延遲和建立時(shí)間與溫度的關(guān)系

設計工程師們通常使用測試設備來(lái)驗證數字邏輯電路的邏輯正確性。他們可能會(huì )設計一個(gè)測試方案來(lái)測試新的數字設備內部的每個(gè)單獨邏輯功能。如果看到測試結果的每個(gè)步驟都是正確的，則可以很自然地得出結論：“機器工作正?！?。

遺憾的是，實(shí)際的系統比這要復雜得多。許多計算機系統可以通過(guò)循序漸進(jìn)的測試，但在實(shí)際工作速率，或者達到實(shí)際工作的數據吞吐量時(shí)，機器卻不能工作。只有當讀者擁有很多復雜系統的工作經(jīng)驗時(shí)，才會(huì )有這樣的體會(huì )，事實(shí)也確實(shí)如此。

在高利用率時(shí)，一個(gè)調整數字系統內部的總線(xiàn)和其他部件會(huì )產(chǎn)生很多噪聲。系統的數據量越大，其產(chǎn)生的噪聲也越多。最好的測試計劃會(huì )逐級遞進(jìn)到較大的數據流量，用大量的數據模型進(jìn)行測試，重點(diǎn)測試流水線(xiàn)邏輯電路，存儲器訪(fǎng)問(wèn)以及其他一些主要邏輯電路。好的數據模型找出正常工作時(shí)令系統出故障的噪聲耦合。