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MOS管的導通條件和MOS驅動(dòng)電流計算

作者: 時(shí)間:2023-12-20 來(lái)源:騎著(zhù)蝸??聪蚴澜?/span> 收藏

**1. 關(guān)于的極限參數說(shuō)明:**

本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/202312/454092.htm



在以上圖中,我們需要持續關(guān)注的參數主要有:

a. **ID(持續漏極電流)**:該參數含義是mos可以持續承受的電流值,在設計中,產(chǎn)品的實(shí)際通過(guò)電流值應遠小于該值,至少應小于1/3以下,例:該mos管的使用持續電流應小于50A。

b. **PD(mos管的最大耗散功率)**:該參數是指設計中,實(shí)際通過(guò)mos管的電流與漏源兩端的電壓差值乘積,不應大于該值。 所以該值的很大程度取決于mos管中實(shí)際流過(guò)的電流值。

c. **Vgs(柵源電壓范圍)**:該值表示在mos管的實(shí)際開(kāi)啟關(guān)閉中,GS間所能承受的最大電壓范圍。

d. **VDSS(漏源間可承受的最大電壓差值)**:該值一般我們看最小電壓值,在實(shí)際設計中mos管DS端的電壓差值也應遠小于該值,并留有較大余量。(例如該mos管為75V,那么實(shí)際設計可承受的電壓值應小于40V)。

**2. 關(guān)于mos管開(kāi)啟電壓參數說(shuō)明:**

一般在datasheet中,我們一般都只僅僅關(guān)注了兩個(gè)參數值,如下圖中參數:



我們許多初級的設計師,在使用mos管一般就會(huì )僅僅只關(guān)注這兩個(gè)參數,即Vgs max與vgs th。

vgs max在上面參數中,我們已有說(shuō)明。

這里我們重點(diǎn)說(shuō)明下**vgs th**這個(gè)參數:

在該mos管中,該值的范圍為2v~4v之間,mos工作在放大區域。 即mos管的導通溝道沒(méi)有完全形成,這時(shí)的mos管是極其脆弱的。如果此時(shí)我們在mos管DS間設計大的電壓,就可能會(huì )導致mos管的損壞,具體的原因是mos管沒(méi)有完全導通,而此時(shí)DS壓差又很大,又因為mos管自身有電阻的影響,所以導致此時(shí)通過(guò)mos管的電流也是比較大的。

這里就需要說(shuō)明mos管的另外兩個(gè)概念,即:**預夾斷&夾斷**。

mos管的預夾斷:對于N溝道增強型MOS,只要VGS>VGSth,mos管DS之間就會(huì )出現反型層(即mos管已經(jīng)導通,并在DS間形成了一條通道,該通道形成是因為柵極電壓VGS的增大,將電子吸引至耗盡層形成),然后這時(shí)我們在mos管的DS間設置電壓,D端連接電源正極,S端連接電源負極。那么問(wèn)題就出現了,由于mos管的D端帶有正電壓,而形成的通道中帶有負電,所以此時(shí)D端就會(huì )出現對通道中電子的吸引。導致耗盡通道中靠近D端的通道越來(lái)越窄,而在S端的通道越來(lái)越寬的情況(排斥)。如下圖所示。




此時(shí)隨著(zhù)VDS的逐漸增大,當VDS=VGS-VGS th時(shí),溝通在漏極一端恰好消失,此時(shí)就稱(chēng)為預夾斷。

mos管的夾斷:如果此時(shí)的D端電壓持續升高,即當VDS>VGS- VGS th時(shí),那么的D端反型層將徹底消失,出現了夾斷區域。若此時(shí)VGS、VDS持續上升 ,那么S端的電子就會(huì )不受VGS控制,直接經(jīng)過(guò)空間電荷區到達漏極,這就會(huì )導致DS間直接導通,此時(shí)mos管將損壞。


以上的預夾斷和夾斷將使我們引出MOS管的 I-V曲線(xiàn)概念:


看完以上參數延申出來(lái)的問(wèn)題就是,VGS電壓值我們到底應該怎么選呢?它寫(xiě)的2~4v,那么設計時(shí)VGS只要大于4V,比如5V就可以了呢?

