使用兩個(gè)具有多DAC同步功能的AD9139器件進(jìn)行寬帶基帶I/Q發(fā)射器設計
Circuits from the Lab?參考設計是經(jīng)過(guò)測試的參考設計,有助于加速設計,同時(shí)簡(jiǎn)化系統集成,幫助并解決當今模擬、混合信號和RF設計挑戰。 本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/202004/411700.htm | 連接/參考器件 | |
AD9139 | 單通道、1.6 GSPS、16位、TxDAC?數模轉換器 | |
ADL5375 | 寬帶正交調制器 | |
AD9516-1 | 14路輸出時(shí)鐘發(fā)生器,集成2.5 GHz VCO |
評估和設計支持
電路評估板
AD9139/ADL5375評估板(AD9139-DUAL-EBZ)
數字模式發(fā)生器評估板(AD-DPG3)
設計和集成文件
原理圖、布局文件、物料清單、軟件
電路功能與優(yōu)勢
圖1所示的這個(gè)電路提供一個(gè)同步寬頻帶發(fā)射器,可支持高達1150 MHz的超寬I/Q帶寬。該設計證明了高帶內信號性能,如高無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍(SFDR)、低誤差矢量幅度(EVM)和寬頻帶范圍內的平坦頻率響應。
多個(gè)通道間的同步性能對于象限誤差校正(QEC)尤為重要。啟用多芯片同步時(shí),轉換器之間的延遲失配可能在一個(gè)時(shí)鐘周期內,并且存在對齊良好的同步時(shí)鐘。
高速同步的挑戰是要在過(guò)程、電壓和溫度(PVT)中達到數模(DAC)時(shí)鐘周期的精度。要達到這種精度,需要在DAC上實(shí)施同步邏輯塊,并且必須在板上精心設計布局和時(shí)鐘方案以與同步邏輯塊配合使用。
該電路可用于支持E頻段中的寬帶點(diǎn)對點(diǎn)應用,這可同時(shí)確保零中頻(ZIF)和復中頻(CIF)。出色的同步性能使其能夠支持雷達等應用中的嚴格對齊要求。
圖1.AD9139-DUAL-EBZ評估板功能框圖
圖2.用于實(shí)現電路的AD9139-DUAL-EBZ評估板
電路描述
圖2所示的電路板使用雙AD9139單通道TxDAC、ADL5375-05寬帶正交調制器和AD9516-1時(shí)鐘發(fā)生器。
AD9139的數據時(shí)鐘輸入(DCI)頻率可高達575 MHz。由于在上升沿和下降沿捕獲的數據均饋入單個(gè)DAC,1×模式下的數據速率可高達1150 MSPS。為支持正交數據,使用了兩個(gè)AD9139器件來(lái)生成基帶數據。每個(gè)通道的模擬輸出分別進(jìn)入自己的低通濾波器。因此,參考設計可支持高達1150 MHz的復合帶寬,如圖3所示。在如此大范圍中的平坦度至關(guān)重要。由于A(yíng)D9139包括一個(gè)可抵消DAC的內在sinc滾降影響的反sinc濾波器,DAC后的濾波器平坦度變得對總平坦度至關(guān)重要。對于并行低電壓差分信號(LVDS)接口,575 MHz的DDR時(shí)鐘頻率很高。需要仔細設計LVDS接口的時(shí)序。
圖3.雙AD9139器件的最大帶寬
正交調制器
ADL5375-05是一款寬帶正交調制器,輸出頻率范圍為400 MHz至6 GHz。ADL5375-05作為I/Q調制器與AD9139接口,該調制器的頻率范圍很寬,為400 MHz至6 GHz。AD9139的輸出和ADL5375-05的輸入共用0.5 V的相同共模電平。
時(shí)鐘產(chǎn)生和考慮事項
