使用LabVIEW和FPGA創(chuàng )建一個(gè)自動(dòng)化的微控制器測試系統

　　"使用NI公司的產(chǎn)品，我們可以使用一套軟硬件解決方案，輕而易舉地測試不同的微控制器外設。我們使用NI的產(chǎn)品，通過(guò)向自動(dòng)化框架提供易用的接口，使我們的測試系統自動(dòng)化，這樣節省了大量的精力和成本。"

　　–ZalmanRafael,InfineonTechnologies

　　TheChallenge:

　　集成和自動(dòng)化一個(gè)完整的微控制器測試流程。

　　TheSolution:

　　使用NI公司產(chǎn)品來(lái)創(chuàng )造一個(gè)非人工測試平臺，該平臺具有直觀(guān)用戶(hù)界面和綜合的測試案例。

　　Author(s):

　　ZalmanRafael-InfineonTechnologies

　　DBirundha-InfineonTechnologies

　　ShriramKathavate-InfineonTechnologies

　　對于之前的應用程序測試平臺，我們使用公司內部開(kāi)發(fā)的控制器板，但該板需要一套單獨的兼容工具鏈來(lái)下載這些應用程序。此外，我們還很難對這些工具鏈的用戶(hù)界面進(jìn)行導航，不得不使用額外的測試和測量設備。

　　有了虛擬儀器，我們可以使用同一套軟件和模塊化硬件執行以下測試：

　　測試常見(jiàn)的協(xié)議(SPI,ASC,I2C)

　　測試PWM,ICU

　　測試模擬/數字轉換器

　　測試控制器區域網(wǎng)絡(luò )(CAN)

　　測試時(shí)鐘和門(mén)控

　　測試多模塊同時(shí)運行系統

　　對于需要測試的應用來(lái)說(shuō)，使用FPGA的可重編程功能，它和LabVIEW之間的自動(dòng)化接口以及CAN分析儀功能，我們可以很容易地開(kāi)發(fā)我們的系統。

　　在整個(gè)框架上，我們節省了大量的時(shí)間和成本。在此之前，對于微控制器的每個(gè)模塊/外設，測試十至二十個(gè)案例我們需要花費四至五個(gè)小時(shí)。使用我們所創(chuàng )建的基于NI產(chǎn)品的系統，相同的一組測試執行時(shí)間在十到十五分鐘內，而且測試質(zhì)量顯著(zhù)地提高。

　　我們需要合適的測試平臺應用程序以測試微控制器的不同外設。比如，為了測試SPI接口，我們需要建立SPI主機或者從機作為測試平臺。我們使用LabVIEWFPGAVIs（CAN接口的CANVI）來(lái)創(chuàng )建每個(gè)測試平臺?？蚣軆葴y試案例構造則是指各自的VI。

　　在框架中，我們可以創(chuàng )建一個(gè)LabVIEW對象以獲取VI引用，對于每個(gè)測試案例的需求，都為用戶(hù)配置了輸入控件和顯示控件。執行自動(dòng)化框架中的測試案例，需要調用特定的VI，配置該VI，最后運行它。

　　該框架無(wú)需用戶(hù)參與就可以執行測試。比如，測量PWM信號的解決方案如下：VI測量占空比和信號頻率，然后將其保存到Excel文件中。

　　另一種解決方案涉及從SPI主機接收數據。作為從機SPI的VI可以從主機測試設備（DUT）中接收數據。SPI從機工作在不同的波特率和變化的數據比特下。用戶(hù)可以配置VI,而其運行取決于測試設備(DUT)的主SPI的配置。

　　然而，還有一種解決方案涉及產(chǎn)生所需的脈沖個(gè)數以測試捕獲和計數模塊。VI可以產(chǎn)生在上升沿或者下降沿觸發(fā)的脈沖。在VI運行時(shí)，用戶(hù)可以配置VI以產(chǎn)生所需個(gè)數的脈沖。

　　結論

　　使用NI公司的產(chǎn)品，我們可以使用一套軟硬件解決方案，輕而易舉地測試不同的微控制器外設。我們使用NI的產(chǎn)品，通過(guò)向自動(dòng)化框架提供易用的接口，使我們的測試系統自動(dòng)化，這樣節省了大量的精力和成本。