硬件測試中的一些陷阱
加入技術(shù)交流群
測試儀器和儀表的負載效應和濾波器效應
在用萬(wàn)用表測量電壓或者電流的時(shí)候，萬(wàn)用表都是作為一個(gè)負載和測量對象并聯(lián)或者串聯(lián)在一起。如果測量對象的負載大小和萬(wàn)用表的等效負載的大小相比，如果屬于相同數量級大小，那么萬(wàn)用表負載就一定會(huì )對測量對象產(chǎn)生影響。比如測量電壓，被測負載的大小如果是10K，那么如果所采用萬(wàn)用表的等效負載也是這個(gè)這個(gè)數量級的，那么測試的結果一定會(huì )有很大的誤差。根據并聯(lián)電路中的分流理論，如果要減小這種誤差，就必須選擇等效負載大的萬(wàn)用表，并且是越大越好。一般而言，指針萬(wàn)用表在測量電壓的時(shí)候，其等效負載根據量程的不同分布在幾十千歐到幾百千歐數量級，數字萬(wàn)用表在測量電壓的時(shí)候，因其采用了有源電路做為等效負載，所以其值一般根據量程不同分布在兆歐數量級到十幾兆歐數量級，相對而言，其對被測對象的影響就小很多，測試的結果可信度也比較高。但是，如果將數字萬(wàn)用表看做一個(gè)電壓傳感器的話(huà)，其高阻值的等效負載，又會(huì )容易拾取一些噪聲電壓，所以也會(huì )引進(jìn)一些測試上的誤差，如果要減小這個(gè)高阻的探頭效應，就必須在測量的時(shí)候，表筆和表體盡可能遠離一些潛在的噪聲干擾源。矛盾論的又一次體現在這里。
再用聯(lián)系的觀(guān)點(diǎn)來(lái)看，測量?jì)x器作為等效負載實(shí)際上也參與了所測量的電路的工作，如果要考慮其影響的話(huà)，一旦測量?jì)x器介入了測試電路，整個(gè)電路的工作狀態(tài)就發(fā)生了變化，如果測量?jì)x器對電路的影響比較小，那么這個(gè)測量?jì)x器的影響就是一個(gè)微擾，可以忽略，如果測量?jì)x器對電路的影響比較大，那么這個(gè)測量?jì)x器的影響就是對這個(gè)電路系統的一個(gè)沖擊。這就是為什么，有時(shí)候我們做測試的時(shí)候，表筆一旦放在測試對象上，卻看到了測試對象自激了，或者不工作了，或者有莫名其妙的噪聲出現的原因，這個(gè)時(shí)候，我們需要做的就是更換負載效應小的儀器或者表筆探頭。
在用萬(wàn)用表測量交流信號的時(shí)候，還需要注意測量對象的工作頻率，萬(wàn)用表作為負載參與測量的時(shí)候，如果單純從測量表筆向萬(wàn)用表看進(jìn)去，可以認為萬(wàn)用表是一個(gè)濾波器，因為其測量電路無(wú)非是由一些電阻，電容，晶體管組成的測量電路，那么這個(gè)電路必然存在一個(gè)工作頻率范圍（帶寬），如果在這個(gè)頻率范圍內測量，那么測試結果有效，如果在這個(gè)頻率范圍之外測量，測試結果就不準確了。所以必須關(guān)注測試儀器的頻率范圍。這個(gè)就是萬(wàn)用表的濾波器效應。
同樣，在使用示波器，交流毫伏表，超高頻微伏表和頻譜儀時(shí)，也必須注意相應的負載效應和濾波器效應，應該根據所測試對象的負載和工作頻率去選擇相應的儀器。在儀器的說(shuō)明書(shū)上，一般都有等效負載的大小說(shuō)明，以及工作頻率的說(shuō)明，這個(gè)比較常見(jiàn)，非常容易理解。
