EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
調試
調試 文章 進(jìn)入調試技術(shù)社區
泰克科技用于以太網(wǎng)驗證和調試的集成工具系列
- 以太網(wǎng)提供了移動(dòng)塔、社交媒體、物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設備、聯(lián)網(wǎng)汽車(chē)和許多其他新技術(shù)背后的通用技術(shù)。但是,傳輸介質(zhì)隨著(zhù)傳輸速度和應用要求的不同而異:長(cháng)距離傳輸采用光學(xué)介質(zhì),短距離傳輸采用電子介質(zhì)。泰克提供全面的集成工具系列,用于驗證 IEEE 802.3 以太網(wǎng)設備的物理層,以及在超大規模數據中心、汽車(chē)、企業(yè)和消費者生態(tài)系統中開(kāi)發(fā)和調試基于以太網(wǎng)的系統。最快的以太網(wǎng):100G、200G、400G 及以上的城域網(wǎng)、校園網(wǎng)和數據中心數據中心對更大數據吞吐量的需求正在增長(cháng),而以太網(wǎng)規范也隨之增加。隨著(zhù)下一代 200G
- 關(guān)鍵字: 泰克科技 以太網(wǎng)驗證 調試 集成工具
華為Hicar車(chē)載系統已進(jìn)入最后調試階段
- 日前,在華為舉行的春季新品發(fā)布會(huì )上,華為對外展示了Hicar車(chē)載系統,還公布了關(guān)于Hicar的業(yè)務(wù)細節。支持華為Hicar的車(chē)型已基本確定,目前已進(jìn)入最后調試階段,今年有望推向市場(chǎng)。
- 關(guān)鍵字: Hicar車(chē)載系統 華為 調試
基于硬件跟蹤的Linux系統性能優(yōu)化

- 隨著(zhù)Linux系統的復雜度越來(lái)越高,如何調試并優(yōu)化系統性能,以提高系統硬件的使用效率,減輕系統負載也越來(lái)越重要。其關(guān)系到整個(gè)產(chǎn)品的成本和使用體驗,甚至影響產(chǎn)品上市期限。雖然在Linux中,有很多開(kāi)源軟件可以用來(lái)測量整個(gè)系統的性能,但是這些軟件同時(shí)可能也會(huì )引進(jìn)其他問(wèn)題,最終導致調試優(yōu)化過(guò)程變得更加復雜。本文將介紹德國的ADIT公司面臨的類(lèi)似問(wèn)題,并最終如何使用勞特巴赫的TRACE32這一非侵入式硬件跟蹤工具來(lái)解決這些問(wèn)題。
- 關(guān)鍵字: 硬件跟蹤 調試 Linux 201903
硬件工程師快速實(shí)現軟件配置和調試的經(jīng)驗分享

- 對于許多硬件工程師而言,配置軟件而后進(jìn)行產(chǎn)品性能測試,是有一定難度的,比如最近我做得一款無(wú)線(xiàn)通信模組,就出現了射頻性能測試難的問(wèn)題?! ∥覀冞@款無(wú)線(xiàn)通信模組,使用Silicon Labs EFR32系列無(wú)線(xiàn)SOC芯片,硬件板子做好后,需要測試EFR32無(wú)線(xiàn)模組的射頻性能,于是,就需要將相應的測試軟件燒錄到芯片中,并且這個(gè)測試軟件需要按照模塊設計的射頻參數和硬件引腳來(lái)設定,例如中心頻率,通信速率,控制命令交互使用的uart引腳等?! ∵@時(shí)就需要我先配置一份新的測試代碼工程并設定好參數,編譯這個(gè)工程代
- 關(guān)鍵字: 硬件工程師,調試
新PCB板調試方法和經(jīng)驗總結
- 對于一個(gè)新設計的電路板,調試起來(lái)往往會(huì )遇到一些困難,特別是當板比較大、元件比較多時(shí),往往無(wú)從下手。但如果掌握好一套合理的調試方法,調試起來(lái)將會(huì )事半功倍。對于剛拿回來(lái)的新PCB板,我們首先要大概觀(guān)察一下,板上是否存在問(wèn)題,例如是否有明顯的裂痕,有無(wú)短路、開(kāi)路等現象。如果有必要的話(huà),可以檢查一下電源跟地線(xiàn)之間的電阻是否足夠大。 然后就是安裝元件了。相互獨立的模塊,如果您沒(méi)有把握保證它們工作正常時(shí),最好不要全部都裝上,而是一部分一部分的裝上(對于比較小的電路,可以一次全部裝上),這樣容易確定故障范圍,
- 關(guān)鍵字: PCB 調試
從調試電路中體會(huì )到的東西
- 前段時(shí)間一直在調試紅外測溫儀的硬件,有一些心得,歸納之,分享之: 一、出現的問(wèn)題: 1、校準不方便、下載難;內部元件間干擾大。 2、溫度顯示數值不穩定,上下跳動(dòng)。 3、溫度到達900℃后有個(gè)15℃的跳動(dòng)。 二、分析問(wèn)題: 1、下載端口設計不正確,只引出在線(xiàn)調試等端口,沒(méi)有把RXD、TXD引出來(lái);PCB設計不合理,布線(xiàn)布局亂。 2、內部供電問(wèn)題,測試得電源紋波很大,特別是MCU基準電壓那的紋波影響很重要,越小就越好。 3、溫度上升時(shí)用示波器測得ADC輸入波
- 關(guān)鍵字: 調試 RC電路
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
