LTE芯片及終端測試

1 引言

　　測試儀表和測試系統作為T(mén)D-LTE產(chǎn)業(yè)鏈中重要的環(huán)節，目前，對TD-LTE測試儀表的需求已經(jīng)涵蓋了整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈的各個(gè)階段。

　　2 RS的LTE測試解決方案

　　羅德與施瓦茨公司(RS)作為歐洲最大的測試測量?jì)x表供應商，具有強大的研發(fā)和生產(chǎn)實(shí)力?；谄湓?G和3G測試領(lǐng)域的領(lǐng)先地位，RS對于LTE從早期的研發(fā)階段就開(kāi)始跟蹤研究，積累了豐富的經(jīng)驗。為了推動(dòng)TD-LTE產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，RS公司為客戶(hù)提供從LTE(包括TD-LTE和FDD LTE)仿真、設計、研發(fā)、生產(chǎn)、測試等一系列的測試測量解決方案，可以滿(mǎn)足客戶(hù)各個(gè)階段的需求(見(jiàn)圖1)。

　　圖1 RS的LTE測試解決方案

　　3 LTE芯片和終端研發(fā)

　　(1)LTE信號產(chǎn)生和分析

　　RS的信號源如SMU，AMU以及SMBV系列加上選件后就可以按照規范實(shí)時(shí)地產(chǎn)生LTE上/下行射頻或基帶信號，用于元器件性能測試以及終端的接收機測試;RS的FSx系列頻譜和信號分析儀能分析LTE上/下行射頻或基帶信號，用于元器件性能測試以及終端的發(fā)射機測試。

　　由于被測設備可能采用特殊的數字基帶信號格式，RS提供EX-IQ-BOX來(lái)針對不同數字基帶信號格式進(jìn)行適配。

　　(2)LTE終端協(xié)議和IOT測試

　　LTE協(xié)議棧的測試用來(lái)驗證一些信令功能，例如呼叫建立和釋放、呼叫重配置、狀態(tài)處理和移動(dòng)性等。和2G，3G系統的互操作性(IOT)測試是對LTE的另外一個(gè)需求。為了保證終端的協(xié)議棧和應用可以處理高數據率的數據，需要測試驗證終端吞吐量的要求。在LTE實(shí)現的早期，研發(fā)部門(mén)需要包含各個(gè)參數配置的多種測試場(chǎng)景來(lái)進(jìn)行LTE協(xié)議棧的測試。此外，LTE物理層具有很多重要功能，這包括小區搜索，HARQ協(xié)議，調度安排，鏈路自適應，上行時(shí)間控制和功率控制等，而且這些過(guò)程有著(zhù)很?chē)栏竦亩〞r(shí)要求。因此，也需要對物理層進(jìn)行完全測試來(lái)保證LTE的性能。

　　RS的CMW500協(xié)議測試儀可以用于LTE終端的協(xié)議一致性測試、性能測試和互操作測試。同時(shí)，RS還提供用于PC機上的虛擬測試(Virtual Tester)軟件，使工程師在早期就進(jìn)行協(xié)議開(kāi)發(fā)的工作。所以使用CMW500可以并行進(jìn)行軟件和硬件的協(xié)同開(kāi)發(fā)、測試和優(yōu)化，從而加快產(chǎn)品的上市時(shí)間。

　　CMW500可以提供MLAPI和LLAPI這兩個(gè)協(xié)議棧測試所需的底層和高層編程接口，這樣開(kāi)發(fā)者在早期就可以對協(xié)議棧進(jìn)行靈活測試，而且這樣的測試是和后期的一致性測試完全兼容的，可以節省后期測試的時(shí)間和成本。

　　(3)LTE終端射頻認證/預認證測試