確保USB3.0電路可靠性 選對PTC/ESD方案是關(guān)鍵

　　舉例來(lái)說(shuō)，瞬態(tài)電壓抑制（TVS）二極體和二極體陣列有較低的動(dòng)態(tài)電阻，提供卓越的箝位元性能，并能保持非常低寄生封裝電容。圖4顯示矽方案的箝位元性能與MLV ESD保護技術(shù)的比較，以矽為基礎的解決方案的箝位元電壓更低。

　　圖4 矽電阻與壓敏電阻的箝位元性能比較

　　TVS二極體陣列提供多通道ESD保護解決方案（圖5），成為目前USB 3.0保護的最佳選擇。該類(lèi)元件能吸收瞬態(tài)電流，并瀉放電流，同時(shí)透過(guò)雪崩或齊納二極體箝制電壓位準。如圖6所示為USB 3.0靜電保護方案架構圖。

　　圖5 保護USB 3.0電路的TVS二極體陣列示意圖

　　圖6　上為USB 3.0靜電保護方案架構圖；

　　USB 3.0電路保護元件對維護資料完整性也非常重要，任何附加電容都可導致訊號失真，并降低訊號的可靠性。測試靜電抑制器的寄生電容對訊號完整性影響的主要方法是進(jìn)行眼圖測試，此測試須重復采樣數位訊號，并在示波器上顯示出眼圖，用來(lái)定義可接受的訊號品質(zhì)和依從性。