考慮到同步要求,兩個(gè)AD9139器件的DACCLK、同步時(shí)鐘和幀時(shí)鐘都必須對齊良好。AD9516-1支持必需的時(shí)鐘分配功能,以及為產(chǎn)生更高頻率而集成的壓控振蕩器(VCO)和鎖相環(huán)(PLL)。禁用VCO和PLL,并且AD9516-1處于時(shí)鐘分配模式時(shí),更好的時(shí)鐘相位噪聲更利于高速對齊。作為時(shí)鐘分配模式使用時(shí),在1 GHz輸出,分頻比為1,10 MHz頻偏處,加性相位噪聲為147 dBc/Hz。Rohde & Schwartz SMA100A具有出色的相位噪聲性能,用其作為AD9516-1的輸入時(shí),AD9516-1的輸出總相位噪聲接近時(shí)鐘分配模式下AD9516-1的最小限值。
AD9139的多芯片同步
雙通道間的同步對于QEC至關(guān)重要。DACCLK和同步時(shí)鐘之間需要布局對稱(chēng)。此外,DACCLK和同步時(shí)鐘之間的相位不得落在建立和保持時(shí)間窗口內(也稱(chēng)為保持在窗口外(KOW))。
同步機制可以達到在DAC輸出上多個(gè)通道之間在PVT中的失配小于一個(gè)DAC時(shí)鐘周期。以下是實(shí)現測試性能的指南:
1. DACCLK 1和DACCLK 2必須在A(yíng)D9139的引腳上對齊良好。DACCLK 1和DACCLK 2之間的不匹配將添加到輸出上的最終不匹配中。
2. 同步時(shí)鐘1和同步時(shí)鐘2必須對齊良好,并且分別由DACCLK1和DACCLK2采樣,用作參考。
3. DACCLK和同步時(shí)鐘之間的相對相位不得落在KOW內,如圖4所示。
圖4.DACCLK和同步時(shí)鐘之間的時(shí)序要求
LVDS接口設計
DCI = 575 MHz時(shí),在PVT中設計LVDS接口通常是一個(gè)挑戰。本節用一個(gè)例子說(shuō)明如何設計和優(yōu)化該接口。
以圖5為例,DCI = 491 MHz。根據AD9139數據手冊規格,如果DCI和DATA的邊緣在A(yíng)D9139的引腳上對齊良好,當延遲鎖相環(huán)(DLL)相位設置為零時(shí),KOW(設置時(shí)間 + 保持時(shí)間)可置于有效窗口中間。
數據有效裕量由如下公式定義。
TDATA VALID MARGIN = TDATA PERIOD ? TDATA SKEW ? TDATA JITTER ? (THOLD + TSETUP)
在整個(gè)過(guò)程變化、電壓和溫度中,TDATA VALID MARGIN必須> 0以確保數據的正確采樣。
When DCI = 491 MHz (see Figure 5),
DCI = 491 MHz(見(jiàn)圖5)時(shí),
● TDATA PERIOD = 1018 ps
● THOLD + TSETUP = 517 ps
● TDATA SKEW + TDATA JITTER在PVT中必須小于501 ps,這是用戶(hù)實(shí)施的要求。TDATA SKEW包括LVDS數據總線(xiàn)延遲失配、PVT中DCI和DATA總線(xiàn)之間的偏斜等。
要優(yōu)化接口設計,用戶(hù)可執行以下操作:
● 在印刷電路板(PCB)上用盡可能短的相同長(cháng)度的走線(xiàn)。
● 通過(guò)確保以下各項,優(yōu)化現場(chǎng)可編程門(mén)陣列(PFGA):
● DCI和DATA的邊緣在A(yíng)D9139的引腳上對齊良好。
● 在溫度和電壓變化時(shí),DCI和DATA之間的漂移越小越好。
● DCI和DATA之間的抖動(dòng)越小越好。
掃描DLL相位后,AD9139的樣本錯誤檢測(SED)功能也可用于檢查DCI和DATA之間的時(shí)序關(guān)系。
圖5.LVDS時(shí)序要求
低通濾波器設計
