如何判定雜散來(lái)源？

直接數據頻率合成器（DDS）因能產(chǎn)生頻率捷變且殘留相位噪聲性能卓越而著(zhù)稱(chēng)。另外，多數用戶(hù)都很清楚DDS輸出頻譜中存在的雜散噪聲，比如相位截斷雜散以及與相位-幅度轉換過(guò)程相關(guān)的雜散等。此類(lèi)雜散是實(shí)際DDS設計中的 有限相位和幅度分辨率造成的結果。

其他雜散源與集成DAC相關(guān)——DAC的采樣輸出產(chǎn)生基波和相關(guān)諧波的鏡像頻率。另外，因DAC非理想的開(kāi)關(guān)屬性可能導致低階諧波的功率水平升高。最后一種雜散源是在系統時(shí)鐘頻率的基波與任何內部分諧波時(shí)鐘（例如，ADI直接數字頻率合成器提供的SYNC_CLK）之間產(chǎn)生的混頻產(chǎn)物。

上述雜散噪聲的全部已知來(lái)源都可根據相對于DDS/DAC輸出處基波信號的頻率偏移進(jìn)行預測。以下內容旨在幫助您確定DDS輸出信號頻譜中的雜散源。如果通過(guò)改變DDS頻率調諧字使雜散與DDS/DAC相關(guān)，則并不難確定雜散源。這是因為改變調諧字時(shí)，上述所有雜散噪聲的頻率偏移均隨基波變化。

如何確定DDS輸出信號頻譜中的雜散源

例如，24 MHz基波有一個(gè)72 MHz的三階諧波。如果DDS系統時(shí)鐘為100 MHz，則三階諧波與系統時(shí)鐘的產(chǎn)物會(huì )折回到至28 MHz，與基波僅偏移4 MHz。如果基波增加10 KHz至24.010 MHz，則新的后疊積將偏移基波3.97MHz，這是可以提前預測的。

如果無(wú)論頻率調諧字如何變化，雜散相對基波的頻率偏移均保持不變，則DDS/DAC不是雜散源。相反，如果雜散相對基波的頻率偏移隨DDS調諧改變而變化，則DDS/DAC很可能是雜散源。通過(guò)確保頻率調諧字變化包括頻率調諧字的截斷部分和未截斷部分，可為發(fā)現雜散源帶來(lái)方便。截斷部分一般為調諧字的14位至19位(MSB)。

當DDS頻率調諧字發(fā)生變化時(shí)，相對基波（載波）的頻率偏移不發(fā)生改變的雜散一般分為兩類(lèi)：

●  要么以某種方式耦合至DDS電源；

●  要么是驅動(dòng)DDS的參考時(shí)鐘源上的一個(gè)元件。

注意，如果DDS的內部參考時(shí)鐘乘法器(PLL)被啟用，則DDS輸出同樣存在相對于基波的固定邊帶雜散，其頻率偏移等于參考時(shí)鐘頻率。

參考時(shí)鐘源雜散

圖1所示為DDS的500 MHz參考時(shí)鐘，由一個(gè)100 KHz音實(shí)現10%的AM調制。該參考時(shí)鐘源是一款Rohde andSchwartz具有調制功能的SMA信號發(fā)生器。圖1中的灰色線(xiàn)為無(wú)調制條件下的參考時(shí)鐘。

圖1. DDS的500 MHz參考時(shí)鐘

（由一個(gè)100 kHz音(藍色線(xiàn))實(shí)現10%的AM調制）

圖2中，同一100 KHz音以完全相同的頻率偏移傳輸到DDS/DAC輸出，不受調諧字頻率影響。圖2中的頻率調諧字表現出四個(gè)相互疊加的不同DDS載波。注意，在全部四個(gè)載波改變時(shí)，參考時(shí)鐘雜散的頻率偏移保持不變；但該雜散的幅度以20 log(x)為單位發(fā)生變化，其中，x為參考時(shí)鐘頻率與DDS載波頻率之比。

圖2. 四個(gè)DDS輸出載波表現出100 kHz雜散產(chǎn)生的效應，該雜散對DDS的參考時(shí)鐘(500 MHz)進(jìn)行AM調制

開(kāi)關(guān)電源雜散

圖3和圖4展示了DDS電源上的雜散（如開(kāi)關(guān)電源）與DDS輸出之間的關(guān)系。注意，如前所述，在相對于相同的載波變化時(shí)，它們也保持相同的固定頻率偏移。

圖3. 四個(gè)DDS輸出載波表現出150 kHz雜散產(chǎn)生的效應，該雜散對DDS的電源進(jìn)行AM調制

圖4為DDS電源的實(shí)際時(shí)域，其中，一個(gè)150 kHz調制音施加于DDS電源之上，以仿真電源開(kāi)關(guān)雜散。

圖4. 150 kHz音(16 mV p-p)通過(guò)一個(gè)函數發(fā)生器施加于DDS電源之

DDS參考時(shí)鐘或電源（一般為AVDD）上的雜散會(huì )對DDS輸出產(chǎn)生一定的影響。結果，當載波變化時(shí)，以載波為中心的邊帶將保持不變。因此，調諧字發(fā)生變化時(shí)，如果在DAC/DDS輸出中觀(guān)察到固定雜散，則應檢查參考時(shí)鐘源和DDS電源中是否存在雜散。