基于STM 32金屬檢測和分離系統的設計與實(shí)現
田大軍,王金枝,高華婷,劉洪波 (濟南正平自動(dòng)化設備有限公司,山東?濟南?250000)
摘? 要:本系統包括金屬檢測器、控制電路和分離系統三部分。主要原理是有1個(gè)發(fā)射線(xiàn)圈,2個(gè)接收線(xiàn)圈,發(fā) 射線(xiàn)圈,在通電后產(chǎn)生1個(gè)永久的交流電磁場(chǎng),2個(gè)接收線(xiàn)圈互相連接,在有金屬經(jīng)過(guò)2個(gè)金屬線(xiàn)圈時(shí)都會(huì )產(chǎn)生 信號變化,控制器在處理并判斷該信號之后,給出金屬信號。通過(guò)繼電器控制輸出給剔除裝置,將帶有金屬雜 質(zhì)的物料清除出去,對提高食品的安全性及保護精密工業(yè)機器具有重要的意義。
關(guān)鍵詞:金屬檢測;交流電磁場(chǎng);繼電器
0 引言
隨著(zhù)人們生活質(zhì)量的提高,對飲食安全和藥品安全 要求越來(lái)越高,相應的安全問(wèn)題也就得到人們的更加重 視,相應產(chǎn)品的金屬檢測系統設計的重要性也就日益顯 現出來(lái)。
本系統設計與探討了高精度金屬檢測系統,該系統 可用于塑料、食品、化工和其他行業(yè)的原料中進(jìn)行金 屬檢測和分離。它可以快速檢測并自動(dòng)分離原材料中的 鐵、銅、鋁和不銹鋼等金屬雜質(zhì),還可以安裝在注塑機 和擠出機等設備上。作為金屬檢測設備,金屬檢測和分 離系統廣泛用于塑料、添加劑或粉末狀材料的檢測,然 后再進(jìn)行下一步處理,以保護后續設備。它也可以用于 細粉產(chǎn)品,例如奶粉和化學(xué)添加劑,進(jìn)行質(zhì)量測試;以 及食品工業(yè),制藥工業(yè),藥品和膠囊等細粉產(chǎn)品的組 合。這樣可以保證和提高設備的生產(chǎn)效率,相應也更能 提高產(chǎn)品的質(zhì)量,減少設備維護成本和停機造成的損 失,因此具有廣闊的應用市場(chǎng)和社會(huì )價(jià)值。
1 系統原理及結構
從結構方面看,該系統可以分成金屬檢測器、控制 器以及分離系統三大部分。同軸線(xiàn)圈包括起振電路、 發(fā)射線(xiàn)圈和接收線(xiàn)圈;控制器信主要包括信號采集和處 理、模數轉換電路、電源電路及簡(jiǎn)單的數碼管顯示電路 等。分離系統包括繼電器及相應的剔除裝置。其原理是 發(fā)射線(xiàn)圈通電后產(chǎn)生1個(gè)頻率為(30~600) kHz可調的 高頻交流電磁場(chǎng),兩個(gè)接收線(xiàn)圈相互連接,在有金屬 經(jīng)過(guò)接收線(xiàn)圈時(shí),2個(gè)接收線(xiàn)圈接收到的電磁場(chǎng)信號不 同,信號的相位和波幅引起信號的變化,利用檢波及放 大電路、DAC數模轉換電路等,在接收處理并判斷信 號后,給出金屬信號。單片機STM32F103的I/O口將得 到的金屬信號通過(guò)驅動(dòng)電路,來(lái)控制繼電器輸出給分離 器,將含有金屬雜質(zhì)的原料分離出去。
2 系統的功能組成
從功能方面,該系統主要包括振蕩電路、同軸線(xiàn)圈、檢波與放大電路、電源電路、模數轉換電路、數碼 管顯示和剔除裝置等。
金屬檢測與分離系統框圖如圖1所示。
2.1 金屬檢測線(xiàn)圈
