LIV測試系統的組成

圖1示出了LIV測試系統的組成，包括2602型源表、2510-AT型自動(dòng)溫度控制源表和一臺配備了GPIB接口板的計算機。
2602型源表是一個(gè)雙通道的源表（SMU），可以在提供源電壓或電流的同時(shí)進(jìn)行電壓和電流的測量。這樣用一個(gè)SMU通道即可以為待測器件（DUT）提供源電流，并進(jìn)行電壓測量，而用另一個(gè)通道監測DUT附近探測器的光電流，為L(cháng)IV測試提供了“單機箱化”的思路。
2510-AT型自動(dòng)溫度控制源表控制著(zhù)制冷片TEC，保持待測模組處于恒定的溫度上。
計算機通過(guò)GPIB總線(xiàn)對各個(gè)源－表進(jìn)行編程，協(xié)調測試進(jìn)程，收集并分析得到的測量結果。

本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/201702/338573.htm
圖1
激光二極管模組典型LIV測試系統框圖，2602用以對模組進(jìn)行特性測試并監測輸出光強度，2510-AT控制整個(gè)模組的溫度

提升測試程序速度：吉時(shí)利的TSP
在眾多儀器中，計算機控制了測試的方方面面。在測試的每一個(gè)步驟中，必須對測試設備進(jìn)行配置，使其執行所希望的操作后，將相應數據返給控制計算機（如圖2所示）。然后控制計算機根據標準進(jìn)行合格/不合格的判定，執行合適的操作來(lái)分揀測試器件。發(fā)出和執行每一條命令都會(huì )消耗寶貴的生產(chǎn)時(shí)間，降低產(chǎn)量。
顯然，測試程序中大部分的時(shí)間用在與控制計算機交換信息上。2600系列設備可以減少通信總線(xiàn)的信息流量，從而極大地增加整個(gè)復雜測試程序的吞吐量。在這些設備中，大部分的測試程序都是嵌入在設備中的。測試腳本處理器（TSP）是一種全功能的測試序列引擎，可以實(shí)現對測試序列的控制，可內設合格/不合格準則、算術(shù)運算、計算以及數字I/O控制等（參見(jiàn)圖3所示的2602型設備的測試序列）。TSP可以將用戶(hù)自定義的測試序列存入其存儲器中，在收到命令時(shí)調用執行。這樣限制了測試序列中每一步的建立和配置時(shí)間，通過(guò)減少與設備和控制計算機的通信量增加了吞吐量。

圖2. 計算機控制標準設備

圖3. 在2602源表中應用嵌入式測試腳本處理器TSP存儲測試序列，減少通信流量。