一般而言，測量低頻交流信號時(shí)，如果單純想測量信號的大小，可以選擇數字萬(wàn)用表，如果還想看到信號的時(shí)域波形，那么選擇示波器。如果信號很微弱，可以選擇毫伏表和示波器搭配使用。測量音頻信號時(shí)，根據信號的大小，可以選擇示波器或者毫伏表，mV數量級的交流信號，可以用示波器和毫伏表搭配使用。高頻信號時(shí)，可選擇超高頻毫伏表或者頻譜儀。在使用這些儀器的時(shí)候，必須注意負載效應和濾波器效應。尤其是在測量高頻小信號（uV數量級）電路的時(shí)候，如果高頻放大器的負載為并聯(lián)諧振電路，這個(gè)時(shí)候如果用頻譜儀（50ohm負載效應）進(jìn)行測量，必然導致50ohm的頻譜儀和并聯(lián)諧振電路一起作為高頻放大器的負載，這樣必然導致放大器的增益降低，所測試的結果必然是不準確的，這個(gè)時(shí)候可以采用差分高阻探頭配合頻譜儀進(jìn)行測量，可以很大程度上減小負載效應的影響。
另外，在測試晶體的時(shí)候，一般常見(jiàn)的是用示波器進(jìn)行時(shí)序的測量，還有的是測試晶體是否振蕩。這個(gè)時(shí)候，一定要注意示波器探頭的負載效應，因為探頭上會(huì )存在寄生電容，比較小，一般是pF量級，但是晶體的負載電容一般也是pF量級，所以探頭的介入，會(huì )引起晶體振蕩電路的頻率的偏移，從而影響晶體振蕩電路的工作，嚴重的，會(huì )導致晶體電路無(wú)法起振。這個(gè)時(shí)候，就必須選擇差分高阻探頭進(jìn)行測量。
測試線(xiàn)材的濾波器效應和負載效應
一般在測量高頻電路的時(shí)候，我們通常采用RF同軸線(xiàn)，比如常見(jiàn)的RG-58C，從直覺(jué)來(lái)看，50ohm的RF同軸線(xiàn)不會(huì )對測量引起太大的影響，可是如果從實(shí)際來(lái)思考，傳輸線(xiàn)可以看做是一系列LCRG組成的網(wǎng)絡(luò )，由于CL的存在，這個(gè)網(wǎng)絡(luò )必然存在一個(gè)工作頻率范圍，由于RG的存在，這個(gè)網(wǎng)絡(luò )必然存在損耗，所以傳輸線(xiàn)會(huì )對測試系統產(chǎn)生濾波器效應，也就是說(shuō)傳輸線(xiàn)也有一個(gè)工作頻率范圍的問(wèn)題，如果我們用網(wǎng)絡(luò )分析儀去測試一根RF同軸線(xiàn)比如RG-58C，在很寬的頻率范圍來(lái)掃描其S21，我們會(huì )發(fā)現這個(gè)同軸線(xiàn)是一個(gè)低通濾波器，從RF線(xiàn)材的非理想性來(lái)看，這個(gè)測量結果應該是意料之中的?？梢栽O想，如果我們單純讓這根同軸線(xiàn)工作在遠離其低通濾波器corner-frequency很遠的地方，那么從RF匹配的角度來(lái)看，這個(gè)同軸線(xiàn)就不是一個(gè)50ohm或者75ohm匹配的同軸線(xiàn)，如果使用這根線(xiàn)，必然引起很大的反射損耗，此時(shí)就必須重新選擇其他RF線(xiàn)材。下面的表格就是一個(gè)RF同軸線(xiàn)的參數表格，可以看到每個(gè)feet長(cháng)度時(shí)，其等效的電容大約是20~30pF，對于高頻而言，這個(gè)是比較大的電容，這就是為什么我們在進(jìn)行RF測量時(shí)，必須選擇盡可能短的同軸線(xiàn)的原因。
相應地，在測量高頻信號（或者高頻數字信號）的時(shí)候，示波器探頭的地線(xiàn)的的等效負載效應也必須考慮，探頭地線(xiàn)的介入，改變了測試系統的特性，探頭地線(xiàn)作為一個(gè)感性負載元件必然引起測試對象的傳輸特性的改變，從而引起測試結果的變化，嚴重的會(huì )引起系統振蕩和自激。
以上就是測試線(xiàn)材的濾波器效應和負載效應。
如果從基本電路理論和信號與系統的角度去理解上述這些測試系統中的陷阱，我們會(huì )很容易理解，并在選擇儀器或者測試時(shí)，知道如何減小和消除這些問(wèn)題的影響。
評論