金屬檢測線(xiàn)圈結構緊湊,由1個(gè)產(chǎn)生交變磁場(chǎng)的發(fā) 射線(xiàn)圈和2個(gè)檢測磁場(chǎng)感應變化的接收線(xiàn)圈組成。發(fā)射 線(xiàn)圈和接收線(xiàn)圈是同軸固定并且沒(méi)有偏移。發(fā)射線(xiàn)圈和 接收線(xiàn)圈均采用漆包線(xiàn)纏繞,外表面由尼龍材料固定, 穩定性高,整個(gè)線(xiàn)圈被檢測線(xiàn)圈包圍。如圖2所示,金 屬檢測線(xiàn)圈、發(fā)射線(xiàn)圈和接收線(xiàn)圈的示意圖彼此完全平 行,中間是發(fā)射線(xiàn)。高頻交流電會(huì )產(chǎn)生磁場(chǎng),并且線(xiàn)圈 的兩端都是接收線(xiàn)圈,因為2個(gè)接收線(xiàn)圈完全相同,間 距相同,并且感測信號完全相同。當金屬雜質(zhì)穿過(guò)線(xiàn)圈 時(shí),位于接收線(xiàn)圈附近的高頻磁場(chǎng)將被磁感應線(xiàn)依次切 斷,相位和幅度的變化會(huì )引起信號的變化,并且接收線(xiàn) 圈會(huì )發(fā)送該變化到差分放大電路進(jìn)行處理。
理想的狀態(tài)是原料產(chǎn)品和檢測到的金屬雜質(zhì)信號相 位成90°角,這樣金屬雜質(zhì)被成功檢測到,如圖3所示。 但是大多數情況下檢測到的原料和金屬雜質(zhì)不是理想的 90°角,大多數是介于0~90°角,這樣基本都能檢測到, 如圖4所示是正常狀態(tài)下的相位示意圖,還有另外一種 極端情況就是原料產(chǎn)品和金屬雜質(zhì)有著(zhù)相同的相位角, 這種情況下是無(wú)法檢測到金屬雜質(zhì)的,這是本系統設計 所存在的缺點(diǎn)。
2.2 主控制芯片
系統以STM32F103單片機為主控制芯片,該芯片 現在是大眾化市場(chǎng)產(chǎn)品,相應的外圍電路、晶體振蕩電 路、復位電路和下載口程序等技術(shù)都非常成熟,硬件設 計和后期調試過(guò)程也相對簡(jiǎn)單,且該芯片是基于要求高 性能、低成本、低功耗的嵌入式應用設計,完全能滿(mǎn)足系統可靠和穩定運行的能力。
2.3 電源電路
該系統對電源的要求比較高,而且芯片供電電壓也 不盡相同。本系統主要采用市電220 V給系統供電,由 于市電220 V各個(gè)地方會(huì )有波動(dòng)或者不穩定,就會(huì )給系 統造成很大的干擾,影響系統的精度及造成誤判,系 統中主要采用了2個(gè)AC 220 V-DC 15 V電壓轉換模塊及 相應的濾波器和濾波電路,將電壓轉換為較為穩定的 DC±15 V,然后利用傳統的LM78XX系列穩壓芯片得 到穩定的DC±12 V和DC 5 V電壓,并配有相應的指示 燈。這樣得到的電壓雜波少、穩定,而且受外界電壓干 擾比較少,可以滿(mǎn)足控制系統可靠穩定地工作。
2.4 檢波與放大電路
檢波放大電路主要是運放LT1122和NPN型三極管 BCP56-16T1G組成,分別將由DAC8043數模轉換的模 擬信號和接收線(xiàn)圈接收到的信號進(jìn)行濾波放大,將分析 處理后金屬信號最后傳給單片機,由單片機做出判斷和 處理。該處三極管BCP56-16T1G的基級是有DC±12 V 合成的基準電壓0 V,所以容易受到外圍電路電壓的影 響,故對供電電源要求比較高。
圖5是部分檢波與放大電路圖。
2.5 數模轉換電路
根據系統電路的要求,系統使用DAC8043作為數 模轉換電路芯片。它是8引腳PDIP封裝的高精度12位 CMOS乘法DAC。DAC8043具有串行數據輸入、雙緩沖和出色的模擬性能,是電路板設計和應用的理想選擇。 另外,線(xiàn)性度的改善及增益誤差性能的改善可以不需要 調整設備,這樣就可以減少元器件的數量。另外輸入時(shí) 鐘和負載DAC具有獨立的控制電路設計,使用戶(hù)可以完 全控制數據負載和模擬輸出。
