基于CPLD的頻率響應特性測試卡設計 作者： 時(shí)間：2017-06-05 來(lái)源：網(wǎng)絡(luò ) 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對面交流海量資料庫查詢(xún) 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 提出了一種基于CPLD的頻率響應特性測試卡設計方案,分析了DDS原理的CPLD實(shí)現方法,給出了數據處理算法流程,并進(jìn)行了設計驗證實(shí)驗,結果表明在逐點(diǎn)單頻測試狀態(tài)下,相位和幅值測量與標準儀器相比相位差小于0.5°,幅值差小于0.1dB。基于CPLD的頻率響應特性測試卡設計.pdf本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/201706/348950.htm
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