NI方案保障客戶(hù)從5G原型研發(fā)走向大規模生產(chǎn)
2018年是5G開(kāi)始走向大眾的一年,從年初的冬奧會(huì )開(kāi)始5G已經(jīng)從研究逐漸走向了小規模商用,雖然距離大規模的5G商用還有不小的距離,但5G的腳步已經(jīng)越來(lái)越近,對于那些多年來(lái)致力于5G原型和技術(shù)研發(fā)的企業(yè)來(lái)說(shuō),即將迎來(lái)檢驗前期研發(fā)成果的收獲時(shí)節了。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201804/378848.htm這就對5G的系統測試提出了全新的挑戰,在標準沒(méi)有完全確定之際就走向商用,需要測試系統必須兼顧原型開(kāi)發(fā)以及后期的生產(chǎn)應用測試,“這是NI平臺化方案提供給客戶(hù)最好的競爭優(yōu)勢”NI自動(dòng)化測試市場(chǎng)副總裁Luke Schreier如此總結,“NI從最初就以平臺化的概念去構建5G的解決方案,從前期的原型算法驗證到后期的生產(chǎn)測試,通過(guò)NI的RIO架構把相關(guān)的功能整合在一個(gè)平臺內實(shí)現,滿(mǎn)足同平臺下的研發(fā)和測試多種需要,大幅降低技術(shù)難度和商業(yè)成本,從而快速推進(jìn)從芯片企業(yè)到設備公司的5G研發(fā)測試成本降低”。
對5G測試來(lái)說(shuō),一個(gè)很關(guān)鍵的挑戰就是因為部分應用對通信的實(shí)時(shí)性要求更高,部分應用又對系統的信道數量要求更高,這就給了NI的平臺化方案更多施展的舞臺。Luke Schreier介紹,NI在實(shí)時(shí)性測試方面有很多經(jīng)驗積累,特別是在汽車(chē)領(lǐng)域和航空航天領(lǐng)域的實(shí)時(shí)性測試都可以借助平臺化方案應用到5G測試中,從而提升5G實(shí)時(shí)性測試的精度。為此NI專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)了包括軟件和硬件的實(shí)時(shí)性同步測試解決方案,可以滿(mǎn)足V2X和V2V通信的實(shí)時(shí)性要求。Luke Schreier認為,NI的平臺方案的重要優(yōu)勢就是各種測試軟件和解決方案可以集合到一起,而5G提出來(lái)的需求就是很多的技術(shù)融合在一起,NI的平臺能夠容納更多測試的技術(shù)以滿(mǎn)足客戶(hù)對5G這種融合技術(shù)的全部測試需求。此外,平臺化的方案還有一個(gè)優(yōu)勢是支持客戶(hù)在這個(gè)平臺上自行開(kāi)發(fā)各種測試功能的應用。NI提供的測試平臺硬件和軟件只是一個(gè)基礎工具,通過(guò)開(kāi)放的接口,客戶(hù)可以針對自己的特定應用在這個(gè)工具平臺之上進(jìn)行相應的二次開(kāi)發(fā),從而開(kāi)發(fā)出適合自己需求的特定應用,滿(mǎn)足測試需求的靈活性和定制化需求。
談及5G測試待解決的挑戰,Luke Schreier強調,相比于前幾代技術(shù),5G測試有一個(gè)拓展,就是毫米波的頻段的引入,這就可能會(huì )要求待測試系統有64×64的相控陣,并且在此之上做波束的成形與賦形技術(shù)。這就對測試提出了明確的定向性,需要在空間的維度上觀(guān)察形成的波束是什么樣的,可能涉及到近場(chǎng)的測試以及遠場(chǎng)的測試,在高頻范圍的遠場(chǎng)測試,無(wú)疑將成為一個(gè)非常關(guān)鍵的技術(shù)挑戰。
面對這樣的挑戰,低頻方案顯得更為現實(shí),Luke Schreier表示,相比于高頻范圍的不可知,低頻范圍的技術(shù)相當成熟,并且能夠兼容3G和4G的標準。對前期的5G應用只需要改變閾值并提升帶寬就能滿(mǎn)足相應的需求。為此NI在低頻端發(fā)布了全新的一款Sub-6GHz 5G測試參考解決方案,該解決方案符合5G新空口(NR)的3GPP Release 15規范。NI的Sub-6GHz 5G NR參考解決方案是一種經(jīng)濟高效且高性能的測試選項,可幫助工程師快速對其設計進(jìn)行特性分析,并更輕松地從研發(fā)過(guò)渡到生產(chǎn)測試環(huán)境,開(kāi)發(fā)出相應的射頻器件和設備。NI新的5G測試技術(shù)還為射頻和半導體測試提供了全面的產(chǎn)品組合,包括用于2G、3G、LTE-AdvancedPro、WiFi 802.11ax、藍牙5等的測量軟件。此外,工程師可以使用NI VST以及600多種模塊化PXI產(chǎn)品(頻率從直流到毫米波)來(lái)開(kāi)發(fā)全面的半導體特性分析和量產(chǎn)測試系統。
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