該電路包括1個(gè)12位串行輸入、并行輸出移位寄 存器,1個(gè)12位DAC寄存器,1個(gè)12位CMOS的 DAC 和控制邏輯。串行數據在CLK脈沖的上升沿進(jìn)入輸入 寄存器。當輸入新的數據字時(shí),DAC寄存器通過(guò)LD 輸入引腳加載。
DAC寄存器中的數據通過(guò)數模轉換器 (DAC)轉換為輸出電流。 DAC8043具有快速接口定時(shí)功能,可減少定時(shí)設計 注意事項和微處理器等待狀態(tài)。對于需要異步清零或更 強大的微處理器接口邏輯的應用,DAC8043利用5 V單 電源供電,并采用其低功耗、高性能的解決方案。在系 統中使用其單放大器電路,滿(mǎn)足系統設計要求。具體應 用電路如圖6所示。
2.6 剔除裝置
原料產(chǎn)品需要經(jīng)過(guò)傳送帶才能通過(guò)檢測線(xiàn)圈內部通 道,在檢測線(xiàn)圈檢測到金屬雜質(zhì)時(shí),單片機就會(huì )通過(guò)驅 動(dòng)電路控制繼電器,從而控制外部機械設備自動(dòng)剔除含 有金屬雜質(zhì)的原料產(chǎn)品,這就是剔除裝置的原理。當然 可以根據實(shí)際需要設計多種樣式的剔除裝置,以滿(mǎn)足各 種類(lèi)型的原料產(chǎn)品的需要。
2.7 數碼管顯示
數碼管顯示主要是單片機驅動(dòng)的2個(gè)8位數碼管,其 主要作用是簡(jiǎn)單顯示錯誤代碼以及檢測到的金屬雜質(zhì)數 量等信息,輔助系統調試和系統正常工作時(shí)的一些提示 信息,提高系統的可視性。
3 結語(yǔ)
金屬檢測與分離系統的設計是依據電和磁的原理對 產(chǎn)品中的金屬雜質(zhì)切割磁感線(xiàn)產(chǎn)生相位和幅度的小脈 沖,進(jìn)而對此小脈沖進(jìn)行檢波與放大處理的過(guò)程,然后 去除含有金屬雜質(zhì)的原料,達到純化原料的目的,可應 用于食品和藥品,以及工業(yè)塑料等場(chǎng)合。產(chǎn)品的安全性 和質(zhì)量將提高到一個(gè)新的水平,并有良好的市場(chǎng)應用。
但是,該系統仍然受到許多技術(shù)問(wèn)題的困擾,例如 周?chē)ぷ鳝h(huán)境的影響,當原料和金屬雜質(zhì)的相角或相角 相對均勻時(shí),會(huì )影響金屬雜質(zhì)的檢測。將來(lái),應該努力 解決缺點(diǎn),以進(jìn)一步改善系統并提高系統的可靠性。
參考文獻:
[1] 王慶林.基于平衡線(xiàn)圈技術(shù)的金屬探測器設計[D].濟南:山東大 學(xué),2010.
[2] 藍天宇.基于DSP的金屬檢測系統設計[D].成都:西南交通大學(xué), 2009.
[3] 徐凱.論金屬探測器的發(fā)展與市場(chǎng)現狀[J].中國安防產(chǎn)品信息, 2004(1).
[4] 沈紅衛,等.STM32單片機應用與全案例實(shí)踐[M].北京:電子工業(yè) 出版社,2017.
[5] 王海魚(yú).一種高靈敏度金屬探測器的研究[D].哈爾濱:哈爾濱理 工大學(xué),2009.
[6] 張玥.基于Cortex-M3的金屬監測系統[D].北京:北京郵電大學(xué), 2013.
[7] 黃亞平.高頻電子線(xiàn)路[M].北京:機械工業(yè)出版社,2007.
本文來(lái)源于科技期刊《電子產(chǎn)品世界》2020年第03期第40頁(yè),歡迎您寫(xiě)論文時(shí)引用,并注明出處。
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