RF矢量信號分析儀：對微波測量的不佳性能說(shuō)“不”

高達14 千兆赫頻率 RF信號分析儀具有業(yè)界領(lǐng)先的性能，但它不僅產(chǎn)量少，而且體積笨重、價(jià)格昂貴、運行緩慢。不同的是，NI PXIe - 5665高性能RF不但提供了從20 赫茲到14 千兆赫的頻率范圍，同時(shí)還具有高性能和速度快的優(yōu)勢。該儀器具有平均-165 dBm / Hz的本底噪聲，800兆赫音(頻偏為10 kHz)時(shí)129 dBc / Hz的相位噪聲，以及0.1 dB絕對幅度精度的性能，這使它成為業(yè)界最高性能分析器之一。NI PXIe - 5665是半導體和移動(dòng)電話(huà)的測試應用的理想選擇，不僅可以在較低的頻率調制測量，而且還可以測試高達至14 GHz第三和第四諧波。此外，NI PXIe – 5665還能測試C，X和Ku波段 ，這些波段可以應用于雷達、衛星和無(wú)線(xiàn)電通訊領(lǐng)域。

圖1. NI PXIe-5665是一款模塊化RF矢量信號分析儀，包括數字化儀,下變頻器以及合成器。

低頻帶與高頻帶架構

NI PXIe-5665是一款模塊化RF矢量信號分析儀，包括NI PXIe-5622數字化儀, NI PXIe-5605寬帶RF下變頻器模塊，以及NI PXIe-5653合成器。 NI PXIe-5665能在兩個(gè)獨立的頻段中進(jìn)行操作，頻段至多可相差14GHz。 低于3.6 GHz的頻率屬于低頻帶，在3.6 GHz至14 GHz之間的頻率屬于高頻帶。在儀器的總頻率范圍內，NI PXIe 5665的雙帶架構提供了更大的圖像干擾和動(dòng)態(tài)范圍。

低頻帶的特征是三級超外差式下變頻架構。 NI PXIe-5605將RF信號上變頻至較高的中頻(IF)，然后下變頻至可數字化處理的頻率。 三級拓撲結構為RF輸入信號的圖像干擾提供了明確的顯示信號。 在高頻帶信號路徑中，NI PXIe-5605屬于二級下變頻器。 在此頻帶中唯一的衰減來(lái)自機械步長(cháng)衰減器，它能在5 dB步長(cháng)中提供75 dB的衰減變量。 可選預選器(YIG-tuned filter)用于過(guò)濾不需要的圖像，并被放置在信號鏈的第一混合器前。 在IF這級中，我們可以用1dB步長(cháng)調整IF增益，優(yōu)化數字化儀的功率水平。應用“將較大的IF增益應用到較小的音調上”這個(gè)功能有效測量多音調信號，從而防止較大的音調對數模轉換器分辨率的控制。 IF最后一級擁有交換式濾波器組，能夠進(jìn)一步優(yōu)化三階截點(diǎn)(IP3)，進(jìn)行(例如相鄰信道功率比等)更高級測量。

測量精度的低相位噪聲

NI PXIe-5665在800 MHz音調的10 kHz頻偏下，具有超低的129 dBc/Hz相位噪聲。 NI PXIe-5653合成器擁有3個(gè)低相位噪聲本地振蕩器(LOs)，能夠實(shí)現超低相位噪聲。 相位噪聲是RF信號分析儀最重要的指標之一。 舉例來(lái)說(shuō)，NI PXIe-5665可在256-QAM調制信號上測量到低達0.33%的誤差矢量幅度。 當前置放大器開(kāi)啟時(shí)，NI PXIe-5665的平均相位噪聲為-165 dBm/Hz。 低噪聲本底可以用于測量其他信號分析儀很難測量到的微弱信號。 具有高頻率范圍與低噪聲本底雙重特點(diǎn)的NI PXIe-5665成為毛刺測試和諧波測試的理想選擇。在模塊上能夠使用50MHz實(shí)時(shí)帶寬測量作為測量標準，例如3GPP LTE中的20MHz版本。

圖2. 即使在12至14GHz范圍內，NI PXIe-5665也具有-142 dBm/Hz的平均噪聲本底和±0.25 dB的幅度精度，是測試和檢測高頻率小信號的理想選擇。

校準音調和YIG-Tuned濾波器的使用

NI PXIe-5665具有板載高精度校準音調功能。 通過(guò)比較存儲設備EEPROM中的音調值和近期的測量值，校準音調能夠準確修正接收器的丟失。 NI PXIe-5605同時(shí)提供了帶通預選器(YIG-tuned濾波器)，在將大于3.6 GHz的信號下變頻時(shí)，可選擇性地包含RF 輸入信號路徑。

進(jìn)行一般測量時(shí)，預選器能夠抑制可能干擾或降低測量準確率的信號。 由電磁鐵產(chǎn)生的磁場(chǎng)控制著(zhù)預選器的中心頻率。 考慮到非線(xiàn)性和熱特性可能會(huì )導致預選器的中心頻率變發(fā)生改變，NI-RFSA驅動(dòng)采用預選器調節曲線(xiàn)，它作為設備自行校準進(jìn)程的一部分并使用內部生成的校準信號和算法。 在波譜監測和電磁兼容應用中采用NI PXIe-5665和預選器，可甄選不需要的圖像。

使用RF表模式進(jìn)行諧波測試

諧波、毛刺的測試測量通常用于描述功率放大器和其他射頻集成電路(RFICs)特征。NI PXIe-5665可以很好地用于這些測試測量。即使在12至14GHz范圍內，NI PXIe-5665也具有-142 dBm/Hz的平均噪聲本底和±0.25 dB的幅度精度，使得高頻率小信號的測試和測量結果更為理想。

在NI PXIe-5665上采用RF表模式可在頻率間快速切換，大大減少掃頻時(shí)間。 RF表模式可在其他參數中預定義頻率或參考水平列表，并被轉換成微代碼，省去了從儀器到PC的時(shí)間密集型軟件的調用，反之亦然。

NI FlexRIO的頻譜監控

NI PXIe-5665分析儀與NI FlexRIO模塊連接，插入PXI機箱中。通過(guò)對等網(wǎng)絡(luò )傳輸(peer-to-peer streaming)，可在PXI背板上實(shí)時(shí)地將數據寫(xiě)入NI FlexRIO模塊上的現場(chǎng)可編程門(mén)陣列中(FPGA)，還可以使用NI LabVIEW FPGA模塊,對NI FlexRIO模塊上的板載FPGA進(jìn)行編程，其在數據處理上具有納秒級的決策能力。NI PXIe-5665具有實(shí)時(shí)處理功能，可以作為實(shí)時(shí)頻譜分析儀使用。在整個(gè)帶寬內，NI PXIe-5665將其采集的數據以數據流方式傳遞至NI FlexRIO進(jìn)行實(shí)時(shí)處理。此外，還可以將觸發(fā)器從基于實(shí)時(shí)處理的NI FlexRIO模塊發(fā)送到PXI機箱中的其他儀器中。儀器與NI FlexRIO的組合可以搭建一個(gè)解決高度復雜測試問(wèn)題的系統，而這些問(wèn)題傳統盒裝儀器是解決不了的。