一種打破教科書(shū)上的按鍵檢測方法

傳統的教科書(shū)，無(wú)一例外都是采用delay的方法檢測按鍵，但是這種方法有很多缺陷，今天發(fā)一貼說(shuō)說(shuō)，各位大俠不要見(jiàn)笑，初級菜鳥(niǎo)可以借鑒。

傳統的處理方法：在第一次檢測到有鍵按下時(shí)，執行一段延時(shí) 10ms 的子程序以后再確認該按鍵電平是否能保持閉合狀態(tài)的電平，如果保持閉合狀態(tài)電平，則確認為真正有鍵按下，從而消除抖動(dòng)的影響.

缺點(diǎn)：

1. 傳統的處理方法執行 10ms 的延時(shí)子程序，會(huì )降低程序的實(shí)時(shí)性。

2. 傳統的處理方法一次按鍵動(dòng)作的確認，只檢測兩次，在高抗干擾環(huán)境下的會(huì )有按鍵的誤動(dòng)作。

建議：

1. 建議彈跳時(shí)間為 100ms 才可有效通過(guò) EFT 雜訊認證。

2. 建議主程序中連續檢查 100ms 的穩定低電平才可認定按鍵按下成立。

3. 相同道理連續檢查 100ms 高電平才可認定按鍵彈起。

4. 為了保證 MCU 的執行效率，按鍵的檢測盡量不要使用 Delay 的方式，可以考慮采用輪詢(xún)檢測和計時(shí)器配合的方式進(jìn)行。

方法如下：

在發(fā)現低電平后，我們每一個(gè)循環(huán)(時(shí)基)去讀取一次電平，并與上次進(jìn)行比較，若是相同則計數器加 1，直至達到足夠的次數就進(jìn)行處理，否則計數器清零，重新開(kāi)始。