光電傳感器中發(fā)射器與接收器的匹配

(1)外殼尺寸變差。槽型和反射型光電傳感器絕大多數的外殼采用塑料外殼，模具加工制造、注塑件的注塑以及冷卻過(guò)程都會(huì )引起同一尺寸在不同塑料外殼之間的變化，這包括槽型光電傳感器發(fā)射器與接收器前槽縫寬度的變化、外殼上用于安裝發(fā)射器與接收器部分之間距離的變化，反射型光電傳感器發(fā)射器與接收器前孔尺寸的改變、外殼上用于安裝發(fā)射器與接收器部分之間角度的變化等。這些尺寸的變化將引起傳感器輸出電流的變化。

(2)裝配過(guò)程中產(chǎn)生的變差。槽型和反射型光電傳感器中發(fā)射器、接收器與外殼間的裝配與固定需要通過(guò)一定的工藝來(lái)完成，如槽型光電傳感器，對一些外殼材料可通過(guò)熱壓的方式將發(fā)射器和接收器與外殼固定。在裝配過(guò)程中，對槽式光電傳感器，發(fā)射器透鏡的光軸并不能保證與接收器透鏡光軸在同一條線(xiàn)上，一些產(chǎn)品偏離設計要求小一些，而另一些則偏離大一些;同樣，對反射型光電傳感器，發(fā)射器透鏡的光軸與接收器透鏡光軸的交點(diǎn)也不可能都如設計所要求正好位于反射物的表面上，有些產(chǎn)品的交點(diǎn)靠前，而另一些則可能靠后一些。這些裝配過(guò)程中的變差也會(huì )引起傳感器輸出電流的變化。

(3)發(fā)射器輻射強度及其空間分布上的變化晶片位置對發(fā)射器輻射強度及在空間分布有影響。在設計條件下，晶片位于發(fā)射器透鏡的中心線(xiàn)上。但在發(fā)射器的生產(chǎn)制造過(guò)程中，固晶(die_attach)和封膠(encapsulation)這兩道工序都可能使晶片偏離中心線(xiàn)，而封膠過(guò)程造成的偏離一般會(huì )更大。圖3為同一晶圓(wafer)不同批次(lot)發(fā)射器輻射強度的分布。由圖可見(jiàn)，批次1輻射強度在0.07～0.08 mW/10°范圍內發(fā)射器的比例為34.2%，而批次2輻射強度在相同范圍內的比例為41.8%。由于發(fā)射器輻射強度的測試與發(fā)射器在光電傳感器中的使用條件一般并不相同，輻射強度在空間分布的變化有可能導致在相同條件下，裝配測試得到的高輻射強度發(fā)射器的光電傳感器，其輸出電流反而比裝配測試得到的低輻射強度發(fā)射器的光電傳感器低。另外，通常情況下用于填充反射杯和覆蓋晶片的硅膠的折射率與封膠用的環(huán)氧樹(shù)脂(epoxy)的折射率十分接近，故硅膠與環(huán)氧樹(shù)脂交界面的形狀對發(fā)射器的輻射強度分布的影響很小。但若兩者有一定差別，則交界面的形狀會(huì )對發(fā)射器的輻射強度分布產(chǎn)生影響，這種情況下控制點(diǎn)膠工序中所用硅膠的量相同或相近十分重要，以便使不同發(fā)射器硅膠與環(huán)氧樹(shù)脂交界面的形狀保持一致，避免由此引起發(fā)射器輻射強度在空間分布的變化。

(4)測試誤差。在發(fā)射器與接收器測試過(guò)程中，由于機臺、測試人員不同，會(huì )導致測試結果的變差。圖4為3位測試人員在同一機臺測試相同的三個(gè)接收器樣品得到的結果。由圖可見(jiàn)，樣品2不同集電極電流測試值之間的最大差值甚至略高于0.5 mA。測試誤差與機臺的測量精度、測試過(guò)程中用于固定元件的夾具的精度等有關(guān)。

3 提高產(chǎn)品良品率的措施

(1)合理確定光電傳感器輸出電流的范圍。根據應用場(chǎng)合的不同，光電傳感器輸出電流的范圍有寬有窄。對輸出電流的范圍有較高要求的應用場(chǎng)合，需合理確定范圍，過(guò)高的要求會(huì )導致產(chǎn)品良品率的下降，導致成本增加。

(2)樣品應具代表性。在樣品制作階段，應從不同生產(chǎn)批次中抽取發(fā)射器和接收器來(lái)組裝傳感器樣品，從而在設計階段對一個(gè)批次中可用的發(fā)射器和接收器的比例有正確的估計，避免批量生產(chǎn)時(shí)良品率偏低。

(3)工藝與制造過(guò)程的控制。外殼尺寸的變化、裝配中發(fā)射器與接收器的固定、晶片位置的變化以及測試誤差都會(huì )導致傳感器輸出電流的變化，嚴格控制外殼注塑工藝過(guò)程、傳感器的裝配過(guò)程、發(fā)射器與接收器的制造過(guò)程，是提高傳感器良品率的必要條件。另外，發(fā)射器與接收器測試前都應采用標準元件對測試機臺進(jìn)行校準。

(4)分等級匹配。若光電傳感器輸出電流的范圍要求比較窄，可考慮將同一批次的發(fā)射器或接收器按輻射強度或集電極電流分成兩至三個(gè)等級，高輻射強度發(fā)射器與低集電極電流接收器相匹配，或低輻射強度發(fā)射器與高集電極電流接收器相匹配，以提高同一批次中可用發(fā)射器和接收器的比例。在特定情況下，如外殼成本較高，甚至可考慮增加返工工序，替換不合格產(chǎn)品中的發(fā)射器或接收器，使其滿(mǎn)足對輸出電流的要求。

4 結論

大多數應用場(chǎng)合對光電傳感器的輸出電流的范圍有一定要求，有些場(chǎng)合的要求還很苛刻，如何合理確定發(fā)射器的輻射強度與接收器的集電極電流，以及光電傳感器的其他一些設計參數，是光電傳感器設計與研發(fā)中的一個(gè)關(guān)鍵。同時(shí)，發(fā)射器與接收器制造過(guò)程中的一些變差、外殼注塑及裝配過(guò)程中的變差、測試誤差等都會(huì )影響光電傳感器的輸出，需要對這些工藝及制造過(guò)程進(jìn)行嚴格控制。對輸出電流要求苛刻的光電傳感器，在制造過(guò)程中，還可考慮將接收器與發(fā)射器按輻射強度與集電極電流進(jìn)行分等級匹配，以提高產(chǎn)品良品率。