低功率LED可靠性試驗項目

一般來(lái)說(shuō)，led 的可靠性是以半衰期（即光輸出量減少到最初值一半的時(shí)間）來(lái)表徵，大概在1萬(wàn)到10萬(wàn)小時(shí)之間LED的可靠性測試包括靜電敏感度特性、壽命、環(huán)境特性等指標的測試。 靜電敏感度特性是指LED能承受的靜電放電電壓。某些LED由于電阻率較高，且正負電極距離很短，若兩端的靜電電荷累積到一定值時(shí)，這一靜電電壓會(huì )擊穿PN結，嚴重時(shí)可將PN結擊穿導致LED失效，因此必須對LED的靜電敏感度特性進(jìn)行測試，獲得LED的靜電放電故障臨界電壓。目前一般采用人體模式、機器模式、器件充電模式來(lái)類(lèi)比現實(shí)生活中的靜電放電現象。

為了觀(guān)察LED在長(cháng)期連續使用情況下光性能的變化規律，需要對LED進(jìn)行抽樣試驗，通過(guò)長(cháng)期觀(guān)察和統計獲得LED壽命參數。對于LED環(huán)境特性的試驗往往采用模擬LED在應用中遇到的各類(lèi)自然侵襲，一般有：高低溫沖擊試驗、濕度迴圈試驗、潮濕試驗、鹽霧試驗、沙塵試驗、輻照試驗、振動(dòng)和沖擊試驗、跌落試驗、離心加速度試驗等。一般測試低功率LED的可靠性具體項目有以下幾點(diǎn)：

1.焊錫耐熱性：260℃±5℃，5Sec,外觀(guān)和電氣特性無(wú)異常。

2.溫度迴圈試驗：85℃（30min)---轉換5min---—40℃（30min) 為1cycle, 需做50cycle,外觀(guān)和電氣特性無(wú)異常。

3.熱沖擊試驗：100℃（5min)---轉換10sec---—10℃（5min) 1cycle, 需做50cycle,外觀(guān)和電氣特性無(wú)異常。

4.高溫儲存試驗：在溫度100℃環(huán)境下放置1000Hrs,外觀(guān)和電氣特性無(wú)異常。

5.低溫儲存試驗：在溫度—40℃環(huán)境下放置1000Hrs,外觀(guān)和電氣特性無(wú)異常。

6.高溫高濕放置試驗：在溫度85℃/相對濕度85%RH環(huán)境下放置1000Hrs，外觀(guān)和電氣特性無(wú)異常。

7.引腳拉力試驗：依據引腳截面積的大小施加重力/30Sec,引腳須無(wú)拉脫及松動(dòng)，電氣特性無(wú)異常。

8.引腳彎折試驗：依據引腳截面積的大小施加重力，彎折±90度（距本體3mm處）2回，引腳須無(wú)折斷及松動(dòng)，電氣特性無(wú)異常。

9.壽命試驗：施加IF電流，連續工作1000Hrs,外觀(guān)和電氣特性無(wú)異常。

備註：在環(huán)境與壽命可靠度試驗后，需在25℃下放置24Hrs再測試電氣特性。