相信如果你理解了以上參數后,基本就會(huì )明白。 在設計時(shí),我們不能僅僅只看VGSth的限制電壓,還需要結合VDS電壓進(jìn)行判斷。


**3. 關(guān)于MOS管開(kāi)啟時(shí),對于柵極的電流是否有要求呢?**

這個(gè)問(wèn)題主要是很多時(shí)候的很多同學(xué),都會(huì )提出反駁的意見(jiàn)。根據課本上學(xué)習的知識,MOS管是電壓型控制器件,所以開(kāi)關(guān)時(shí)對于柵極的電流沒(méi)有任何要求。 其實(shí)這樣的理解是不正確的。 這里就需要再重新理解下MOS管的開(kāi)關(guān)過(guò)程。我們需要引入MOS管的寄生電容與米勒效應。


圖中的CGD和CGS和CDS都是mos管的寄生電容,它是由于mos管的生產(chǎn)工藝決定的。

看到這里的電容相信很多同學(xué)就明白了,我們?yōu)槭裁凑f(shuō)MOS管的開(kāi)關(guān)也需要柵極電流的參與。我們可以這樣理解,當我們柵極接通電壓后,那么此時(shí)將先給CGS充電,當CGS充滿(mǎn)電后,才會(huì )進(jìn)一步打開(kāi)mos管。同理我們都知道電容充電時(shí)的電流要求是比較大的,如果此時(shí)我們的柵極不能提供足夠的電流能量,那么VGS處于米勒平臺的時(shí)間將會(huì )特別長(cháng),顯然這不是我們想要的結果。如下圖


所以為了使mos管快速導通,我們就需要在柵極提供足夠大的電流,來(lái)使mos管快速導通。那么導體需要多大的電流才合適呢?這個(gè)其實(shí)可以通過(guò)datasheet提供的參數Qgs Qgd Qg(此處的單位為電荷量的庫侖)進(jìn)行計算出來(lái)。


下面我們根據此MOS計算mos管柵極打開(kāi)時(shí),所需的電流值,公式如下:


**此處的FSW代表的為mos管開(kāi)關(guān)頻率,QG則代表的是mos管寄生電容值(一般我們取最大值)。

以該mos管的QG=170nc,FSW=500K為例計算:

IG=500*170=85000uA=85mA(所以從此處可以看出,當開(kāi)關(guān)頻率越高時(shí),柵極所需要的驅動(dòng)電流越大),顯然這樣的電流不是我們一般IO管腳可以提供的,所以我們一般采用到了推挽電路(推挽電路需考慮三極管器件的0.7V壓降)或者專(zhuān)用的驅動(dòng)芯片進(jìn)行驅動(dòng)**。

**4. MOS管的SOA參數說(shuō)明:**

最后,我們還需要提一下mos管另一個(gè)重要曲線(xiàn),即mos管的SOA曲線(xiàn)。如下圖,在這張圖中我們呢就可以根據我們實(shí)際的使用場(chǎng)景,來(lái)判斷出MOS管的持續通電時(shí)間,即高電平占空比即周期。


藍色:在VDS電壓比較小時(shí),ID通過(guò)的電流大小主要由MOS管的RSDS(on)來(lái)進(jìn)行限制。在該區域內,當VGS電壓與環(huán)境溫度條件不變時(shí)時(shí),我們近似把RDSON看似一個(gè)定值,由此得出VDS= ID · RDS(ON)。

黃色:在VDS升高到一定的值以后,MOS的安全區域主要由MOS的熱阻相關(guān)也就是耗散功率來(lái)進(jìn)行限制,而DC曲線(xiàn)則表示當流過(guò)電流為連續的直流電流時(shí),MOSFET可以耐受的電流能力。其它標示著(zhù)時(shí)間的曲線(xiàn)則表示MOSFET可以耐受的單個(gè)脈沖電流(寬度為標示時(shí)間)的能力。單次脈沖是指單個(gè)非重復(單個(gè)周期)脈沖,單脈沖測試的是管子瞬間耐受耗散功率(雪崩能量)的能力,從這部分曲線(xiàn)來(lái)看,時(shí)間越短,可以承受的瞬間耗散功率就越大。

紅色:MOS管所能承受的最大脈沖漏極電流,也是對最大耗散功率進(jìn)行了限制。

綠色:MOS管所能承受的VDS最大電壓,如果VDS電壓過(guò)高,PN結會(huì )發(fā)生反偏雪崩擊穿,造成MOS管損壞。




關(guān)鍵詞: MOS管 電路設計

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