出于實(shí)驗目的,為了使AD9139的性能不被濾波器限制,在板上設計了一個(gè)在240MHz內具有良好平坦度和群延遲性能的濾波器。在實(shí)際產(chǎn)品開(kāi)發(fā)中,可以通過(guò)增加濾波器的階數來(lái)增強帶外抑制。
圖6所示的濾波器拓撲結構是一個(gè)五階巴特沃茲濾波器,轉折頻率為900 MHz。此濾波器的仿真響應曲線(xiàn)如圖7所示。仿真平坦度為±0.1 dB(直流至240 MHz)。此濾波器的仿真群延遲曲線(xiàn)如圖7所示。
圖6.推薦的DAC調制器接口拓撲(Fc = 900 MHz,五階巴特沃茲濾波器)
圖7.DAC調制器與900 MHz五階巴特沃茲濾波器接口的頻率響應(模擬)
圖8.濾波器的群延遲
布局建議
應特別注意AD9139和ADL5375接口的布局。以下是一些獲得較好噪聲和雜散性能的建議。圖9顯示了一個(gè)遵循這些建議的頂層布局圖:
● 將DAC、濾波器和調制器放在PCB的同一側。
● 收緊濾波器布局:減少L和C的禁區裕量。
● 將對地電容分三路接到GND平面。
● 縮短DAC到調制器的距離。
● 使所有I/Q差分走線(xiàn)長(cháng)度保持良好的匹配。
● 濾波器端接電阻盡可能靠近調制器輸入端放置。
● DAC輸出50 Ω電阻盡可能靠近DAC放置。
● L和C使用0402封裝。
● 加寬經(jīng)過(guò)濾波器網(wǎng)絡(luò )的走線(xiàn)以降低信號損耗。
● 在所有DAC輸出走線(xiàn)、濾波器網(wǎng)絡(luò )、調制器輸出走線(xiàn)和LO輸入走線(xiàn)周?chē)O置通孔。
● 將本振(LO)和調制器輸出走線(xiàn)布設在不同的層上或彼此成90°角,防止耦合。
圖9.一般布局建議
訪(fǎng)問(wèn) www.analog.com/CN0432-DesignSupport 獲取設計支持包,在隨附的AD9139-DUAL-EBZ布局文件中了解有關(guān)正確布局的更多信息。
電路評估與測試
下節描述如何設置和測試評估板。這些步驟概述了實(shí)現評估板功能和結果所需的基本步驟。有關(guān)更詳細的信息,請參閱AD9139-DUAL-EBZ評估板快速入門(mén)指南。
需要的設備
需要使用以下硬件:
● AD9139-DUAL-EBZ
● AD-DPG3
● Agilent E3631A電源(或同等電源)
● 頻譜分析儀PXA N9030A
● Rohde & Schwartz SMA100A信號發(fā)生器
● 帶USB端口的PC
● USB電纜
需要使用以下軟件:
● DPG downloader
● ACE軟件
測試設置
下節描述使用64 QAM數字調制測量鄰道功率(ACP)和調制誤差率(MER)性能的詳細信息。測試設置靈活,也可以執行其它測量。測試設置如下圖10所示。AD9139-DUAL-EBZ評估板的硬件、SPI軟件、快速入門(mén)指南(QSG)以及DPG3硬件和軟件均已發(fā)布。
使用一個(gè)Keysight E3631為P5/P6上的電路板提供5 V電源。使用一個(gè)R&S SMA100A為板上的AD9516-1提供輸入時(shí)鐘。再使用一個(gè)R&S SMA100A為ADL5375-05提供LO時(shí)鐘。AD9139通過(guò)串行外設接口(SPI)軟件進(jìn)行編程。PC上運行的DPGDownloader生成AD9139的發(fā)射矢量并將其下載至DPG3。ADL5375-05的輸出饋入Keysight PXA N9030A。
圖10.測試設置功能框圖
測量結果
圖11.ACP測量,LO = 2.5 G,BW = 6 × 80 = 480 MHz (CIF)
圖12.MER/EVM測量,LO = 2.5 G,BW = 6 × 80 = 480 MHz (CIF)
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