最新吉時(shí)利SMU模塊解決了低電流、高電容的棘手測試挑戰

近日，泰克科技公司日前宣布，為Keithley 4200A-SCS參數分析儀推出兩款最新源測量單元(SMU)模塊，即使在由于長(cháng)電纜和復雜的測試設置而產(chǎn)生高負載電容時(shí)，其仍能執行低電流測量。許多主要測試應用都面臨著(zhù)這一挑戰，如LCD顯示器制造和卡盤(pán)上的納米FET器件測試。

在被測器件本身電容很小的情況下，許多低電流測量應用中所需要的測試設置也會(huì )增加SMU輸出端的電容。當測試連接電容太大時(shí)，最終的低電流測量結果可能會(huì )變得不穩定。為解決這些挑戰，新模塊在提供電壓和測量電流時(shí)，支持的電纜長(cháng)度和連接電容都要超過(guò)傳統SMU。

最新4201-SMU和4211-SMU是為采用長(cháng)電纜、開(kāi)關(guān)矩陣、通過(guò)柵極接觸卡盤(pán)及其他夾具的測試裝置專(zhuān)門(mén)設計的。這就讓研究人員和制造測試工程師節省了大量的時(shí)間和成本，而這些時(shí)間和成本本來(lái)可以花費在故障排除和重新配置測試設置上。

“因為要降低電流來(lái)節省能耗，精細測試裝置所產(chǎn)生的高負載電容正成為一個(gè)日益嚴重的問(wèn)題。在測試智能手機或平板電腦采用的大型LCD面板時(shí)，就面臨著(zhù)同樣的問(wèn)題?！碧┛丝萍脊炯獣r(shí)利系統和軟件總經(jīng)理Peter Griffiths說(shuō)，“我們的新模塊特別擅長(cháng)進(jìn)行穩定的低電流測量，并將立即使我們的許多現有和未來(lái)的客戶(hù)受益?！?/p>

在最低電流測量范圍內，4201-SMU和4211-SMU可以提供和測量的系統電容要比當前水平高出1,000倍。例如，如果電流在1 ~ 100 pA (皮安)之間，那么最新吉時(shí)利模塊可以在低達1 μF (微法拉)的負載電容下保持穩定。相比之下，同類(lèi)產(chǎn)品最多只能容忍1,000 pF (皮法)的負載電容，之后測量穩定性就會(huì )劣化，這要比最新吉時(shí)利模塊差1,000倍。

4201-SMU和4211-SMU在訂貨時(shí)可以預先配置一個(gè)4200A-SCS，構成全面的參數分析解決方案；也可以現場(chǎng)輕松升級現有的設備，不需把設備發(fā)送到服務(wù)中心，可望節省幾周的中斷時(shí)間。