以前所未有的方式掌握設備的運作狀況,負責團隊即可探索以前從未設想過(guò)的運作機制。
圖3.就傳統儀器而言,每次測試大約會(huì )取得40個(gè)重要的WLAN收發(fā)器數據點(diǎn)。
NI PXI矢量信號收發(fā)儀(VST)的測試速度非???,因此能執行完整的增益表掃頻,進(jìn)而采集共300,000個(gè)數據點(diǎn)。
圖4. Qualcomm Atheros通過(guò)儀器的射頻前端元件直接同步處理數字控制時(shí)序,
測試速度比以前的PXI解決方案快了20倍以上,甚至超越原本的傳統儀器解決方案200倍之多。
對Qualcomm Atheros來(lái)說(shuō),儀器的靈活性與精密控制非常重要,因為這可以有效提升射頻測試流程的效率,所以我們使用NI全新的矢量信號收發(fā)儀時(shí),優(yōu)異的測試性能讓人非常滿(mǎn)意。 我們?yōu)榭蛻?hù)開(kāi)發(fā)802.11ac解決方案的過(guò)程中,NI PXIe-5644R為我們帶來(lái)了自由度和靈活性,并大大提高了我們的測試吞吐量。(end)
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