關(guān)于WI-FI檢測板測試以及常見(jiàn)故障淺析

3 故障分析總結

　　對檢測板故障分析，首先要了解檢測板的主芯片的引腳定義，在功能上的作，再將芯片放入電路中結合其他元器件綜合分析。

　　芯片引腳定義解析見(jiàn)表2所示。

3.1 校準功率gain太大或太小原因

　　1)元器件問(wèn)題:虛焊、脫焊、立碑、短路;

　　2)芯片本身問(wèn)題。

3.2 校準頻偏太大原因：晶體振蕩器不良、虛焊

3.3 EVM不合格原因

　　1)功率校準過(guò)高或者過(guò)低;

　　2)線(xiàn)損不好時(shí)可能造成測試功率與實(shí)際功率不一致;

　　3)模塊元器件問(wèn)題 (電容、電感)。

3.4 本振泄露問(wèn)題：通過(guò)修改寄存器值來(lái)調整

　　高通廠(chǎng)家驗證驗證、優(yōu)化BIN配置文件抑制LO leakage問(wèn)題，提供新版本的BIN文件，使用這個(gè)bin文件時(shí)將文件名改為boardData_AR6006.bin放在C:WindowsSystem32drivers目錄下替換原文件。合肥基地驗證更改boardData_AR6006.bin后本振泄露指標符合要求，主要需要修正BIN文件，具體更改點(diǎn)見(jiàn)下前后對比圖如圖9所示。

3.5 頻譜模板偏大原因

　　1)與功率相關(guān)，功率過(guò)高或者過(guò)低導致;

　　2)頻譜模板偏大5%標準。

3.6 RX(接收)不過(guò)原因

　　1)芯片本身不良。判定方式：交叉實(shí)驗;解決方法：更換主芯片。

　　2)檢查U1-54、55引腳對應的射頻短路電容、電感是否存在焊接、裝配問(wèn)題。

　　54引腳(RFIN2P1)和55引腳(RFIN2N1)為射頻輸入腳即對檢測板而言為信號接收腳，其線(xiàn)路上由電容和電感構成LC電路，濾除諧波，當其線(xiàn)路上的電容或者電感異常時(shí)，會(huì )存在接收靈敏度不合格的現象。

3.7 TX(發(fā)射)測試項目不過(guò)

　　主要排查U1-59、60引腳對應的射頻短路電容、電感是否存在焊接、裝配問(wèn)題。59引腳(RFOUT2P1)和60引腳(RFOUT2N1)為射頻輸出腳即相對檢測板而言為信號發(fā)射腳，其線(xiàn)路上由電容和電感構成LC電路，濾除諧波，當其線(xiàn)路上的電容或者電感異常時(shí)，發(fā)射信號會(huì )存在失真故障。

3.8 USB不識別原因

　　1)U1芯片18、19、20腳脫焊。 19腳(USB_DPOS)和20腳(USB_DNEG)腳未連接其他元器件;18腳(VDD33_USB)為USB電源腳，焊接不良會(huì )導致USB無(wú)電源供電，無(wú)法被識別。

　　2)17腳電阻脫焊。17引腳(SWREG_IN)為電源開(kāi)關(guān)調節輸入引腳，線(xiàn)路上的R1易脫落，導致此線(xiàn)路短路，電源開(kāi)關(guān)調節無(wú)輸入，導致USB無(wú)法識別。

　　3)排查電源電路是否存在故障 (5V供電經(jīng)V1穩壓管轉3.3V給U1供電)。

　　此線(xiàn)路上常見(jiàn)異常為檢測板5V測試點(diǎn)與旁邊通孔的接地短路，整個(gè)檢測板無(wú)電壓輸入，導致USB無(wú)法識別。

4 整改措施

4.1 貼片焊接整改

　　目前檢測板故障原因排在前列的為焊接不良，檢測板的元器件偏小，焊接上存在一定難度，在焊接時(shí)容易出現元器件立碑、上錫不良、短路等異常。在貼片貼裝時(shí)要監督鋼網(wǎng)清洗、回流焊爐溫等焊接重點(diǎn)項目，同時(shí)做好AOI外觀(guān)全檢。

4.2 主板線(xiàn)焊接整改

　　主板線(xiàn)班組在焊接時(shí)不要甩錫，導致其他元器件或者焊點(diǎn)連錫短路。

4.3 防靜電控制

　　QCA4004芯片的兩個(gè)引腳耐靜電能力較低，在生產(chǎn)時(shí)全程需重點(diǎn)關(guān)注防靜電項目，嚴格按照控制器防靜電工藝執行，避免靜電對芯片造成損傷，表3為芯片靜電參數。

4.4 檢測板專(zhuān)線(xiàn)專(zhuān)做

　　檢測板生產(chǎn)時(shí)需定制專(zhuān)線(xiàn)生產(chǎn)，既可減小故障率，又便于故障數量統計。

　　參考文獻：

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　　[2]陳文周.WI-FI技術(shù)研究與應用[J]數據通信,2008,2.

　　[3]熊輝.WI-FI技術(shù)及其應用簡(jiǎn)述[J].硅谷,2009,12.

　　本文來(lái)源于《電子產(chǎn)品世界》2017年第9期第49頁(yè)，歡迎您寫(xiě)論文時(shí)引用，并注明出處。