SEMICON意猶未盡？精彩回顧看這里！

　　過(guò)去幾天，上海的天氣經(jīng)歷了烈日和暴雨的極端涌動(dòng)，似有英雄匯聚于八方，氣勢磅礴于天地的架勢。原來(lái)是全球半導體界盛會(huì )SEMICON開(kāi)幕，整個(gè)半導體供應鏈系統的各路大師齊聚上海。作為半導體測試測量行業(yè)的引領(lǐng)者，NI展出了包括5G芯片測試系統等明星產(chǎn)品。展臺人頭攢動(dòng)，工程師們大汗淋漓地為參觀(guān)者講解NI此次重點(diǎn)展出的創(chuàng )新方案，如果你還意猶未盡，跟隨我們一起回顧這幾天的先鋒之旅!

　　5G熱點(diǎn)，我們很資深

　　2010年，NI就進(jìn)入5G市場(chǎng)。從最開(kāi)始5G設計的原形，一直到這兩年開(kāi)始的5G商用化，NI一直扮演著(zhù)非常重要的角色。此次NI展出最新5G射頻芯片測試方案，通過(guò)NI軟硬件平臺實(shí)現大規模天線(xiàn)、毫米波頻段等5G重點(diǎn)方向的原型平臺設計。

　　NI攜手Skyworks，展示了如何利用NI以軟件為中心的模塊化儀器、充分滿(mǎn)足針對5G RFIC的各類(lèi)測試需求。借助于NI 1GHz高帶寬的最新矢量信號收發(fā)儀，集成高性能數字和功率測試模塊，使得測試射頻前端芯片變得非常便捷。

　　NI打造了符合3GPP標準的sub-6G NR參考測試方案，其中RFIC測試方案支持802.11、2G、3G、4G以及5G NR等標準，現全新軟件已支持5G NR新波形OFDMA及DFT-s-OFDM等調制方式

　　基于PXI的ADC/DAC測試方案，我們很優(yōu)秀

　　高性能儀器同步

　　最佳交互體驗

　　可擴展標準工業(yè)平臺

　　半導體測試系統STS，我們很高效

　　NI的半導體測試系統(STS)可快速部署到生產(chǎn)的測試系統，適用于半導體生產(chǎn)測試環(huán)境(實(shí)驗室驗證、晶圓級測試、FT測試等)，可進(jìn)一步提升半導體測試效率，降低測試成本。

　　NI STS T1系統與Reid Ashman機械手完美搭配，可面向不同測試系統、定制各種應用，易于使用和低維護配重設計，能夠輕松集成到生產(chǎn)測試設備中。

　　Talos實(shí)驗室工程Handler

　　NI的合作伙伴——esmo采用NI STS T1系統、打造的Talos實(shí)驗室工程Handler在本屆SEMICON的展臺上吸引了不少眼球。其實(shí)現了全自動(dòng)化生產(chǎn)測試，并支持三溫測試、溫度穩定性?xún)?yōu)于+/-0.5度、自動(dòng)激光定位系統等功能。也因為使用了統一開(kāi)發(fā)環(huán)境LabVIEW和測試管理執行軟件TestStand，這一臺分選機將同樣在實(shí)驗室和量產(chǎn)測試中使用，并減少數據關(guān)聯(lián)(Correlation)時(shí)間，進(jìn)一步提升半導體測試效率。

　　I2C，SPI驗證方案

　　電源管理芯片性能測試

　　過(guò)去幾日，NI與半導體行業(yè)精英們在這里分享著(zhù)創(chuàng )新技術(shù)與行業(yè)洞察，SEMICON精彩旅程完美結束。但我們并未停止。5月20日，NI將在美國召開(kāi)一年一度的NIWeek，發(fā)布航空、國防、汽車(chē)、半導體等應用領(lǐng)域中的重大科技創(chuàng )新。讓我們拭目以待!