是德科技TD-LTE基站性能測試方案

如果測試環(huán)境確實(shí)希望使用外置信道仿真器，則只需使用是德科技N5182B/N5172B射頻信號發(fā)生器即可完成上述系統的測試。典型的測量系統如圖3所示。

圖3 N5182B/72B MXG-B測試系統 2.2 軟件平臺

PXB或N5182B/72B通過(guò)Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 軟件產(chǎn)生特定的參考測試信號，并實(shí)時(shí)地調整編碼冗余因子。

圖4 上行信號配置

圖5 HARQ設置 2.3 反饋信號格式

基站下發(fā)給PXB或N5182B/72B的ACK/NACK信號以RS232C串行通信的數據格式進(jìn)行編碼，PXB或N5182B/72B根據相同的編碼速率和格式進(jìn)行解碼得到ACK/NACK值。反饋信號由8個(gè)比特組成，1個(gè)起始位，1個(gè)停止位，無(wú)奇偶校驗位。具體的數據格式如表2所示。

3 測試結果

按照測試結構圖搭建好測試系統并配置軟件平臺，啟動(dòng)基站及PXB或N5182B/72B，同時(shí)在示波器和基站控制端觀(guān)察測試結果。

圖6 PXB或N5182B/72B實(shí)時(shí)響應圖

6為示波器上觀(guān)察到的PXB或N5182B/72B實(shí)時(shí)響應。通道1、2、3和4分別為上行信號幀頭、ACK/NACK指令序列、上行信號I/Q數據以及 PXB或N5182B/72B的ACK/NACK響應(高電平為ACK，低電平為NACK)。如圖所示，HARQ時(shí)序響應與標準協(xié)議完全相符。

基站端對上行射頻信號進(jìn)行分集接收并解調，然后通過(guò)CRC校驗對接收結果作出判斷，最后得到在特定衰落模型下的系統吞吐率。

根據3GPP TS 36.141規定，選取PUSCH，20MHz帶寬信號作為測試案例。在2根接收天線(xiàn)，Normal CP下，按照列出的前10個(gè)Case依次測試，結果如下：

4 結論

結果表明，系統完全滿(mǎn)足標準測試要求。測試過(guò)程透明可見(jiàn)，結果顯示直觀(guān)可信。同時(shí)，該測試系統在不添加任何硬件配置的情況下，僅僅通過(guò)軟件配置即可實(shí)現 1×2，2×2，2×4及4×2的MIMO配置，從而實(shí)現基站HARQ，Timing Adjustment以及PUCCH性能測試，是TD-LTE基站性能測試的理想平臺。

推薦方案：是德科技基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀 N5106A PXB配合信號發(fā)生器MXG和signal studio N7625B可以提供一站式的整體解決方案;如果測試系統已有專(zhuān)用信道仿真器，則可使用是德科技信號發(fā)生器N5182B/72B及signal studio N7625B完成最終測試