穿刺噪聲的正確測量和改進(jìn)措施

　　■　概要

　　隨著(zhù)ＤＣ／ＤＣ轉換器的開(kāi)關(guān)頻率的不斷升高，　穿刺噪聲的影響變得也越來(lái)越明顯?，F在，盡管由于示波器的性能不斷的提高使得穿刺噪聲的觀(guān)測變得簡(jiǎn)單了，　但是要準確得到實(shí)際穿刺噪聲的大小以及分析具體產(chǎn)生的原因還是和很多因素有關(guān)，　例如使用正確的測試方法，　外部使用器件的合適選擇，線(xiàn)路板線(xiàn)路的合理布局等等。

　　■產(chǎn)生的原因

　　穿刺噪聲產(chǎn)生的原因主要分為兩大類(lèi)：

　?。?　測試方法

　　測試時(shí)，示波器的探針的不同連接方法對穿刺噪聲的測量有很大影響。

　?。?　外圍使用器件的正確選擇和線(xiàn)路布局的影響

　　當ＤＣ／ＤＣ轉換器在控制開(kāi)關(guān)動(dòng)作完成的同時(shí)，　肖特基二極管打開(kāi)和截止的瞬間有逆向漏電流流過(guò)，同時(shí)開(kāi)關(guān)打開(kāi)和斷開(kāi)的瞬間基板上有大的電流流過(guò)，造成基板上不同器件之間產(chǎn)生較大電位差；　另外由于線(xiàn)圈的電磁波磁場(chǎng)的影響也會(huì )導致有較大的穿刺噪聲產(chǎn)生。

　　■測試方法的改善

　　當ＤＣ／ＤＣ轉換器工作的時(shí)候，　可以用示波器觀(guān)察到在開(kāi)關(guān)閉合和打開(kāi)的瞬間，　輸出電壓中會(huì )有幾百毫伏的穿刺噪聲信號產(chǎn)生，而且在測試的過(guò)程中，隨著(zhù)探針測試方向的改變，噪聲信號的大小也會(huì )發(fā)生很大的變化。實(shí)際輸出電壓中的噪聲除了正確的測試方法以外，還受到其他因素的影響，因此要準確測量輸出電壓中穿刺噪聲成份的大小，就需要避免由于測試探針受外界的環(huán)境的影響而增加的那部分噪聲信號，具體操作如下：

　?。粒骸∵@種普通的測試探針由于地線(xiàn)比較長(cháng)象天

　?。拢骸∪コ结樀慕拥囟撕吞筋^的屏蔽部份。線(xiàn)一樣，容易受外界的環(huán)境影響。

　?。茫骸∪缓笾苯影烟筋^的金屬端和輸出端連接，探針的地線(xiàn)部份和線(xiàn)路板的地線(xiàn)連接，這樣可以有效的防止外界噪聲的干擾。

　　同樣地線(xiàn)測試基準點(diǎn)的選擇對于穿刺噪聲的大小也有著(zhù)很大的影響，ＤＣ／ＤＣ轉換器后端的輸出電容的容值對于穿刺噪聲的實(shí)際值得大小也有著(zhù)重要的影響。

　　■　應用對策：

　　實(shí)際應用過(guò)程中間需要注意的地方很多，下面列舉一些供參考：

　?。?　在選擇輸入電容時(shí)盡量使用感抗小的電容，或者并聯(lián)一個(gè)０.０１μＦ的陶瓷電容，并且要盡量的靠近開(kāi)關(guān)晶體管和二極管。

　?。?　輸出電容的等效電阻ＥＳＲ是影響穿刺噪聲大小的一個(gè)很重要的因素（ＶＲＩＰＰＬＥ＝ＲＥＳＲ＊ＤＩＬ），因此要正確的選擇一個(gè)電容就需要綜合考慮電容的價(jià)格，等效阻抗的大小和容值之間關(guān)系。由于陶瓷電容有很好的高頻特性，　而且等效電阻ＥＳＲ也很小，　實(shí)際應用電路中盡量選擇可使用陶瓷電容的ＤＣ／ＤＣ轉換芯片；

　?。?　在ＦＥＴ開(kāi)關(guān)管的Ｇ端和ＤＣ／ＤＣ之間增加一個(gè)５－５０毫歐的電阻；

　?。?　在開(kāi)關(guān)管和肖特基二極管的兩端各并聯(lián)一個(gè)ＲＣ緩沖回路；

　?。?　選用逆向導通恢復時(shí)間特性好的肖特基二極管；，　減少漏電流的流過(guò)；

　?。?　當電路中有非連續的大電流流過(guò)時(shí)，　外置開(kāi)關(guān)管和線(xiàn)圈之間的導線(xiàn)要盡量的短，　而且盡量遠離輸出接地端；

　?。?　選擇使用閉磁類(lèi)型電路的電感線(xiàn)圈；

　?。?　在輸出端增加一個(gè)濾波電路（低通ＬＣ?。Α。遥没芈罚?；

　?。?　在電路中增加一個(gè)鐵氧磁體器件可以濾除高頻雜波信號。

注意:

當有誤動(dòng)作發(fā)生或者效率轉換低下的情況時(shí),要首先檢查有旁路電容和地線(xiàn)連接的那部份線(xiàn)路.