淺析安捷倫最新非信令測試和LTE測試方案

最新方案

在不久前召開(kāi)的安捷倫測量測試大會(huì )上，安捷倫科技無(wú)線(xiàn)寬帶事業(yè)部產(chǎn)品市場(chǎng)經(jīng)理Michael Griffin詳細介紹了該公司針對非信令測試的最新設備E6607BEXT無(wú)線(xiàn)通信測試儀和與之配套的E6617A MPA多端口適配器?！熬蜔o(wú)線(xiàn)功能測試需求而言，2003年全球5億臺設備，每個(gè)設備大概只有1項~2項測試，總計約7.5億項測試。而到2015年，全球30億臺設備，每臺約有6項~8項無(wú)線(xiàn)功能測試，總計達21億項測試，如果按傳統信令方法測試，耗時(shí)將增長(cháng)28倍！”Griffin說(shuō)，“EXT/MPA組合針對非信令測試進(jìn)行了優(yōu)化，適用于對當前和下一代包含多種制式和多個(gè)頻段技術(shù)的智能電話(huà)和平板電腦進(jìn)行生產(chǎn)測試，可提高測試吞吐量并降低測試成本?！?

方案構成

E6607B是一款綜合測試儀，內含矢量信號分析儀、矢量信號發(fā)生器、高速序列分析儀和多制式硬件。其中，序列分析儀可以與無(wú)線(xiàn)調制解調器芯片組的測試模式同步工作，消除信令開(kāi)銷(xiāo)，實(shí)現單次采集多次測量。Griffin強調，該設備是目前市面唯一的提供了高達3.8GHz的全蜂窩頻段范圍(包括LTE TDD 43頻段)，并支持最新芯片組中實(shí)施的快速序列測試模式。E6617A是與之配合的多端口適配器，該設備增添了同時(shí)接收機測試、順序發(fā)射機測試和同時(shí)GPS測試，可一次性測試4個(gè)雙天線(xiàn)設備。它是利用與EXT和完全校準端口(包括8個(gè)蜂窩端口、4個(gè)GPS端口)的即插即用連通性實(shí)現上述功能的，將測試平面擴展到MPA前面板。在初期的評測階段，E6607B與E6617A的組合已經(jīng)顯示能夠極大提升測量吞吐量，單臺設備測試時(shí)間由17.4秒縮減至7.5秒，減少了約60%。

軟件資源

EXT可以配置安捷倫的X系列測量應用軟件，E6607B添加了三個(gè)最新附件：LTE TDD、TD-SCDMA和模擬解調。由于是通過(guò)軟件模塊的搭配實(shí)現不同的測試功能，E6607B有很高的靈活性可滿(mǎn)足不同產(chǎn)線(xiàn)工位設置習慣的測試需求。另外，為了簡(jiǎn)化測試計劃開(kāi)發(fā)和加快批量制造速度，EXT還提供了軟件工具，包括Signal Studio，可以創(chuàng )建非信令下行鏈路信號(控制和測試)，以便與EXT配合使用；在試生產(chǎn)階段，可使用Sequence Studio支持工程師快速創(chuàng )建測試計劃并進(jìn)行故障診斷；Chipset軟件則提供了圖形用戶(hù)界面和編程接口，以支持設備控制、校準和驗證等功能。

研發(fā)測試

不同于生產(chǎn)測試強調效率，研發(fā)測試更強調功能完備。安捷倫在8月份收購了西班牙的私人控股公司AT4 wireless，這一收購將幫助安捷倫擴展其在LTE和NFC/RFID 、藍牙測試的研發(fā)測試方案的范圍，包括驗證和一致性測試。據安捷倫科技公司移動(dòng)寬帶事業(yè)部(MBO)研發(fā)類(lèi)產(chǎn)品營(yíng)銷(xiāo)經(jīng)理Akhilesh Daniel介紹，目前安捷倫最新的針對終端設備和運營(yíng)商設備的LTE一致性測試平臺分別是E6621A PXT和T4000S?！癆T4 wireless測試系統業(yè)務(wù)有著(zhù)長(cháng)達17年的認證測試經(jīng)驗，能將系統設計和體系結構融合在一起，其測試平臺在無(wú)線(xiàn)領(lǐng)域中得到了廣泛應用，例如專(zhuān)業(yè)測試機構、芯片組制造商等?！盌aniel說(shuō)。

E6621A PXT針對LTE終端設備測試，在一臺綜合儀器中結合了靈活的基站/網(wǎng)絡(luò )仿真和射頻參數測試，易于使用，可進(jìn)行符合實(shí)際情況的集成、驗證和應用測試。E6621APXT配置了LTE TDD和FDD選件，可進(jìn)行射頻參數測量、功能測試、多個(gè)PDN、IPv6、IMS/SIP選件切換，擁有高達102.05Mbps的端到端IP數據測試，信令一致性測試和無(wú)線(xiàn)一致性測試方案。E6621A PXT可提供LTE至3G的切換，即將推出LTE至2G切換功能的設備。T4000S是原AT4 wireless針對運營(yíng)商LTE設備研發(fā)的一套測試平臺，包括T4010 DV(LTE RF設計驗證)、T4010(LTE RF一致性測試)、T4020(RRM測試)和T4110(LTE協(xié)議測試)。