基于A(yíng)RM的石英晶體測試系統中DDS信號源設計

2 石英晶體測試系統硬件框圖

系統采用π網(wǎng)絡(luò )法，硬件框圖如圖3所示。系統以STM32F103ZET6型ARM為的MCU;AD9852型DDS用來(lái)產(chǎn)生正弦激勵信號;TXCO(ROJON)型溫度補償晶振給DDS提供參考頻率，此溫度補償晶振標稱(chēng)頻率50 MHz;LCD作為人機交換接口用以顯示參數和波形;4×4鍵盤(pán)可以輸入預置參數，也可以作為功能按鍵控制系統工作;信號調理電路對激勵信號濾波以及放大跟隨，通過(guò)π網(wǎng)絡(luò )的信號經(jīng)處理反饋到STM32F103ZET6的A/D端口，對輸出信號進(jìn)行處理。MCU通過(guò)串口(USART)和上位機通信，上位機發(fā)送控制指令控制MCU工作，MCU將測試數據反饋給上位機。系統重點(diǎn)是利用STM32F103ZET6控制A139852產(chǎn)生掃頻信號，難點(diǎn)是對π網(wǎng)絡(luò )輸出端信號的處理。

3 系統測試流程圖

石英晶體測試參數測試儀在通電復位后首先初始化STM32F103ZET6內部寄存器，然后再初始化系統各功能模塊包括LCD、DDS、USART、鍵盤(pán)、ADC等。在初始化完成之后通過(guò)鍵盤(pán)或上位機設定被測石英晶體的標稱(chēng)頻率、掃描的起始和終止頻率以及掃描步進(jìn)，參數設置完成后，通過(guò)上位機發(fā)送控制指令或鍵盤(pán)功能按鍵控制系統工作，在串口和鍵盤(pán)未產(chǎn)生中斷時(shí)，DDS會(huì )產(chǎn)生與設置參數相應的掃頻信號，LCD實(shí)時(shí)顯示π網(wǎng)絡(luò )反饋到STM32F103ZET6的ADC管腳的波形，待轉換結束后MCU處理并保存數據，測試結果送回上位機并在LCD上顯示。具體流程圖如圖4所示。