語(yǔ)音模塊音頻輸出噪聲失效分析與研究
摘 要:隨著(zhù)社會(huì )發(fā)展空調控制裝置也在與時(shí)俱進(jìn),由目前的遙控器、手操器、觸屏手動(dòng)模式控制向聲控轉變,通過(guò)人聲能夠遠距離進(jìn)行聲控控制,即通過(guò)將人的語(yǔ)言轉換成計算機可讀的語(yǔ)言進(jìn)行空調各項功能執行操作,再通過(guò)DAC芯片將數字信號轉換成模擬信號音頻輸出執行結果。實(shí)際使用中反饋麥克風(fēng)或音箱出現不同程度的沙沙聲,對語(yǔ)音模塊電路分析音頻輸出信號出現噪聲導致。經(jīng)過(guò)對語(yǔ)音模塊電路分析、系統軟件分析及模擬驗證分析,確認為語(yǔ)音模塊存在設計缺陷,時(shí)鐘頻率在高頻狀態(tài)下電壓margin存在不足,導致音頻信號錯亂而出現喇叭“沙沙聲”。通過(guò)對語(yǔ)音模塊軟件設計降低時(shí)鐘頻率及檢測方法的完善,提升語(yǔ)音模塊整體使用的可靠性。
0 引言
人機交互模式操控平臺各種各樣,其作用主要實(shí)現人與機器的交流,靠設備的輸入輸出和軟件的流程控制來(lái)完成人機交互功能。家用電器中空調實(shí)現人機交互的設備主要為遙控器、手操器、觸控屏等裝置,隨著(zhù)計算機技術(shù)的不斷發(fā)展,人們的需求在不斷地增加,需要操控的功能也越來(lái)越強,如播放流行歌曲、當前的天氣狀態(tài)、講個(gè)笑話(huà)、現在的日期等,同步需要的操作指令也在增多,傳統的操作模式已經(jīng)滿(mǎn)足不了現代發(fā)展的需求,語(yǔ)音交互模式脫穎而出,它可以識別人的語(yǔ)言實(shí)現對空調各項功能的操作,并對操作的結果進(jìn)行設備輸出反饋,高度集成、及結合人機交互功能特性的語(yǔ)音模塊成為空調產(chǎn)品的優(yōu)選。由于其本身硬件、軟件的復雜性,其存在異常時(shí)將影響輸入、輸出信號的正常反饋,將影響用戶(hù)對空調的使用體驗,因此語(yǔ)音交互平臺可靠性的問(wèn)題急需研究解決。
1 語(yǔ)音模塊音頻輸出噪聲不良原因及失效機理分析
在空調生產(chǎn)過(guò)程中,引入使用A 廠(chǎng)家語(yǔ)音模塊在實(shí)際生產(chǎn)及用戶(hù)使用過(guò)程中出現多次投訴事故,反饋空調語(yǔ)音播報失效出現語(yǔ)音聲控異?,F象,失效語(yǔ)音模塊通電測試故障復現,人機交互是揚聲器播報有沙沙聲現象,如圖1 語(yǔ)音模塊PCBA。
圖1 語(yǔ)音模塊PCBA
語(yǔ)音模塊沙沙聲主要是音頻信號輸出異常導致,分析可能的原因有音頻輸出電路器件失效、焊接等失效異?;蛘哕浖惓е螺敵鲆纛l信號有沙沙聲。
1.1 語(yǔ)音模塊外觀(guān)、焊接檢查
對故障語(yǔ)音模塊使用放大鏡觀(guān)察元器件無(wú)受損及焊接異常、X-RAY 掃描未發(fā)現焊接異常,核實(shí)外觀(guān)檢查均未發(fā)現裝配問(wèn)題,如圖2。
圖2 外觀(guān)檢查(左),X-RAY掃描(中、右)
1.2 上電測試電性能參數
對失效語(yǔ)音模塊上電測試,語(yǔ)音交互測試時(shí)故障現象沙沙聲復現,語(yǔ)音模塊關(guān)鍵性能參數電壓值、電流值均在正常范圍內,如圖3。
1)電流參數:顯示整機運行時(shí)電流實(shí)際測試值為264 mA,符合要求范圍170~270 mA;
