Xradia推出創(chuàng )新性3D X光成像設備UltraXRM-L200

Xradia公司近日宣布推出新款基于實(shí)驗室使用的計算機斷層掃描（CT）系統---UltraXRM-L200，該掃描系統在實(shí)驗室環(huán)境下能提供50納米分辨率的類(lèi)似同步的三維成像。UltraXRM-L200是超高分辨率UltraXRM?納米系列X射線(xiàn)顯微鏡的最新成員。這款顯微鏡采用了最初研究用于同步研究裝置的最先進(jìn)的X射線(xiàn)光學(xué)組件，以實(shí)現實(shí)驗室環(huán)境下的一流分辨率和效率。

“我們的承諾是不斷開(kāi)發(fā)推動(dòng)研究進(jìn)步的系統，”Xradia公司創(chuàng )建人、總裁兼首席技術(shù)官Wenbing Yun博士表示?！白罱K，在實(shí)驗室環(huán)境以及在同步裝置中，我們在這一領(lǐng)域占有強大的領(lǐng)導地位，我們希望能幫助研究人員專(zhuān)注于他們自己的研究，而不是將他們的時(shí)間和資源都花費到打造他們的使用工具上。只有Xradia公司能商業(yè)化地供應這一分辨率(50納米)的X射線(xiàn)CT顯微鏡。 ”

Xradia公司的UltraXRM- L200顯微鏡將一個(gè)采用了專(zhuān)利的X射線(xiàn)光學(xué)部件的高通量實(shí)驗室X光光源整合到了一個(gè)獨立的CT掃描儀中。UltraXRM- L200的應用范圍不斷增大，包括應用于先進(jìn)材料的開(kāi)發(fā)、軟組織和骨骼的生命科學(xué)研究、對巖石孔隙進(jìn)行研究以分析石油和天然氣鉆探的可行性模型，以及用于半導體封裝失效分析。

據弗吉尼亞理工大學(xué)生物醫學(xué)成像系教授兼主任Ge Wang博士表示，“Xradia公司的超高分辨率成像系統為我們提供了有關(guān)結構內部的詳細三維立體數據，并且不需要把相關(guān)的區域進(jìn)行切割或切片---這擴展了所有研究實(shí)驗室的能力，因為我們可以在各種條件下測試，包括時(shí)差(time-lapsed)四維成像。UltraXRM-L200將有助于填補現有的高分辨率成像設備(如 SEM, TEM和AFM)與光學(xué)顯微鏡以及傳統的微型電腦成像系統之間的空白?！?/P>