Teledyne LeCroy發(fā)布MIPI M-PHY協(xié)議層、發(fā)送端、接收端完整測試方案
意識到移動(dòng)市場(chǎng)對完整測試方案的需求,Teledyne LeCroy公司推出了一系列測試和測量產(chǎn)品,以幫助加速移動(dòng)設備的設計開(kāi)發(fā)。對已有的MIPI物理層測試工具的補充,Teledyne LeCroy公司推出了Eclipse X34™協(xié)議分析儀用于M-PHY協(xié)議測試,以及對M-PHY接收端測試的PeRT3™ Phonenix M-PHY測試選項。這些新產(chǎn)品結合示波器上已有的發(fā)送端測試和協(xié)議解碼工具,一套采用了這些示波器工具的全自動(dòng)化的一致性測試解決方案將在2014年底上市。這套方案將為移動(dòng)市場(chǎng)提供端到端的測試,并將于周二在芝加哥的MIPI聯(lián)盟會(huì )員大會(huì )上展出。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/235271.htmTeledyne LeCroy Eclipse x34™ 協(xié)議分析儀是一臺單獨的M-PHY協(xié)議分析儀,它的硬件將支持高速GEAR1, GEAR2, GEAR3速率下多通道X1到X4的測試,支持多種連接方式包括M.2,SMA,Multi-lead 和 Mid Bus等,Eclipse x34協(xié)議分析儀未來(lái)將會(huì )支持M-PCIe, SSIC 和 Unipro/UFS 協(xié)議分析,Eclipse x34協(xié)議分析儀將會(huì )在2014年第三季度開(kāi)始發(fā)貨。作為PCI-SIG和USB-IF的資深會(huì )員,Teledyne LeCroy給M-PCIe和SSIC協(xié)議分析市場(chǎng)帶來(lái)世界級的測試經(jīng)驗。最初發(fā)布的Eclipse x34將會(huì )支持M-PCIe,接著(zhù)會(huì )支持SSIC,最后支持UFS。
PERT3 Phoenix 是唯一的具有協(xié)議識別能力的MIPI M-PHY接收端測試方案,PERT3 Phoenix新增加了M-PHY接收端測試的能力,支持M-PHY 高速GEAR1, GEAR2, GEAR3速率的測試,也支持低速PWM Mode (G0-G7),支持自動(dòng)校準和裕量測試。工程師在開(kāi)發(fā)基于M-PHY總線(xiàn)的下一代移動(dòng)設備時(shí)可以使用這套方案解決設計挑戰,通過(guò)輕松的進(jìn)行一致性測試、產(chǎn)品驗證、Margin測試解決信號完整性問(wèn)題。該方案支持高速GEAR1, GEAR2, GEAR3和 PWM Mode (G0-G7)所有速率的測試,這使開(kāi)發(fā)者可以靈活的測試所有的速率,以全面觀(guān)察他們的設計質(zhì)量。它的自動(dòng)校準功能減少了復雜的設置,節約了時(shí)間,使工程師可以更快的完成測試。裕量測試允許工程師驗證和調整他們的產(chǎn)品相對規范有最大的潛在裕量。
TleScan PE工具是對這套方案的一個(gè)補充,它使用一個(gè)描述性的界面以樹(shù)狀結構顯示PCIE總線(xiàn)的信息,基于PCIE1.1,2.0,3.0,M-PCIe規范的設備的詳細的正文信息和寄存器圖會(huì )被掃描到,可以了解到更多的配置信息和寄存器設置信息。M-PCIE設備會(huì )被自動(dòng)檢測到,保存在M-PCIe擴展寄存器中的信息(像M-PCIe當前鏈路速度,Gears,M-PCIe最大鏈路寬度)會(huì )在屏幕上快速總結顯示出來(lái),其他的配置空間的寄存器信息能夠被讀寫(xiě)以滿(mǎn)足工程師設計好的測試,這個(gè)工具支持掃描裝有Win7,Win8或Linux系統的主機。
示波器上強大的MIPI M-PHY協(xié)議解碼、物理層測試和眼圖分析軟件簡(jiǎn)化了MIPI的設計和調試。物理層測量和解碼后的協(xié)議信息可方便的逐條查看,提供物理層和協(xié)議層之間關(guān)聯(lián)性的信息。這組物理層測量套件將會(huì )集成到自動(dòng)化的QualiPHY框架中。
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