2)電源電壓參數:5 V 源電壓實(shí)際測試值為5.22 V,符合要求范圍4.6~5.5 V;
3)MIC 電壓參數:MIC 電壓實(shí)際測試值為3.32 V,符合要求范圍1.7~3.6 V。
圖3 語(yǔ)音模塊通電測試
1.3 關(guān)鍵端口參數測試
測試故障品揚聲器、通訊、麥克風(fēng)端口的PN 值與正常品對比,測試結果一致,未發(fā)現異常,如表1。
表1 各端口參數測試PN值
1.4 抗干擾試驗
針對外部電磁信號干擾試驗驗證,通過(guò)不加磁環(huán)及在強電場(chǎng)附近驗證,均未發(fā)現異常(如圖4)。
1)語(yǔ)音模塊裝整機不加磁環(huán)均可以正常工作,測試30 min 未出現播報異常。
2)整機裝配使用語(yǔ)音模塊,在主板附件放置通電線(xiàn)、整機不加磁環(huán)驗證語(yǔ)音功能正常,測試30 min 未出現破音故障。
圖4 語(yǔ)音模塊裝整機通電驗證(左放置強電線(xiàn),右整機不加磁環(huán))
1.5 波形測試
1)揚聲器波形測試
異常品揚聲器波形輸出異常,幅值偏大,峰- 峰值為8.2 V 的雜波,正常波形為幅值在3.16~3.3 V 之間有序的正弦波,如圖5(左圖為異常品波形,右圖為正常品波形):
圖5 揚聲器波形輸出測試
2)芯片DAC 波形測試
測量正常工作狀態(tài)下,芯片DAC 輸出波形正常,如圖6。
圖6 正常品芯片DAC 輸出波形
喇叭出現“沙沙聲”時(shí),芯片DAC 輸出波形已經(jīng)出現異常,可以看到明顯的噪聲,與異常品揚聲器波形輸出一致,如圖7。
圖7 異常品芯片DAC 輸出波形
3)芯片DAC 集成在MCU 主控中,分析語(yǔ)音模塊揚聲器播報有沙沙聲失效因素與MCU 主控芯片有關(guān),如圖8。
圖8 語(yǔ)音模塊架構
1.6 語(yǔ)音模塊Logic電壓測試
測試語(yǔ)音模塊MCU 主控芯片的Logic 電壓進(jìn)行測試,發(fā)現PCBA 中對應的VDD_LOG 電壓與正常品對比存在異常,出現沙沙聲異常的普遍偏低。
測試VDD_LOG 電壓,售后故障件電壓在0.946 V,合格電壓在1.105 V,通過(guò)電壓測試對比發(fā)現合格的VDD_LOG 電壓在1.1 V 左右,故障品VDD_LOG 電壓都在1.0 V 以下。
2 語(yǔ)音模塊噪聲失效模擬實(shí)驗驗證復現
2.1 將故障品PCBA配置Logic電壓,降頻試驗:
1)VDD_LOG@0.95 V:Clk_I2S_FRAC_IN=1.2 G,有喇叭雜音;
2)VDD_LOG@0.95 V:Clk_I2S_FRAC_IN=600 M,拷機24 h,正常無(wú)雜音;
3)VDD_LOG@0.95 V:Clk_I2S_FRAC_IN=1.2 G,拷機24 h,正常無(wú)雜音。
雜音原因分析:Clk_I2S_FRAC_IN=1.2 G 時(shí),VDD_LOG@0.95 V 用0.95 V 電壓不足,通過(guò)I2S 降頻或VDD_LOG 提升電壓可以解決雜音問(wèn)題。
2.2 將芯片從PCBA拆下重新植球后在SLT&SVB測試,測試結果如表2。
表2 模擬驗證結果
名稱(chēng) | LOD_ID | SLT測試 | SVB工程機測試 | 結果 |
MCU 主控 | 默認 配置 | PASS | 默認配置(VDD_LOG@1.05 V) | 未見(jiàn) 異常 |
將VDD_LOG降低到0.95 V 出現 | 出現 雜音 | |||
將Clk_I2S_FRAC_IN由1.2 GHz降低到600 MHz, 同時(shí)降低電壓到0.95 V | 未見(jiàn) 異常 |
1)SLT 與SVB 工程機默認配置未見(jiàn)異常,表明芯片是OK 品;
2)將VDD_LOG 降低到0.95 V 可以復現雜音現象;
3)將由1.2 GHz 降低到600 MHz 后,雜音現象消失。
綜上所述:芯片存在“正態(tài)分布”,IC 內部有“自適應”電壓機制,屬于A(yíng)P 型主控行業(yè)內做法。對于分布在一般性能的IC,VDD_LOG 電壓適配在1.05 V;對于分布在高性能(小比例)的IC,VDD_LOG 電壓適配在0.95 V。VDD_LOG 在0.95 V 時(shí)也存在“正態(tài)分布”,故障樣品0.95 V的“正態(tài)分布”稍差一點(diǎn)。在I2S_in 時(shí)鐘頻率1.2 GHz 狀態(tài)下,電壓margin 不足導致音頻信號錯亂而出現喇叭“沙沙聲”。
圖9 VDD_LOG所處電路圖
3 音模塊音頻輸出可靠性提升方案
對語(yǔ)音模塊失效因素及失效機理分析要因,主要為時(shí)鐘頻率過(guò)高、軟件匹配性不足、Logic 電壓過(guò)程監控不足方面進(jìn)行可靠性改善。具體可靠性提升方案如下:
● 當限制VDD-LOG 的最低電壓為1.05 V,將CLKI2S-FRAC-IN 的時(shí)鐘源由1.2 GHz 切換到600 MHz,關(guān)閉由VDD 電壓margin 不足導致的喇叭沙沙聲;
● 軟件改善,通過(guò)軟件優(yōu)化增加系統對VDD-log 電壓匹配的冗余率;
● 增加執行VDD-LOG“電壓測試”,確認SLT 芯片端的執行情況。
4 整改效果評估及應用效果驗證
1) 將I2S-in 音頻時(shí)鐘頻率由1.2 GHz 降低為600 MHz 時(shí)故障現象消失,上電播音老化72 h,未見(jiàn)異常;
2)默認1.2 GHz 配置時(shí),將VDD-LOG 抬壓后,
VDD-LOG 電壓不低于1.05 V,故障現象消失,上電播音老化72 h 未見(jiàn)異常;
3)限制VDD-LOG 的最低電壓為1.05 V,同步CLKI2S-FRAC-IN 的時(shí)鐘源由1.2 GHz 切換到600 MHz。關(guān)閉由時(shí)鐘源頻率過(guò)高的情況下VDD 電壓margin 不足導致的喇叭沙沙聲,上電播音老化720 h 未見(jiàn)異常。
4) 對3) 調整驗證的結果,增加執行VDD-LOG“電壓測試”,目前再未反饋VDD-LOG 電壓低、使用語(yǔ)音模塊播報出現噪聲異常。
5 語(yǔ)音模塊音頻輸出改善意義
本文結合失效現象,對語(yǔ)音模塊音頻輸出噪聲的失效原因及失效機理分析,分析結果表明語(yǔ)音模塊在設計初期試驗設計評估不足,在后續使用時(shí)出現運行故障,即播報出現沙沙聲異?,F象,經(jīng)過(guò)對語(yǔ)音模塊重新試驗評估并進(jìn)行調整驗證,從語(yǔ)音模塊試驗設計初期進(jìn)行試驗評估完善,提高產(chǎn)品研發(fā)初期各項數據參數評估的可靠性。該整改思路通用性強,相關(guān)整改方案已經(jīng)得到實(shí)際跟蹤驗證,可廣泛運用于語(yǔ)音模塊產(chǎn)品設計試驗驗證過(guò)程中,整改思路及可靠性提升方案行業(yè)均可借鑒。
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